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检测标准库 · 第 35 页

检测标准库收录服务项目引用的国内外标准,可按标准编号、中文名称或服务领域查询,详情页链接到引用该标准的检测项目。项目由自有实验室检测。

按编号、名称或领域查标准

知道标准号的,直接输入完整编号,例如 GB/T 228.1 或 GB/T 2828.1;只知道检测对象的,输入材料或参数名称,再按服务领域筛选。

委托时写明标准号和年份,实验室按指定版本检测。合同指定旧版本的,按合同版本执行,报告写明所用年份。

方法标准和产品标准

方法标准规定怎样测,例如试样尺寸、加载速率和数据处理;产品标准规定测哪些项目、限值是多少。出具判定结论时,报告同时写明方法标准和判定依据。

标准的发布、实施和替代关系,查发布机构公布的官方信息。工程师受理时核对标准现行状态;标准换版过渡期内,按委托方或认证机构指定的版本检测。

怎样按标准委托

选好标准后,把标准号、年份和要测的条款发给工程师。工程师核对样品是否适用该标准,确定试样数量和周期。需要带 CMA 或 CNAS 标志的报告,按实验室资质页上的证书范围确认。

中见检测持有 CMA、CNAS 证书。常规周期 5–7 个工作日。报告可在报告查询页核验。

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已发布标准资料

2529

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ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologies — Guidance on methods for nano- and microtribology measurements

ISO/TR 11811:2012《Nanotechnologies — Guidance on methods for nano- and microtribology measurements》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层薄膜应力、附着与纳米划痕、半导体、薄膜与电子材料薄膜应力、附着与纳米划痕、电池、电极与催化材料薄膜应力、附着与纳米划痕、高分子、胶黏剂与复合界面薄膜应力、附着与纳米划痕的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO/TR 11811:2012
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ISO/TR 15969:2021 溅射深度剖析的溅射深度测量

ISO/TR 15969:2021《溅射深度剖析的溅射深度测量》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层深度剖析与界面分布、半导体、薄膜与电子材料深度剖析与界面分布、电池、电极与催化材料深度剖析与界面分布、高分子、胶黏剂与复合界面深度剖析与界面分布等8项仪器测试的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO/TR 15969:2021
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JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则

JY/T 0581-2020《透射电子显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布;适用于明场、暗场与选区电子衍射,高分辨晶格像 HRTEM,STEM-EDS与EELS微区分析,以及纳米颗粒、薄膜与界面表征;标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

JY/T 0581-2020
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JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则

JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于聚焦离子束 FIB-SEM项目;对象包括金属组织、断口与缺陷,以及粉末、颗粒与多孔材料;还包括涂层、薄膜与界面,以及电子器件、电池与复合材料;标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

JY/T 0583-2020
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