检测范围
粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS采用WAXS开展宽角晶体结构、短程有序、结晶组分和取向特征表征。宽角几何、标准样校准、二维图、q空间转换、径向与方位积分同步记录，交付结构和取向分析附件。
宽角晶体结构测量
通过宽角二维散射执行宽角晶体结构、短程有序、结晶组分和取向特征表征，依据q空间转换、径向和方位积分形成WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布。
对象与条件
分析重点包括宽角晶体结构、短程有序、结晶组分和取向特征表征；宽角二维散射负责保持待测组分或结构状态，之后按既定序列采集。 宽角散射测量中，WAXS覆盖较高q区，宽角峰反映晶格间距、短程有序、晶态比例以及分子或晶体取向；无机材料宽角结构的数据解释建立在该原理之上。 实验条件重点控制：完成空载台和空气散射扣除，二维图作全方位或分扇区积分。 以宽角二维散射表达WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布，几何标准样、空气或基底背景与重复曝光，样品信号、质控信号和处理方法共同保存。 对粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS批次数据进行比较时，固定q转换与方位积分，对照异常样和常规批的宽角峰及取向。
需要注意的限制
粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行 粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS结果物相分析同步记录含量、结晶度、峰重叠、择优取向、荧光背景、样品尺寸和模型；无定形相与低含量相结合互补方法复核。 粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS结果对应实际收到的样品、采用的广角X射线散射 WAXS条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 实验方案首先确定透射或反射几何、q区间、方位零点、基底背景、曝光和积分扇区；从此处连续记录无机材料宽角结构的实验条件；2. 粉末装入毛细管或平板，片状矿物分别采用随机与定向制样；控制样的采集位置写入本批序列表；3. 采集工作按照此顺序推进：二维几何校准后，按空气或基底背景、标准样、定向样和重复曝光采集宽角图；4. 审核基底峰、遮挡、饱和像素、峰形和方位强度，再按q空间转换、径向和方位积分计算WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布；5. 谱图与计算表签发前检查：宽角散射人员复核几何校准、掩膜、背景、径向和方位积分及峰拟合，再形成报告与二维附件
无机材料宽角结构测量原理
分析过程利用：WAXS覆盖较高q区，宽角峰反映晶格间距、短程有序、晶态比例以及分子或晶体取向。
无机材料宽角结构采集参数
完成空载台和空气散射扣除，二维图作全方位或分扇区积分；几何标定、束心、探测器倾角、标准峰位和方位角零点保障二维数据可比。
无机材料宽角结构数据处理
谱图处理过程记录：结果保留二维图、q空间转换、径向与方位积分、峰拟合及背景扣除文件。
无机材料宽角结构试样状态
采用“粉末装入毛细管或平板，片状矿物分别采用随机与定向制样”保持目标状态；距离、束心、探测器倾角、方位和q范围与样品号逐项对应。
适用产品与样品
粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 分析重点包括宽角晶体结构、短程有序、结晶组分和取向特征表征；宽角二维散射负责保持待测组分或结构状态，之后按既定序列采集。
- 宽角散射测量中，WAXS覆盖较高q区，宽角峰反映晶格间距、短程有序、晶态比例以及分子或晶体取向；无机材料宽角结构的数据解释建立在该原理之上。
- 实验条件重点控制：完成空载台和空气散射扣除，二维图作全方位或分扇区积分。
- 以宽角二维散射表达WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布，几何标准样、空气或基底背景与重复曝光，样品信号、质控信号和处理方法共同保存。
- 对粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS批次数据进行比较时，固定q转换与方位积分，对照异常样和常规批的宽角峰及取向。
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
制样步骤为：粉末装入毛细管或平板，片状矿物分别采用随机与定向制样。
- 02
制样单登记材料相态、厚度、基底、加工或拉伸方向、热历史和预期宽角峰。
- 03
质量记录覆盖：独立制备透射片或反射面，空气、空载台、基底和标准样按同一几何采集。
- 04
保存记录注明：样品保持平整与方向标记，敏感电极和功能膜在密封夹具中保存。
制样步骤为：粉末装入毛细管或平板，片状矿物分别采用随机与定向制样。 制样单登记材料相态、厚度、基底、加工或拉伸方向、热历史和预期宽角峰。 质量记录覆盖：独立制备透射片或反射面，空气、空载台、基底和标准样按同一几何采集。 保存记录注明：样品保持平整与方向标记，敏感电极和功能膜在密封夹具中保存。
报告汇总WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布；宽角散射参数包括距离、束心、探测器倾角、方位和q范围，单位写在相应结果项之后。 结果表采用q空间转换、径向和方位积分，并给出平行数据和几何标准样、空气或基底背景与重复曝光；无机材料宽角结构数据与对应试样逐行匹配。 数据附件提供二维宽角图、几何标定、q空间图、径向与方位积分及峰拟合；无机材料宽角结构原始结果保留样品索引。 标准样、空气或基底背景、独立装样、重复曝光和方位积分数据按几何配置记录；无机材料宽角结构质控数据保留运行时序。 电子附件保存二维图、几何标定、q空间转换、径向与方位积分、背景和峰拟合；无机材料宽角结构交付资料区分原图、结果和质控记录。
检测项目
宽角晶体结构测量
通过宽角二维散射执行宽角晶体结构、短程有序、结晶组分和取向特征表征，依据q空间转换、径向和方位积分形成WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布。
无机材料宽角结构前处理
前处理记录结合几何标准样、空气或基底背景与重复曝光，平行样品用于检查制备一致性；操作内容为粉末装入毛细管或平板，片状矿物分别采用随机与定向制样。
无机材料宽角结构WAXS系统适用性
本次采集查看几何标定、束心、探测器倾角、标准峰位和方位角零点保障二维数据可比。
无机材料宽角结构WAXS数据审核
采集信号复核包括：审核基底峰、空气散射、探测器缝隙、饱和像素和方位各向异性，掩膜与原图同步保存。
无机材料宽角结构重复性
批内精密度依据独立装样与重复曝光评价方向和计数稳定性，标准样监控q轴及探测器倾角。
无机材料宽角结构结果关联
以样品履历为索引整理WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布，并根据晶格间距、结晶或取向比较各处理组。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 2 项
报告和检测数据
粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行
粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS结果物相分析同步记录含量、结晶度、峰重叠、择优取向、荧光背景、样品尺寸和模型；无定形相与低含量相结合互补方法复核。
粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS结果对应实际收到的样品、采用的广角X射线散射 WAXS条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS主要输出包含哪些信息？
围绕宽角晶体结构、短程有序、结晶组分和取向特征表征采集宽角二维散射，以WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布，质量控制信息在报告中单列。
02粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS上机前需要完成哪些处理？
试样制备记录覆盖样品厚度、面内方向、基底、测量几何、曝光和积分扇区。
03粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS怎样评价批内重复性？
对照配置：空气或基底背景、几何标准样、定向样和重复曝光依次采集二维宽角图；无机材料宽角结构对照记录与样品号对应。
04粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS哪些信号用于发现设备漂移？
几何标定、束心、探测器倾角、标准峰位和方位角零点保障二维数据可比；无机材料宽角结构系统状态对应到具体样品。
05粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS数据包如何支持重新计算？
结果保留二维图、q空间转换、径向与方位积分、峰拟合及背景扣除文件；无机材料宽角结构计算设置随数据文件保存。
06粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS信号失真时检查哪些环节？
宽角数据异常先查看标准样、基底、遮挡和二维图，再按方向标记重新积分或补充曝光；无机材料宽角结构异常处置保留完整操作记录。
07粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS电子结果包有哪些组成？
附件提供WAXS曲线、d间距、宽角峰、结晶特征和方位分布、二维图、几何标定、q图、积分与峰拟合文件以及质量控制汇总。
08粉末、矿物与无机材料广角X射线散射 WAXS时间序列结果如何对照？
跨批比较固定距离、束心、探测器倾角、方位和q范围，数据按取样顺序连接现场记录。