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ISO/TR 15969:2021 溅射深度剖析的溅射深度测量

ISO/TR 15969:2021 溅射深度剖析的溅射深度测量适用于ISO/TR 15969:2021用于金属表面与防护涂层深度剖析与界面分布的。仪器测试按该标准执行ISO/TR 15969:2021在金属表面与防护涂层深度剖析与界面分布、半导体,形成ISO/TR 15969:2021方法实施信息与金属表面与防护涂层深。

ISO/TR 15969:2021
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JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则

JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则适用于JY/T 0581-2020用于明场、暗场与选区电子衍射的透射电子显微镜分析。仪器测试按该标准执行JY/T 0581-2020《透射电子显微镜分析方法通则》在明场,形成JY/T 0581-2020《透射电子显微镜分析方法通则》实施信息与。

JY/T 0581-2020
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JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则

JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则规定JY/T 0584-2020用于二次电子形貌成像 SE的扫描电子显微镜分析方相关的实施要求,内容包括JY/T 0584-2020《扫描电子显微镜分析方法通则》在二次电子形貌成像 SE;项目交付JY/T 0584-2020《扫描电子显微镜分析方法通则》实施信息与。

JY/T 0584-2020
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JY/T 0585-2020 金相显微镜分析方法通则

JY/T 0585-2020 金相显微镜分析方法通则适用于JY/T 0585-2020用于金相组织与晶粒度的金相显微镜分析方法通则项目。仪器测试按该标准执行JY/T 0585-2020《金相显微镜分析方法通则》在金相组织与晶粒度,形成JY/T 0585-2020《金相显微镜分析方法通则》实施信息与金相。

JY/T 0585-2020
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YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法

YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法规定薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四相关的实施要求,内容包括薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测;项目交付保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。

YB/T 6166-2024
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