标准适用范围
JY/T 0587-2020 多晶体 X 射线衍射方法通则介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
质量控制
依据JY/T 0587-2020校准角度与强度，采集规定范围衍射图谱并完成峰检索和物相判定
水垢、沉积物、结晶异物和无机固体物相技术项目
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样
标准技术要求 + 检测条件记录
辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成
项目技术要点
标准用途
JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》用于多晶体X射线衍射分析。标准在分析服务中对应水垢、沉积物、结晶异物和无机固体物相技术项目，方法记录直接关联样品编号、设备参数、原始数据和报告结果。
关联分析项目
- [成分、结构、形貌与性能联合分析](/services/analysis/method-development/multi-method-analysis-strategy/combined-composition-structure-morphology-and-performance-analysis)：成分、结构、形貌与性能联合分析采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为关联技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [物相、表面与热分析数据关联解析](/services/analysis/data-interpretation/spectral-chromatographic-and-ms-interpretation/spectral-chromatographic-and-ms-interpretation-phase-surface-and-thermal-ana)：物相、表面与热分析数据关联解析采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为关联技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [光谱色谱质谱与XRD物相关联分析](/services/analysis/data-interpretation/xrd-phase-refinement-and-crystallinity/xrd-phase-refinement-and-crystallinity-spectroscopy-chromatography-and-mass-)：光谱色谱质谱与XRD物相关联分析采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为主要技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [XRD物相精修与结晶综合分析](/services/analysis/data-interpretation/xrd-phase-refinement-and-crystallinity/xrd-phase-refinement-and-crystallinity-phase-surface-and-thermal-analysis-da)：XRD物相精修与结晶综合分析采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为主要技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [显微颗粒三维数据与XRD物相关联](/services/analysis/data-interpretation/xrd-phase-refinement-and-crystallinity/xrd-phase-refinement-and-crystallinity-microscopy-particle-and-3d-data)：显微颗粒三维数据与XRD物相关联采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为主要技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [XRD统计对比与多方法物相证据](/services/analysis/data-interpretation/xrd-phase-refinement-and-crystallinity/xrd-phase-refinement-and-crystallinity-statistics-comparison-and-multi-metho)：XRD统计对比与多方法物相证据采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为主要技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [物相表面热分析与显微组织定量](/services/analysis/data-interpretation/microscopy-and-microstructure-quantification/microscopy-and-microstructure-quantification-phase-surface-and-thermal-analy)：物相表面热分析与显微组织定量采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为关联技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [物相表面热分析的多变量建模](/services/analysis/data-interpretation/statistics-chemometrics-and-multivariate-analysis/statistics-chemometrics-and-multivariate-analysis-phase-surface-and-thermal-)：物相表面热分析的多变量建模采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为关联技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。 - [物相表面热分析证据整合与报告](/services/analysis/data-interpretation/multi-method-evidence-integration-and-technical-reporting/multi-method-evidence-integration-and-technical-reporting-phase-surface-and-)：物相表面热分析证据整合与报告采用JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》开展多晶体X射线衍射分析，作为主要技术方法记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。
适用样品
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样。样品登记包含名称、材料或基质、型号、批次、取样位置、数量、状态和保存条件；对比分析将正常样、异常样、来源样和留样分别编号。
设备与配置
粉末X射线衍射仪、校准标准物质、低背景样品台和物相检索软件。设备记录包含主机、关键附件、校准材料、方法程序和数据系统版本，测量条件与原始文件使用同一项目编号。
实施步骤
依据JY/T 0587-2020校准角度与强度，采集规定范围衍射图谱并完成峰检索和物相判定。实施顺序写入项目记录，样品前处理、测量位置、重复次数和质量控制样与对应数据逐项关联。
原始记录
原始记录包括辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。数据文件保留采集时间、设备状态、方法参数、样品顺序和处理过程；图谱、曲线、图像和计算表通过样品编号相互对应。
适用对象与应用场景
JY/T 0587-2020 多晶体 X 射线衍射方法通则适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- 水垢、沉积物、结晶异物和无机固体物相技术项目
- 研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样
- 依据JY/T 0587-2020校准角度与强度，采集规定范围衍射图谱并完成峰检索和物相判定
- 辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样
- 02
成分、结构、形貌与性能联合分析、物相、表面与热分析数据关联解析、光谱色谱质谱与XRD物相关联分析、XRD物相精修与结晶综合分析、显微颗粒三维数据与XRD物相关联所涉及的代表性样品、对照样和质量控制样
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
JY/T 0587-2020 多晶体 X 射线衍射方法通则项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成、取样制样、仪器校准、扫描条件、衍射图谱、检索依据和物相结果，其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
质量控制
依据JY/T 0587-2020校准角度与强度，采集规定范围衍射图谱并完成峰检索和物相判定
组织与物相分析
辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成
取样制样、仪器校准、扫描条件、衍射图谱、检索依据和物相结果
取样制样、仪器校准、扫描条件、衍射图谱、检索依据和物相结果
标准实施要点
应用场景
JY/T 0587-2020 多晶体 X 射线衍射方法通则覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样
确定执行条件
把质量控制、组织与物相分析落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成、取样制样、仪器校准、扫描条件、衍射图谱、检索依据和物相结果、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
中华人民共和国教育部发布JY/T 0587-2020《多晶体 X 射线衍射方法通则》。
标准编号：JY/T 0587-2020；标准名称：多晶体 X 射线衍射方法通则；发布机构：中华人民共和国教育部；状态：现行。
中华人民共和国教育部标准详情页JY/T 0587-2020规定的技术项目和记录内容。
技术项目：多晶体X射线衍射分析；适用对象：水垢、沉积物、结晶异物和无机固体物相技术项目；数据记录：辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成。
中华人民共和国教育部标准详情页报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01JY/T 0587-2020规定什么内容？
JY/T 0587-2020用于多晶体X射线衍射分析，技术内容包括样品、设备、实施步骤、数据处理和报告记录。 依据JY/T 0587-2020校准角度与强度，采集规定范围衍射图谱并完成峰检索和物相判定
02JY/T 0587-2020适用哪些样品？
研细均匀铺展并带有空白或参比物质的多晶粉末试样，样品编号与前处理、测量位置和原始数据逐项对应。 试样和设备配置为粉末X射线衍射仪、校准标准物质、低背景样品台和物相检索软件。
03JY/T 0587-2020记录哪些数据？
项目记录辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成，并保留采集参数、质量控制结果和数据处理过程。 实施过程为依据JY/T 0587-2020校准角度与强度，采集规定范围衍射图谱并完成峰检索和物相判定。
04JY/T 0587-2020报告包含哪些内容？
报告包含取样制样、仪器校准、扫描条件、衍射图谱、检索依据和物相结果，结果表与样品编号、方法条件及原始记录相互对应。 报告将辐射源、扫描范围和步长、原始衍射图谱、峰位强度、匹配卡片和物相组成与样品编号、方法条件和质量控制记录对应。