JY/T 0583-2020 聚焦离子束系统分析方法通则
JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
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查看完整内容JY/T 0584-2020《扫描电子显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于二次电子形貌成像 SE、背散射电子成分衬度 BSE、EDS点扫、线扫与面扫、断面、颗粒与失效位置微区分析等8项仪器测试,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容JY/T 0585-2020《金相显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金相组织与晶粒度、非金属夹杂物与脱碳层、涂镀层、截面与缺陷观察、偏光、荧光与体视显微,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容JY/T 0586-2020《激光扫描共聚焦显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金属组织、断口与缺陷激光共聚焦与三维显微镜、粉末、颗粒与多孔材料激光共聚焦与三维显微镜、涂层、薄膜与界面激光共聚焦与三维显微镜、电子器件、电池与复合材料激光共聚焦与三维显微镜,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容US EPA SW-846 Method 3051A规定了微波辅助酸消解的技术内容,官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段,并链接美国环境保护署发布记录。
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