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怎么测和怎么判,不能混成一个依据 试验方法说明如何得到数据,产品要求、限值或合同条件说明如何评价。管理文件、方法资料和数据来源也各有用途;查到一份文件,不代表其中所有内容都属于同一次检测任务。
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目录内容修订 · 2026-10-09 ISO 8466-2:2001规定了非线性二阶校准评价的技术内容,官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段,并链接国际标准化组织发布记录。
ISO 8466-2:2001
查看完整内容 ISO/ASTM 52940:2025的正式名称为《Additive manufacturing of ceramics — Feedstock materials — Characterization of ceramic slurry in vat photopolymerization》。
ISO/ASTM 52940:2025
查看完整内容 ISO/TR 11811:2012《Nanotechnologies — Guidance on methods for nano- and microtribology measurements》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层薄膜应力、附着与纳米划痕、半导体、薄膜与电子材料薄膜应力、附着与纳米划痕、电池、电极与催化材料薄膜应力、附着与纳米划痕、高分子、胶黏剂与复合界面薄膜应力、附着与纳米划痕的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO/TR 11811:2012
查看完整内容 ISO/TR 11843-8:2021规定了ISO 11843检测能力实施指导的技术内容,官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段,并链接国际标准化组织发布记录。
ISO/TR 11843-8:2021
查看完整内容 ISO/TR 15969:2021《溅射深度剖析的溅射深度测量》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层深度剖析与界面分布、半导体、薄膜与电子材料深度剖析与界面分布、电池、电极与催化材料深度剖析与界面分布、高分子、胶黏剂与复合界面深度剖析与界面分布等8项仪器测试的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO/TR 15969:2021
查看完整内容 ISO/TS 19278:2019的正式名称为《Plastics — Instrumented micro-indentation test for hardness and materials parameters》。
ISO/TS 19278:2019
查看完整内容 ISO/TS 21383:2021规定了扫描电镜定量测量能力核查的技术内容,官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段,并链接国际标准化组织发布记录。
ISO/TS 21383:2021
查看完整内容 JY/T 0581-2020《透射电子显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于明场、暗场与选区电子衍射、高分辨晶格像 HRTEM、STEM-EDS与EELS微区分析、纳米颗粒、薄膜与界面表征,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
JY/T 0581-2020
查看完整内容 JY/T 0582-2020《扫描探针显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM、粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM、涂层、薄膜与界面原子力显微镜 AFM、电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
JY/T 0582-2020
查看完整内容 JY/T 0583-2020《聚焦离子束系统分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金属组织、断口与缺陷聚焦离子束 FIB-SEM、粉末、颗粒与多孔材料聚焦离子束 FIB-SEM、涂层、薄膜与界面聚焦离子束 FIB-SEM、电子器件、电池与复合材料聚焦离子束 FIB-SEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
JY/T 0583-2020
查看完整内容 JY/T 0584-2020《扫描电子显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于二次电子形貌成像 SE、背散射电子成分衬度 BSE、EDS点扫、线扫与面扫、断面、颗粒与失效位置微区分析等8项仪器测试,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
JY/T 0584-2020
查看完整内容 JY/T 0585-2020《金相显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金相组织与晶粒度、非金属夹杂物与脱碳层、涂镀层、截面与缺陷观察、偏光、荧光与体视显微,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
JY/T 0585-2020
查看完整内容 JY/T 0586-2020《激光扫描共聚焦显微镜分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布,适用于金属组织、断口与缺陷激光共聚焦与三维显微镜、粉末、颗粒与多孔材料激光共聚焦与三维显微镜、涂层、薄膜与界面激光共聚焦与三维显微镜、电子器件、电池与复合材料激光共聚焦与三维显微镜,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
JY/T 0586-2020
查看完整内容 US EPA SW-846 Method 3051A规定了微波辅助酸消解的技术内容,官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段,并链接美国环境保护署发布记录。
US EPA SW-846 Method 3051A
查看完整内容 US EPA SW-846 Method 3545A规定了加压流体萃取的技术内容,官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段,并链接美国环境保护署发布记录。
US EPA SW-846 Method 3545A
查看完整内容 YB/T 6166-2024的正式名称为《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》。
YB/T 6166-2024
查看完整内容 ASTM C1365-25《Standard Test Method for Determination of the Proportion of Phases in Portland Cement and Portland-Cement Clinker Using X-Ray Powder Diffraction Analysis》由ASTM International发布。Standard Test Method for Determination of the Proportion of Phases in Portland Cement and Portland-Cement Clinker Using X-Ray Powder Diffraction Analysis用于Rietveld物相定量与精修涉及的相应产品、材料或样品检测。在本站对应Rietveld物相定量与精修,相关项目记录样品、仪器条件、原始数据和结果。
ASTM C1365-25
查看完整内容 ASTM D2196-20(2026)《Standard Test Methods for Rheological Properties of Non-Newtonian Materials by Rotational Viscometer》用于旋转与振荡流变测试、流变触变性与恢复分析。本页列出适用对象、样品准备、仪器条件、测量步骤、质量控制、数据记录和报告内容。
ASTM D2196-20(2026)
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