ISO 24639:2022《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Calibration procedure of energy scale for elemental analysis by electron energy loss spectroscopy》由国际标准化组织发布,适用于STEM-EDS与EELS微区分析,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 25178-606:2026《Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 606: Design and characteristics of non-contact (focus variation) instruments》由国际标准化组织发布,适用于三维景深合成与表面观察,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 25387:2026《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope》由国际标准化组织发布,适用于高分辨晶格像 HRTEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 25498:2025《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope》由国际标准化组织发布,适用于明场、暗场与选区电子衍射,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 28600:2011《Surface chemical analysis — Data transfer format for scanning-probe microscopy》由国际标准化组织发布,本站将其用于材料功函数与接触电势差、半导体表面电势与均匀性、涂层、氧化层与腐蚀电位分布、光照与气氛下功函数变化的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO 29301:2023《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures》由国际标准化组织发布,适用于高分辨晶格像 HRTEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 29463-3:2011《High-efficiency filters and filter media for removing particles in air — Part 3: Testing flat sheet filter media》由国际标准化组织发布,本站将其用于滤材分级效率与穿透粒径的方法实施、数据记录和结果表达。