标准适用范围
ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
形貌与缺陷观察
按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态
扫描电镜定量测量能力核查
分辨率、倍率和测量能力核查用参考样
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
分辨率、倍率和测量能力核查用参考样
标准技术要求 + 检测条件记录
保存参考图像、测量值、偏差和核查条件
项目技术要点
标准用途
ISO/TS 21383:2021规定了扫描电镜定量测量能力核查的技术内容，官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段，并链接国际标准化组织发布记录。
适用项目
- [电池充放电过程环境扫描电镜与原位SEM](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/environmental-and-in-situ-sem/environmental-and-in-situ-sem-battery-charge-discharge-processes)：电池充放电过程环境扫描电镜与原位SEM中的对应子项按ISO/TS 21383:2021确认扫描电子显微镜用于定量测量时的分辨能力、倍率和仪器状态。 - [催化与化学反应过程环境扫描电镜与原位SEM](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/environmental-and-in-situ-sem/environmental-and-in-situ-sem-catalytic-and-chemical-reactions)：催化与化学反应过程环境扫描电镜与原位SEM中的对应子项按ISO/TS 21383:2021确认扫描电子显微镜用于定量测量时的分辨能力、倍率和仪器状态。 - [温度、应力与相变过程环境扫描电镜与原位SEM](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/environmental-and-in-situ-sem/environmental-and-in-situ-sem-temperature-stress-and-phase-transitions)：温度、应力与相变过程环境扫描电镜与原位SEM中的对应子项按ISO/TS 21383:2021确认扫描电子显微镜用于定量测量时的分辨能力、倍率和仪器状态。 - [三维、原位与多方法联合环境扫描电镜与原位SEM](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/environmental-and-in-situ-sem/environmental-and-in-situ-sem-3d-in-situ-and-correlative-methods)：三维、原位与多方法联合环境扫描电镜与原位SEM中的对应子项按ISO/TS 21383:2021确认扫描电子显微镜用于定量测量时的分辨能力、倍率和仪器状态。
适用样品
分辨率、倍率和测量能力核查用参考样
设备与配置
扫描电子显微镜、参考材料和图像测量软件
实施步骤
按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态
原始记录
ISO/TS 21383:2021项目记录以样品编号为索引，写明分辨率、倍率和测量能力核查用参考样的名称、批次、状态和测量位置。设备记录列出扫描电子显微镜、参考材料和图像测量软件的主机、附件、程序和工作参数；实施记录按时间顺序保存按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态形成的原始读数、图谱或图像。
适用对象与应用场景
ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- 扫描电镜定量测量能力核查
- 分辨率、倍率和测量能力核查用参考样
- 按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态
- 保存参考图像、测量值、偏差和核查条件
- 报告设备配置、参考材料、核查项目与结果
- 电池充放电过程环境扫描电镜与原位SEM对应的标准子项
- 催化与化学反应过程环境扫描电镜与原位SEM对应的标准子项
- 温度、应力与相变过程环境扫描电镜与原位SEM对应的标准子项
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
分辨率、倍率和测量能力核查用参考样
- 02
电池充放电过程环境扫描电镜与原位SEM、催化与化学反应过程环境扫描电镜与原位SEM、温度、应力与相变过程环境扫描电镜与原位SEM、三维、原位与多方法联合环境扫描电镜与原位SEM项目使用的代表性试样和质量控制样
分辨率、倍率和测量能力核查用参考样。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供保存参考图像、测量值、偏差和核查条件、报告设备配置、参考材料、核查项目与结果，其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
形貌与缺陷观察
按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态
保存参考图像、测量值、偏差和核查条件
保存参考图像、测量值、偏差和核查条件
结果与交付要求
报告设备配置、参考材料、核查项目与结果
标准实施要点
应用场景
ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
分辨率、倍率和测量能力核查用参考样
确定执行条件
把形貌与缺陷观察、保存参考图像、测量值、偏差和核查条件落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供保存参考图像、测量值、偏差和核查条件、报告设备配置、参考材料、核查项目与结果、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
以下列出ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 1 项
国际标准化组织发布ISO/TS 21383:2021《Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements》。
标准编号：ISO/TS 21383:2021；标准名称：Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements；发布机构：国际标准化组织。
国际标准化组织报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements包括哪些检测内容？
ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements的主要内容包括按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态。 ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements项目表按样品形态、目标参数和报告用途列出测量项目、测试条件、重复次数、质量控制及数据处理要求。
02ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements需要提供哪些样品和资料？
送样包括分辨率、倍率和测量能力核查用参考样，并按批次、状态和取样位置分别编号。 ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements样品清单标明名称、型号、批次、取样位置、数量、状态、保存条件和处理历史，对比项目同时提交正常样、异常样或不同批次样。
03ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements采用什么标准和方法？
主要依据为ISO/TS 21383:2021，检测方法包括按定量任务核查图像分辨能力、倍率、像素尺度和设备状态。 ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements委托项目单记录标准编号、版本、产品规范、样品条件和判定要求，多种方法联合使用时分别记录原始数据和质量控制。
04ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements报告包含哪些内容？
主要交付保存参考图像、测量值、偏差和核查条件，内容包含样品、方法、数据和判定依据。 ISO/TS 21383:2021 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements报告列明样品、方法、条件、实测数据、计算结果和判定依据，可用于电池充放电过程环境扫描电镜与原位SEM、催化与化学反应过程环境扫描电镜与原位SEM、温度、应力与相变过程环境扫描电镜与原位SEM、三维、原位与多方法联合环境扫描电镜与原位SEM研发与验证，图谱、照片、原始数据或英文信息按委托要求附入。