检测范围
XRD位置扫描与相分布主要检测位置扫描、微区物相，服务对象包括位置扫描：按预设步距逐点采集衍射数据、微区物相：在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
位置扫描
按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，采集区域：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力。
位置扫描：按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，结果用于生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区
微区物相：在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，检索主要晶相并区分周围基体，测量位置按以下方式布置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
样品、目标参数和报告用途
样品形式：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品
XRD位置扫描与相分布检测报告 + 检测数据与图表
XRD位置扫描与相分布技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 把目标界面或异常路径转换为带编号的扫描坐标；2. 设置光斑、步距、曝光和统一的衍射角范围；3. 逐点采集衍射谱或劳厄图并穿插位置复核；4. 完成位置配准、相匹配和峰参数批量提取；5. 生成相强度、峰位、峰宽或取向的空间分布图
坐标配准
显微照片、载物台坐标和衍射测点使用同一编号，报告图中标出光斑实际覆盖区域，样品资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
束斑混合
目标小于束斑时结果包含周围基体贡献，采用基体对照谱区分重叠信号，测量位置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力。
晶粒效应
少数晶粒可能造成强度不具粉末统计意义，微区结果以相识别和位置差异为主要表达，对照数据：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化。
损伤控制
对热敏、辐照敏感或极薄样品采用短曝光和分区采集，保留曝光序列，结果解释：相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
适用产品与样品
XRD位置扫描与相分布适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 位置扫描：按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，结果用于生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区
- 微区物相：在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，检索主要晶相并区分周围基体，测量位置按以下方式布置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
- 检测对象：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品
- 测量位置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
- 数据判读：生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品
- 02
制样与装夹：在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致
- 03
随样资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号
- 04
对照样品：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化
- 05
位置记录：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
样品形式：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
XRD位置扫描与相分布列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供XRD位置扫描与相分布技术报告及主要结论、扫描路径图、逐点原始数据、相分布或取向分布及界面位置标注，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
位置扫描
按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，采集区域：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力。
微区物相
在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，检索主要晶相并区分周围基体，对照组合：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化。
薄层与界面
采用微束和低背景装样观察局部涂层、反应层及界面产物的晶相差异，样品资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
劳厄取向
对白光劳厄斑点完成索引，获得单晶或大晶粒的取向矩阵和晶向偏差，数据判读：相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
坐标配准
显微照片、载物台坐标和衍射测点使用同一编号，报告图中标出光斑实际覆盖区域，并结合相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕XRD位置扫描与相分布列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品
完成前处理或制样
根据XRD位置扫描与相分布和位置扫描、微区物相的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用XRD位置扫描与相分布按规定参数完成位置扫描、微区物相和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查位置扫描、微区物相对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供XRD位置扫描与相分布技术报告及主要结论、扫描路径图、逐点原始数据、相分布或取向分布及界面位置标注及约定附件。
标准与方法依据
以下列出XRD位置扫描与相分布采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 1 项
报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01XRD位置扫描与相分布的位置扫描会形成哪些数据？
按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区。
02XRD位置扫描与相分布的位置扫描可以分析哪些样品？
具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品，在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致。
03XRD位置扫描与相分布的位置扫描送检前要做好哪些处理？
在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致，记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
04XRD位置扫描与相分布的位置扫描工艺批次如何比较？
沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化，光斑、步长、曝光和物相数据库保持一致。
05XRD位置扫描与相分布的位置扫描测区怎样覆盖样品？
测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力，在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致。
06XRD位置扫描与相分布的位置扫描重复性测量如何安排？
相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率，光斑、步长、曝光和物相数据库保持一致。
07XRD位置扫描与相分布的位置扫描交付内容有哪些？
交付扫描路径图、逐点原始数据、相分布或取向分布及界面位置标注，记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
08XRD位置扫描与相分布的位置扫描如何支持研发分析？
生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区，沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化。