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ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary

ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary规定聚焦离子束制备透射电镜试样术语相关的实施要求,内容包括按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤;项目交付保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像。

ISO 17297:2025
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