检测范围
生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区，其中按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图。相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
位置扫描
按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，采集区域：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力。
对象与条件
位置扫描：按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，结果用于生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区 微区物相：在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，检索主要晶相并区分周围基体，测量位置按以下方式布置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力 检测对象：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品 测量位置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力 数据判读：生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区
需要注意的限制
XRD位置扫描与相分布结果单个视场对应具体测区，整批和整体结构增加代表性测点；三维结构采用三维方法评价，并记录制样、真空、束流和图像阈值 XRD位置扫描与相分布结果物相分析同步记录含量、结晶度、峰重叠、择优取向、荧光背景、样品尺寸和模型；无定形相与低含量相结合互补方法复核。 XRD位置扫描与相分布结果对应实际收到的样品、采用的微区XRD与劳厄衍射条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 把目标界面或异常路径转换为带编号的扫描坐标；2. 设置光斑、步距、曝光和统一的衍射角范围；3. 逐点采集衍射谱或劳厄图并穿插位置复核；4. 完成位置配准、相匹配和峰参数批量提取；5. 生成相强度、峰位、峰宽或取向的空间分布图
坐标配准
显微照片、载物台坐标和衍射测点使用同一编号，报告图中标出光斑实际覆盖区域，样品资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
束斑混合
目标小于束斑时结果包含周围基体贡献，采用基体对照谱区分重叠信号，测量位置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力。
晶粒效应
少数晶粒可能造成强度不具粉末统计意义，微区结果以相识别和位置差异为主要表达，对照数据：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化。
损伤控制
对热敏、辐照敏感或极薄样品采用短曝光和分区采集，保留曝光序列，结果解释：相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
适用产品与样品
XRD位置扫描与相分布适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 位置扫描：按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，结果用于生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区
- 微区物相：在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，检索主要晶相并区分周围基体，测量位置按以下方式布置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
- 检测对象：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品
- 测量位置：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
- 数据判读：生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品
- 02
制样与装夹：在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致
- 03
随样资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号
- 04
对照样品：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化
- 05
位置记录：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
样品形式：具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品 制样与装夹：在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致 随样资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号 对照样品：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化 位置记录：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力
XRD位置扫描与相分布技术报告及主要结论 交付扫描路径图、逐点原始数据、相分布或取向分布及界面位置标注 原始资料：位置扫描数据；记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号 位置资料：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力 对照资料：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化
检测项目
位置扫描
按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，采集区域：测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力。
微区物相
在微小颗粒、夹杂、焊点或薄层上采集局部衍射图，检索主要晶相并区分周围基体，对照组合：沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化。
薄层与界面
采用微束和低背景装样观察局部涂层、反应层及界面产物的晶相差异，样品资料：记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
劳厄取向
对白光劳厄斑点完成索引，获得单晶或大晶粒的取向矩阵和晶向偏差，数据判读：相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
坐标配准
显微照片、载物台坐标和衍射测点使用同一编号，报告图中标出光斑实际覆盖区域，并结合相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
报告和检测数据
XRD位置扫描与相分布结果单个视场对应具体测区，整批和整体结构增加代表性测点；三维结构采用三维方法评价，并记录制样、真空、束流和图像阈值
XRD位置扫描与相分布结果物相分析同步记录含量、结晶度、峰重叠、择优取向、荧光背景、样品尺寸和模型；无定形相与低含量相结合互补方法复核。
XRD位置扫描与相分布结果对应实际收到的样品、采用的微区XRD与劳厄衍射条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01XRD位置扫描与相分布的位置扫描会形成哪些数据？
按预设步距逐点采集衍射数据，生成相强度、峰位、峰宽或取向空间分布图，生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区。
02XRD位置扫描与相分布的位置扫描可以分析哪些样品？
具有连续反应层、相变区域、焊点截面或晶粒取向梯度的平整样品，在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致。
03XRD位置扫描与相分布的位置扫描送检前要做好哪些处理？
在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致，记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
04XRD位置扫描与相分布的位置扫描工艺批次如何比较？
沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化，光斑、步长、曝光和物相数据库保持一致。
05XRD位置扫描与相分布的位置扫描测区怎样覆盖样品？
测点按真实界面或异常路径排列，光斑与步距共同决定空间分辨能力，在显微图上定义扫描起点、终点和步距，固定后保持整条测线高度一致。
06XRD位置扫描与相分布的位置扫描重复性测量如何安排？
相邻测点光斑重叠率写入扫描记录，分布图不宣称优于实际束斑尺寸的分辨率，光斑、步长、曝光和物相数据库保持一致。
07XRD位置扫描与相分布的位置扫描交付内容有哪些？
交付扫描路径图、逐点原始数据、相分布或取向分布及界面位置标注，记录扫描路径、步距、光斑尺寸、层序、加工方向和每个测点的坐标编号。
08XRD位置扫描与相分布的位置扫描如何支持研发分析？
生成微区物相或晶体取向的位置分布并定位相界、反应层和异常过渡区，沿同一测线比较相强度、峰位、峰宽或劳厄取向随位置的连续变化。