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ISO 17294-1:2024规定了水质ICP-MS通用要求的技术内容。本页整理适用样品、设备、实施步骤、原始记录、数据处理和报告字段，并链接International Organization for Standardization标准详情页。
查看完整内容ISO 17294-2:2023规定了水质中选定元素ICP-MS测定的技术内容。本页整理适用样品、设备、实施步骤、原始记录、数据处理和报告字段，并链接International Organization for Standardization标准详情页。
查看完整内容ISO 17297:2025规定了聚焦离子束制备透射电镜试样术语的技术内容，官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段，并链接国际标准化组织发布记录。
查看完整内容ISO 18115-1:2023《Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy》由国际标准化组织发布，本站将其用于RBS薄膜成分与面密度、ERDA氢与轻元素深度分布、NRA核反应元素定量、多层膜厚度、组分与界面分析等8项仪器测试的方法实施、数据记录和结果表达。
查看完整内容ISO 18115-2:2021《Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy》由国际标准化组织发布，本站将其用于材料功函数与接触电势差、半导体表面电势与均匀性、涂层、氧化层与腐蚀电位分布、光照与气氛下功函数变化的方法实施、数据记录和结果表达。
查看完整内容ISO 18221:2025《Microscopes — Microscopes with digital imaging displays — Information provided to the user regarding imaging performance》由国际标准化组织发布，适用于二维尺寸与几何测量、批次外观比对与图像留档，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容ISO 19214:2024《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy》由国际标准化组织发布，适用于纳米颗粒、薄膜与界面表征，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容ISO 19318:2021《Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction》由国际标准化组织发布，适用于XPS全谱与元素定性、高分辨谱与化学价态、氩离子刻蚀深度剖析、角分辨、原位与界面XPS，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容ISO 19668:2017《Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials》由国际标准化组织发布，适用于XPS全谱与元素定性、高分辨谱与化学价态、氩离子刻蚀深度剖析、角分辨、原位与界面XPS，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容ISO 20263:2024《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials》由国际标准化组织发布，适用于纳米颗粒、薄膜与界面表征，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容ISO 20502:2005《Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of adhesion of ceramic coatings by scratch testing》由国际标准化组织发布，本站将其用于金属表面与防护涂层薄膜应力、附着与纳米划痕、半导体、薄膜与电子材料薄膜应力、附着与纳米划痕的方法实施、数据记录和结果表达。
查看完整内容ISO 20579-2:2025《表面化学分析样品处理、制备与装载记录》由国际标准化组织发布，本站将其用于RBS薄膜成分与面密度、ERDA氢与轻元素深度分布、NRA核反应元素定量、多层膜厚度、组分与界面分析等12项仪器测试的方法实施、数据记录和结果表达。
查看完整内容ISO 20903:2019《Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results》由国际标准化组织发布，适用于XPS全谱与元素定性、高分辨谱与化学价态、氩离子刻蚀深度剖析、角分辨、原位与界面XPS等8项仪器测试，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容ISO 21363:2020《Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy》由国际标准化组织发布，适用于纳米颗粒、薄膜与界面表征，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
查看完整内容《Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of densification properties of ceramic powders on natural sintering》（ISO 21821:2019）由国际标准化组织发布。
查看完整内容ISO 22029:2022规定了微束分析光谱数据交换的技术内容，官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段，并链接国际标准化组织发布记录。
查看完整内容ISO 22557:2019的正式名称为《Paints and varnishes — Scratch test using a spring-loaded pen》。
查看完整内容ISO 23420:2021《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis》由国际标准化组织发布，适用于STEM-EDS与EELS微区分析，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
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