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仪器分析

粘接界面与焊点声学成像

Bond-interface & Joint Acoustic Imaging

检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞,其中依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比。声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

检测内容
分层与空洞 · C扫描成像
适用对象
分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞 · C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,测量位置按以下方式布置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
方法标准
GB/T 4937.35-2024 · IEC 60749-35:2006
报告交付
粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论 · 粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积
确认检测需求登记对象、检测目标和报告用途
样品登记登记数量、状态和制样要求
检查检测过程记录检测条件并审核原始数据
出具报告交付结果、附件和技术说明
01

检测范围

检测范围检测内容与适用对象

检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞,其中依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比。声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

01项目内容

分层与空洞

依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,采集区域:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大。

02适用情况

对象与条件

分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞 C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,测量位置按以下方式布置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大 检测对象:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件 测量位置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大 数据判读:检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞

03结果解释

需要注意的限制

粘接界面与焊点声学成像结果单个视场对应具体测区,整批和整体结构增加代表性测点;三维结构采用三维方法评价,并记录制样、真空、束流和图像阈值 粘接界面与焊点声学成像结果观察结果与实际取样位置和视场对应;三维结构采用三维方法评价,图像统计同步记录阈值及束流、真空、切割和抛光条件。 粘接界面与焊点声学成像结果对应实际收到的样品、采用的扫描声学显微镜 C-SAM条件和数据处理方法;样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明;整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施

技术说明

检测时需要注意什么

实施流程

1. 根据连接层序和厚度确定探头与扫描界面;2. 完成耦合排气、焦点调整和正常位置波形检查;3. 按固定步长采集界面C扫并保存典型A扫;4. 沿异常区域生成B扫,测量未结合或空洞范围;5. 输出界面声学图、波形、面积统计和位置索引

频率选择

高频提升平面分辨率但穿透能力降低,探头按封装厚度和目标界面深度配置,样品资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

闸门设置

每个声程门对应特定界面,门起止位置、检波方式和回波极性随原始波形保存,测量位置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大。

耦合状态

表面气泡、粗糙度和倾斜会形成假缺陷,扫描前排气并检查正常区回波连续性,对照数据:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积。

结构解释

金属、硅、塑封料和胶层的声阻抗差异决定回波,异常图与器件层序共同定位,结果解释:声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

02

适用产品与样品

粘接界面与焊点声学成像适用于以下产品、样品及技术问题。

适用产品和常见问题

  • 分层与空洞:依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,结果用于检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞
  • C扫描成像:在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,测量位置按以下方式布置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
  • 检测对象:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件
  • 测量位置:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
  • 数据判读:检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞
03

送样前需要准备什么

送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。

  1. 01

    样品形式:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件

  2. 02

    制样与装夹:选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门

  3. 03

    随样资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置

  4. 04

    对照样品:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积

  5. 05

    位置记录:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大

准备资料样品和资料要求

样品形式:粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件 制样与装夹:选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门 随样资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置 对照样品:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积 位置记录:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大

项目结果本页列出的结果内容

粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论 粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积 原始资料:分层与空洞数据;记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置 位置资料:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大 对照资料:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积

04

检测项目

01

分层与空洞

依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,采集区域:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大。

02

C扫描成像

在选定声程门内逐点绘制回波幅度或极性图,展示同一深度界面的缺陷分布,对照组合:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积。

03

A扫描波形

保存典型正常点和异常点时域回波,用于判断界面顺序、回波极性及异常深度,样品资料:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

04

B扫描截面

沿目标线生成声学截面,观察分层、空洞或裂纹在厚度方向的位置,数据判读:声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

05

频率选择

高频提升平面分辨率但穿透能力降低,探头按封装厚度和目标界面深度配置,并结合声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割。

05

检测方法和流程

受理前需要确认什么受理前需确认对象、样品状态、方法适用性和实施条件;具体检测范围、进度与报告要求以双方确认的方案为准。
06

检测标准和方法

以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定,需结合对象、条件和委托要求确认。

2 项标准共列出 2 项标准与方法。

共 2 项

GB/T 4937.35-2024中国标准半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查GB/T 4937.35-2024用于粘接界面与焊点声学成像中的塑封电子元器件分层、裂纹、空洞和封装内部异常声学成像。国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 · 现行/Published · 查看发布机构来源
IEC 60749-35:2006国际标准Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic componentsIEC 60749-35:2006用于粘接界面与焊点声学成像中的塑封电子元器件分层、裂纹、空洞和封装内部异常声学成像。International Electrotechnical Commission · 现行/Published · 查看发布机构来源
07

报告和检测数据

粘接界面与焊点声学成像技术报告及主要结论
粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积
原始资料:分层与空洞数据;记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置
位置资料:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大
对照资料:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积
常见报告用途
检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞粘接界面与焊点声学成像数据积累:记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置复测与取样导航:沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大工艺与状态比较:比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积
检测结果说明

粘接界面与焊点声学成像结果单个视场对应具体测区,整批和整体结构增加代表性测点;三维结构采用三维方法评价,并记录制样、真空、束流和图像阈值

粘接界面与焊点声学成像结果观察结果与实际取样位置和视场对应;三维结构采用三维方法评价,图像统计同步记录阈值及束流、真空、切割和抛光条件。

粘接界面与焊点声学成像结果对应实际收到的样品、采用的扫描声学显微镜 C-SAM条件和数据处理方法;样品或参数改变后按新条件复核可比性

仪器测试交付测量数据和技术说明;整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施

08

常见问题

01粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞能量化哪些参数?

依据强回波、相位反转和连续区域分割界面脱层与内部空洞,统计面积占比,检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞。

02粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞哪些样品材料适合送检?

粘接组件、焊点阵列、胶层、复合界面和密封连接件,选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门。

03粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞装夹前怎样制备样品?

选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门,记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

04粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞对照测量怎么安排?

比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积,探头、焦点、增益、声程门和扫描步长保持一致。

05粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞测点如何编号?

沿粘接边缘、中心和焊点阵列设置相同扫描步长,异常门位另行放大,选择平整声入射面并稳定浸没,按界面深度设置焦点和声程门。

06粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞质量检查包括什么?

声阻抗差决定回波极性,门位与层序图对应后再进行缺陷分割,探头、焦点、增益、声程门和扫描步长保持一致。

07粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞报告结果怎样呈现?

粘接或焊点界面C扫、异常B扫、A扫波形和未结合面积,记录材料层序、胶层或焊点设计、固化或回流条件、批次和异常位置。

08粘接界面与焊点声学成像的分层与空洞数据可用于哪些决策?

检查粘接与焊接界面的连续性,定位未结合、分层和内部空洞,比较不同工艺批次、连接位置或环境处理前后的界面回波与缺陷面积。

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