中见检测
CMAILAC-MRACNAS
中文/EN
全国服务热线400-889-2690
客户服务热线400-889-2690

STANDARDS LIBRARY

检测标准库 · 第 26 页

中见检测由自有实验室提供相关检测、测试与分析。标准库按编号、名称和业务领域查找国内外技术资料；执行前核对完整版本、适用对象、方法条件与判定依据，目录记录不是全部必测项目或带标报告承诺。
检测标准库检测知识库送检指南

知道编号就搜编号，不知道就先搜对象

可以输入完整标准号、中文名称、材料或关注参数，再按服务领域缩小范围。目录同时整理国内外技术文件；编号相近或名称相似，不意味着对象、条件和结果口径相同。

我们可按客户指定依据安排相关检测，也可结合实际问题讨论项目。执行前核对完整版本、适用范围、样品要求和所需条件；客户或合同指定旧版本时，说明使用时点与依据，不静默换成年份较新的文件。

怎么测和怎么判，不能混成一个依据

试验方法说明如何得到数据，产品要求、限值或合同条件说明如何评价。管理文件、方法资料和数据来源也各有用途；查到一份文件，不代表其中所有内容都属于同一次检测任务。

标准题名与公开范围可以帮助定位资料，不能代替完整方法、条款和质量控制要求。目录页的修订日期只是本站内容整理时间，标准的发布、实施、复审与替代关系应查看发布机构资料并按项目核对。

目录是查询入口，不是全套检测清单

不是列出的每个标准都必须测试，也不能把一个方法记录当作所有样品和工况的统一判定依据。报告用途、当前版本和CMA/CNAS标志使用分别确认；技术资料整理不等于已阅读全部标准全文或完成全部版本状态核验。

网站列示的检测、测试与分析由自有实验室完成；我们按客户的问题、样品和结果用途安排具体项目。

目录内容修订 ·

STANDARDS DIRECTORY

检测标准分类目录

按行业解决方案、检验、测试、仪器测试、分析和认证六类浏览国内外标准详情。
进入标准分类目录
全部 2574检验服务 182测试服务 1423仪器测试 366分析服务 204认证服务 399

已发布标准资料

2574

按更新日期浏览全部标准资料，点击标题查看完整内容和相关服务。

462仪器测试

IEC 60749-35:2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

IEC 60749-35:2006《Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components》由国际电工委员会发布，适用于芯片封装分层与空洞检测、粘接界面与焊点声学成像、器件进水、气泡与内部缺陷、封装失效定位与批次筛查，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

IEC 60749-35:2006
查看完整内容

RELATED SERVICES

按服务查找检测项目

从服务主目录进入产品、材料、项目和仪器的完整分类。