本页说明
GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》由全国标准信息公共服务平台发布。
适用对象与条件
- 半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 变温磁化率与居里温度中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
- 半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能的适用试样与测量对象
- 电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能的适用试样与测量对象
- 薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能的适用试样与测量对象
主要要求与方法
主要检测内容
半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
测试方法与条件
电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
环境与可靠性
在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
尺寸与表面测量
试样状态、形状、尺寸和数量
测点方向、位置和重复次数
测点方向、位置和重复次数
方法、条件与注意事项
标准用途
GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》由全国标准信息公共服务平台发布。 该文件规定的实施过程为：在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。
适用项目与测量内容
- [半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-semiconductor-and-optoelectronic-materials)：半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-battery-electrode-and-electronic-materials)：电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-films-coatings-and-transparent-materials)：薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/magnetic-hysteresis-and-moment/magnetic-hysteresis-and-moment-magnetic-ferroelectric-and-functional-devices)：磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。 - [变温磁化率与居里温度](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/vsm-squid-and-ppms-magnetic-measurements/temperature-dependent-susceptibility-and-curie-temperature)：变温磁化率与居里温度中的纳米磁性材料直流磁化率和磁矩子项按该标准实施测量。
试样、设备与测量步骤
- 在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。
试样与设备
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。 直流磁化率系统记录磁强计、样品杆、磁场线圈、温控、背景校正和质量计量。
数据处理与结果
保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
报告内容
报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果。
官方来源
全国标准信息公共服务平台发布了GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》，[查看官方发布记录](https://openstd.samr.gov.cn/bzgk/std/newGbInfo?hcno=AEA707DA54E17E9FF27AD38AE9DF5378)。
需要结合哪些资料
- 纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态；半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能、电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能、薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能、磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能等5项仪器测试项目的批次试样、测量位置和对照样
参考依据与来源
GB/Z 26082-2010《纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法》由全国标准信息公共服务平台发布。
标准编号：GB/Z 26082-2010；标准名称：纳米材料直流磁化率（磁矩）测量方法；发布机构：全国标准信息公共服务平台。
全国标准信息公共服务平台结果怎样使用
- 保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
- 报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果。
- 半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能、电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能、薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能、磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能等5项仪器测试的原始记录、计算表、曲线、图谱和结果表
使用结果时需要结合的事项
- 半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能、电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能、薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能、磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能等5项仪器测试研发与设计；半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能、电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能、薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能、磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能等5项仪器测试批次、材料或工艺比较；半导体与光电材料磁滞回线、磁矩与磁性能、电池、电极与电子材料磁滞回线、磁矩与磁性能、薄膜、涂层与透明材料磁滞回线、磁矩与磁性能、磁性、铁电与功能器件磁滞回线、磁矩与磁性能等5项仪器测试质量控制和技术报告
标准使用常见问题
01GB/Z 26082-2010适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。 纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。
02GB/Z 26082-2010如何准备试样和设备？
纳米材料试样记录组成、粒径或形态、质量、容器、取向和背景样状态。 直流磁化率系统记录磁强计、样品杆、磁场线圈、温控、背景校正和质量计量。
03GB/Z 26082-2010怎样实施测量和处理数据？
在规定温度和直流磁场下测量试样磁矩，并扣除容器与背景响应。 保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。
04GB/Z 26082-2010报告包含哪些内容？
报告列出纳米材料状态、质量、磁场温度程序、背景修正及磁矩或磁化率结果。 保留磁场、温度、原始磁矩、背景值、质量归一化结果和直流磁化率。