国际电工委员会发布了IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》。
IEC TR 63258:2021《Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films》由国际电工委员会发布,适用于金属表面与防护涂层椭偏与光学膜厚、半导体、薄膜与电子材料椭偏与光学膜厚,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》(IEC TS 62607-3-3:2020)由国际电工委员会发布。
ISO 11357-4:2021《Plastics — Differential scanning calorimetry (DSC) — Part 4: Determination of specific heat capacity》由国际标准化组织发布,本站将其用于调制DSC与比热容的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO 11357-5:2025《Plastics — Differential scanning calorimetry (DSC) — Part 5: Determination of characteristic reaction-curve temperatures and times, enthalpy of reaction and degree of conversion》由国际标准化组织发布,本站将其用于DSC固化反应与反应焓分析的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO 11358-2:2021《Plastics — Thermogravimetry (TG) of polymers — Part 2: Determination of activation energy》由国际标准化组织发布,本站将其用于动力学、活化能与寿命外推的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO 11358-3:2021《Plastics — Thermogravimetry (TG) of polymers — Part 3: Determination of the activation energy using the Ozawa-Friedman plot and analysis of the reaction kinetics》由国际标准化组织发布,本站将其用于动力学、活化能与寿命外推的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO 11775:2015《Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Determination of cantilever normal spring constants》由国际标准化组织发布,适用于金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM、粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM、涂层、薄膜与界面原子力显微镜 AFM、电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 12154:2014《Determination of density by volumetric displacement — Skeleton density by gas pycnometry》由国际标准化组织发布,本站将其用于粉体与颗粒材料真密度、堆积密度与振实密度、多孔、吸附与催化材料真密度、堆积密度与振实密度、电池、药物与功能粉体真密度、堆积密度与振实密度的方法实施、数据记录和结果表达。