标准适用范围
GB/Z 26082-2010 纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
主要检测内容
半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。
标准技术要求 + 检测条件记录
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
项目技术要点
标准用途
GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》由全国标准信息公共服务平台发布。
适用项目与测量内容
- [半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-semiconductor-and-optoelectronic-materials)：半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-battery-electrode-and-electronic-materials)：电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-films-coatings-and-transparent-materials)：薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-magnetic-ferroelectric-and-functional-devices)：磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [变温磁化率与居里温度](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/vsm-squid-and-ppms-magnetic-measurements/temperature-dependent-susceptibility-and-curie-temperature)：变温磁化率与居里温度中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
试样、设备与测量步骤
- 在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。
试样与设备
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。
数据处理与结果
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
报告内容
报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果。
适用对象与应用场景
GB/Z 26082-2010 纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- 半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 变温磁化率与居里温度中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能的适用试样与测量对象
- 电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能的适用试样与测量对象
- 薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能的适用试样与测量对象
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。
- 02
半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能、电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能、薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能、磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能等5项仪器测试项目的批次试样、测量位置和对照样
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器等。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
GB/Z 26082-2010 纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率、报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果。其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
主要检测内容
半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
测试方法与条件
电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
环境与可靠性
在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
尺寸与表面测量
试样状态、形状、尺寸和数量
测点方向、位置和重复次数
测点方向、位置和重复次数
标准实施要点
应用场景
GB/Z 26082-2010 纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。
确定执行条件
把主要检测内容、测试方法与条件落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率、报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》由全国标准信息公共服务平台发布。
标准编号：GB/Z 26082-2010；标准名称：纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法；发布机构：全国标准信息公共服务平台。
全国标准信息公共服务平台报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01GB/Z 26082-2010适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。 纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。
02GB/Z 26082-2010如何准备试样和设备？
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。 直流磁化率系统记录磁强计、样品杆、磁场线圈、温控、背景校正和质量计量。
03GB/Z 26082-2010怎样实施测量和处理数据？
在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。 保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
04GB/Z 26082-2010报告包含哪些内容？
报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果。 保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。