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检测标准库 · 第 30 页

中见检测由自有实验室提供相关检测、测试与分析。标准库按编号、名称和业务领域查找国内外技术资料;执行前核对完整版本、适用对象、方法条件与判定依据,目录记录不是全部必测项目或带标报告承诺。

知道编号就搜编号,不知道就先搜对象

可以输入完整标准号、中文名称、材料或关注参数,再按服务领域缩小范围。目录同时整理国内外技术文件;编号相近或名称相似,不意味着对象、条件和结果口径相同。

我们可按客户指定依据安排相关检测,也可结合实际问题讨论项目。执行前核对完整版本、适用范围、样品要求和所需条件;客户或合同指定旧版本时,说明使用时点与依据,不静默换成年份较新的文件。

怎么测和怎么判,不能混成一个依据

试验方法说明如何得到数据,产品要求、限值或合同条件说明如何评价。管理文件、方法资料和数据来源也各有用途;查到一份文件,不代表其中所有内容都属于同一次检测任务。

标准题名与公开范围可以帮助定位资料,不能代替完整方法、条款和质量控制要求。目录页的修订日期只是本站内容整理时间,标准的发布、实施、复审与替代关系应查看发布机构资料并按项目核对。

目录是查询入口,不是全套检测清单

不是列出的每个标准都必须测试,也不能把一个方法记录当作所有样品和工况的统一判定依据。报告用途、当前版本和CMA/CNAS标志使用分别确认;技术资料整理不等于已阅读全部标准全文或完成全部版本状态核验。

网站列示的检测、测试与分析由自有实验室完成;我们按客户的问题、样品和结果用途安排具体项目。

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ISO 24639:2022 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Calibration procedure of energy scale for elemental analysis by electron energy loss spectroscopy

ISO 24639:2022《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Calibration procedure of energy scale for elemental analysis by electron energy loss spectroscopy》由国际标准化组织发布,适用于STEM-EDS与EELS微区分析,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 24639:2022
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ISO 25178-2:2021 面形貌 术语、定义与表面纹理参数

ISO 25178-2:2021《面形貌 术语、定义与表面纹理参数》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层台阶仪与表面轮廓、半导体、薄膜与电子材料台阶仪与表面轮廓、电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓、高分子、胶黏剂与复合界面台阶仪与表面轮廓的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO 25178-2:2021
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ISO 25178-600:2019 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 600: Metrological characteristics for areal topography measuring methods

ISO 25178-600:2019《Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 600: Metrological characteristics for areal topography measuring methods》由国际标准化组织发布,适用于三维表面粗糙度与形貌、台阶高度、膜厚与沟槽深度、磨损体积与材料损失、翘曲、平面度与波纹度等5项仪器测试,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 25178-600:2019
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ISO 25178-601:2025 面形貌 接触式触针仪器的设计与特性

ISO 25178-601:2025《面形貌 接触式触针仪器的设计与特性》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层台阶仪与表面轮廓、半导体、薄膜与电子材料台阶仪与表面轮廓、电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓、高分子、胶黏剂与复合界面台阶仪与表面轮廓的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO 25178-601:2025
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ISO 25178-604:2025 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 604: Design and characteristics of non-contact (coherence scanning interferometry) instruments

ISO 25178-604:2025《Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 604: Design and characteristics of non-contact (coherence scanning interferometry) instruments》由国际标准化组织发布,适用于三维表面粗糙度与形貌、台阶高度、膜厚与沟槽深度、磨损体积与材料损失、翘曲、平面度与波纹度,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 25178-604:2025
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ISO 25178-606:2026 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 606: Design and characteristics of non-contact (focus variation) instruments

ISO 25178-606:2026《Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 606: Design and characteristics of non-contact (focus variation) instruments》由国际标准化组织发布,适用于三维景深合成与表面观察,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 25178-606:2026
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ISO 25178-700:2022 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 700: Calibration, adjustment and verification of areal topography measuring instruments

ISO 25178-700:2022《Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 700: Calibration, adjustment and verification of areal topography measuring instruments》由国际标准化组织发布,适用于三维表面粗糙度与形貌、台阶高度、膜厚与沟槽深度、磨损体积与材料损失、翘曲、平面度与波纹度等5项仪器测试,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 25178-700:2022
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ISO 25387:2026 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope

ISO 25387:2026《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope》由国际标准化组织发布,适用于高分辨晶格像 HRTEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 25387:2026
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ISO 25498:2025 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

ISO 25498:2025《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope》由国际标准化组织发布,适用于明场、暗场与选区电子衍射,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 25498:2025
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ISO 29301:2023 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures

ISO 29301:2023《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures》由国际标准化组织发布,适用于高分辨晶格像 HRTEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 29301:2023
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