本页说明
JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布，适用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
适用对象与条件
- JY/T 0583-2020用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。
- JY/T 0583-2020用于粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。
- JY/T 0583-2020用于涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。
- JY/T 0583-2020用于电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。
- 金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM的标准方法实施与数据记录
- 粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM的标准方法实施与数据记录
- 涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM的标准方法实施与数据记录
- 电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM的标准方法实施与数据记录
主要要求与方法
形貌与缺陷观察
JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》在金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM中按具体对象落实方法步骤和技术参数
取样与样品处理
登记样品、制样过程、仪器型号、测量程序和实际采集参数
质量控制
关联校准核查、标准样或对照样、原始图谱、图像、曲线及计算过程
补充质量控制
按JY/T 0583-2020整理质量控制、重复结果、数据处理过程和报告记录
方法、条件与注意事项
标准概况
JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布，适用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
技术应用
- JY/T 0583-2020用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。 - JY/T 0583-2020用于粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。 - JY/T 0583-2020用于涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。 - JY/T 0583-2020用于电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM的聚焦离子束系统分析方法通则项目实施与数据记录。
相关仪器项目
JY/T 0583-2020关联以下仪器测试项目： - [金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM](/services/instrument-testing/morphology-imaging/focused-ion-beam-sem-fib-sem/focused-ion-beam-sem-fib-sem-metal-microstructure-fracture-and-defects) - [粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM](/services/instrument-testing/morphology-imaging/focused-ion-beam-sem-fib-sem/focused-ion-beam-sem-fib-sem-powders-particles-and-porous-materials) - [涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM](/services/instrument-testing/morphology-imaging/focused-ion-beam-sem-fib-sem/focused-ion-beam-sem-fib-sem-coatings-films-and-interfaces) - [电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM](/services/instrument-testing/morphology-imaging/focused-ion-beam-sem-fib-sem/focused-ion-beam-sem-fib-sem-electronics-batteries-and-composites)
方法实施与原始记录
金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM按JY/T 0583-2020记录样品与制样信息、仪器型号、测量程序、实际采集参数、校准核查、原始数据和计算结果。
样品与项目信息
提交样品名称、材质或组成、型号、批次、数量、取样位置和报告用途；标明JY/T 0583-2020项目的待测参数、样品状态和已有技术资料；按聚焦离子束系统分析方法通则对应对象完成样品包装、标识、保存和运输；将样品编号与批次、取样位置、前处理记录和报告用途逐项对应。样品编号与测量位置、前处理过程、批次和原始记录保持对应。
数据与质量控制
聚焦离子束系统分析方法通则的数据质量控制围绕金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM展开：光谱、图像、曲线或数值结果分别归档，并按JY/T 0583-2020关联仪器状态、校准核查、标准样、平行样、重复结果和项目原始数据。
报告与交付
JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》实施信息与金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM实测结果；样品信息、仪器条件、测量参数和质量控制记录；原始光谱、图像、曲线或数值结果及报告结论；JY/T 0583-2020项目的数据处理、重复结果和标准应用记录。报告标明JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》、实际仪器项目、样品信息、方法条件和实测结果。
官方来源
全国标准信息公共服务平台发布了JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》，[查看该标准的官方发布记录](https://std.samr.gov.cn/hb/search/stdHBDetailed?id=B2CF06465CE6AED2E05397BE0A0A7DD8)。
需要结合哪些资料
- JY/T 0583-2020对应的代表性样品、批次样品和指定测量位置；金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM对应的代表性样品、平行样、对照样和项目资料
参考依据与来源
JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布。
标准编号：JY/T 0583-2020；标准名称：聚焦离子束系统分析方法通则；发布机构：全国标准信息公共服务平台。
全国标准信息公共服务平台结果怎样使用
- JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》实施信息与金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM实测结果
- 样品信息、仪器条件、测量参数和质量控制记录
- 原始光谱、图像、曲线或数值结果及报告结论
- JY/T 0583-2020项目的数据处理、重复结果和标准应用记录
使用结果时需要结合的事项
- 金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM的方法实施记录；聚焦离子束系统分析方法通则对应的研发与质量控制；JY/T 0583-2020项目的批次比较与结果复核
标准使用常见问题
01JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则包括哪些检测内容？
JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则的主要内容包括JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》在金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM中按具体对象落实方法步骤和技术参数。 JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则项目表按样品形态、目标参数和报告用途列出测量项目、测试条件、重复次数、质量控制及数据处理要求。
02JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则需要提供哪些样品和资料？
送样包括JY/T 0583-2020对应的代表性样品、批次样品和指定测量位置，并按批次、状态和取样位置分别编号。 JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则样品清单标明名称、型号、批次、取样位置、数量、状态、保存条件和处理历史，对比项目同时提交正常样、异常样或不同批次样。
03JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则采用什么标准和方法？
主要依据为JY/T 0583-2020，检测方法包括JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》在金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM中按具体对象落实方法步骤和技术参数。 JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则委托确认单记录标准编号、版本、产品规范、样品条件和判定要求，多种方法联合使用时分别记录原始数据和质量控制。
04JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则报告包含哪些内容？
主要交付JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》实施信息与金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM实测结果，内容包含样品、方法、数据和判定依据。 JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则报告列明样品、方法、条件、实测数据、计算结果和判定依据，可用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM的方法实施记录，图谱、照片、原始数据或英文信息按委托要求附入。