客户服务热线400-889-2690

仪器分析

粘接界面与焊点声学成像

Bond-interface & Joint Acoustic Imaging

检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞,其中依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比。声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

检测内容
分层与空洞 · C扫描成像
适用对象
分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞 · C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,测量位置按以下方式布置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
方法标准
GB/T 4937.35-2024 · IEC 60749-35:2006
报告交付
粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论 · 粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积
项目受理登记对象、检测目标和报告用途
样品登记登记数量、状态和制样要求
过程质控记录检测条件并审核原始数据
报告交付交付结果、附件和技术说明
01

检测范围

检测范围检测内容与适用对象

粘接界面与焊点声学成像主要检测分层与空洞、C扫描成像,服务对象包括分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞、C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,覆盖来样登记、检测实施和报告交付。

01核心检测项目

分层与空洞

依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,采集区域:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大。

02适用产品与样品

分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞

C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,测量位置按以下方式布置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大

03委托资料与样品

样品、目标参数和报告用途

样品形式:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件

04报告与交付内容

粘接界面与焊点声学成像检测报告 + 检测数据与图表

粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论

技术说明

项目技术要点

实施流程

1. 根据连接层序和厚度确定探头与扫描界面;2. 完成耦合排气、焦点调整和正常位置波形检查;3. 按固定步长采集界面C扫并保存典型A扫;4. 沿异常区域生成B扫,测量未结合或空洞范围;5. 输出界面声学图、波形、面积统计和位置索引

频率选择

高频提升平面分辨率但穿透能力降低,探头按封装厚度和目标界面深度配置,样品资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

闸门设置

每个声程门对应特定界面,门起止位置、检波方式和回波极性随原始波形保存,测量位置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大。

耦合状态

表面气泡、粗糙度和倾斜会形成假缺陷,扫描前排气并检查正常区回波连续性,对照数据:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积。

结构解释

金属、硅、塑封料和胶层的声阻抗差异决定回波,异常图与器件层序共同定位,结果解释:声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

02

适用产品与样品

粘接界面与焊点声学成像适用于以下产品、样品及技术问题。

适用产品与技术问题

  • 分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞
  • C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,测量位置按以下方式布置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
  • 检测对象:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件
  • 测量位置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
  • 数据判读:检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞
03

样品与委托资料

送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。

  1. 01

    样品形式:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件

  2. 02

    制样与装夹:选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门

  3. 03

    随样资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置

  4. 04

    对照样品:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积

  5. 05

    位置记录:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大

所需样品量样品量与制样要求

样品形式:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。

检测周期项目周期与交付日期

粘接界面与焊点声学成像列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期,并同步安排复杂前处理和多模块测试。

报告类型粘接界面与焊点声学成像检测报告 · 检测数据与图表 · 测试条件与质控记录

主要提供粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论、粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积,其他数据和附件在委托单中列明。

实施方式实验室来样检测

收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。

04

检测项目

01

分层与空洞

依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,采集区域:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大。

02

C扫描成像

在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,对照组合:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积。

03

A扫描波形

保存典型正常点和异常点时域回波,用于判断界面顺序、回波极性及异常深度,样品资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

04

B扫描截面

沿目标线生成声学截面,观察分层、空洞或裂纹在厚度方向的位置,数据判读:声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

05

频率选择

高频提升平面分辨率但穿透能力降低,探头按封装厚度和目标界面深度配置,并结合声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

05

检测方法与实施流程

现有设备和检测能力粘接界面与焊点声学成像所需的检测、制样、质量控制和数据分析条件齐备,受理分层与空洞、C扫描成像。
01

检测需求

围绕粘接界面与焊点声学成像列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。

02

样品登记

样品形式:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件

03

完成前处理或制样

根据粘接界面与焊点声学成像和分层与空洞、C扫描成像的测试条件处理样品。

04

完成仪器测试

使用粘接界面与焊点声学成像按规定参数完成分层与空洞、C扫描成像和过程质量控制。

05

复核检测数据

重点检查分层与空洞、C扫描成像对应的图谱、曲线、图像或数据表。

06

交付报告和附件

提供粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论、粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积及约定附件。

06

标准与方法依据

以下列出粘接界面与焊点声学成像采用的正式标准与执行依据,包含标准编号、适用项目和发布来源。

2 项标准共列出 2 项标准与方法。

共 2 项

GB/T 4937.35-2024中国标准半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查GB/T 4937.35-2024用于粘接界面与焊点声学成像中的塑封电子元器件分层、裂纹、空洞和封装内部异常声学成像。国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 · 现行/Published · 查看发布机构来源
IEC 60749-35:2006国际标准Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic componentsIEC 60749-35:2006用于粘接界面与焊点声学成像中的塑封电子元器件分层、裂纹、空洞和封装内部异常声学成像。International Electrotechnical Commission · 现行/Published · 查看发布机构来源
07

报告与交付内容

粘接界面与焊点声学成像检测报告检测数据与图表测试条件与质控记录约定附件
粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论
粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积
原始资料:分层与空洞数据;记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置
位置资料:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
对照资料:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积
常见报告用途
检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞粘接界面与焊点声学成像数据积累:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置复测与取样导航:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大工艺与状态比较:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积
报告与结果说明

报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。

报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。

样品、批次、工况或标准发生变化时,按新条件开展补充检测。

报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本,相关要求可在需求表中注明。
08

常见问题

01粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞能量化哪些参数?

依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞。

02粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞哪些样品材料适合送检?

粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件,选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门。

03粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞装夹前怎样制备样品?

选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门,记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

04粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞对照测量怎么安排?

比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积,探头、焦点、增益、声程门和扫描步长保持一致。

05粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞测点如何编号?

沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大,选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门。

06粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞质量检查包括什么?

声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割,探头、焦点、增益、声程门和扫描步长保持一致。

07粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞报告结果怎样呈现?

粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积,记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

08粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞数据可用于哪些决策?

检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞,比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积。

相关服务

相关分类与其他项目