01
适用范围
用于判断这项服务是否适合您的对象和技术问题；最终方案还需结合样品状态、目标参数和报告用途。
- 表面、截面、断口、颗粒和涂层微观形貌
- 异物、夹杂、腐蚀产物及失效位置的微区元素分析
- 颗粒、孔洞、纤维、层厚和相区的图像与尺寸研究
02
样品要求
送样前尽量提供材质、形态、数量、尺寸、批次、保存条件，以及是否允许切割、消解、喷镀或其他破坏性制样。
- 01
粉末、块体、薄膜和截面均需满足样品室尺寸与真空要求
- 02
不导电样品可能需要喷金、喷碳、低真空或环境模式
- 03
含水、挥发、易分解、磁性或束流敏感样品必须提前说明
03
检测项目
01
SE 二次电子成像
突出表面起伏和精细形貌
02
BSE 背散射成像
观察与平均原子序数和取向相关的衬度
03
EDS 点扫与区域分析
获得指定位置或区域的元素信息
04
EDS 线扫与 Mapping
展示元素沿路径或视野内的分布
04
方法标准
以下用于前期技术匹配。正式委托时应按样品基体、目标参数、报告用途和最新有效版本逐项确认，不把仪器名称直接等同于标准方法。
05
交付结果
样品信息、制样或前处理方式及关键测试条件
SEM 图像、EDS 谱图、元素表及约定的线扫或 Mapping 结果
约定的数据表、图谱、曲线、图像或可导出的原始数据
对主要结果、异常信号及可比性条件的必要说明
方法适用范围、检出能力和不能据此直接推断的内容
常见报告用途
研发与材料筛选批次或工艺对比质量控制与异常排查项目验收或技术资料
06
限制条件
检测结果只在实际样品、测试位置、制样方式和约定条件下成立。以下边界应在委托前明确：
- EDS 主要提供微区元素信息，不能直接给出分子结构或完整配方；粗糙度、镀层、谱峰重叠和作用体积会影响定量。
- 具体测试参数、检出限、定量范围和不确定度受样品基体、制样方式、仪器配置及方法验证状态影响。
- 标准目录用于前期技术匹配；正式委托时须确认标准版本、适用范围、报告用途及实验室当前能力。
07
常见问题
01不导电样品为什么可能需要喷金或喷碳？
导电处理可减少荷电和图像漂移，但镀层也可能遮蔽目标元素或改变表面细节，需根据成像和元素分析目的选择。
02扫描电镜与能谱 SEM/EDS需要多少样品？
样品量取决于形态、均匀性、制样损耗和测试模块。常见要求包括：粉末、块体、薄膜和截面均需满足样品室尺寸与真空要求；不导电样品可能需要喷金、喷碳、低真空或环境模式；含水、挥发、易分解、磁性或束流敏感样品必须提前说明。正式送样前仍需按目标参数确认。
03是否可以直接用一次测试代表整批样品？
不一定。仪器结果只代表实际取样和测试位置；非均匀材料应先约定取样规则、平行样、测试位置和统计方式。
04是否可以出具带 CMA/CNAS 标识的报告？
需结合具体项目、方法标准、报告用途及实验室最新有效能力附表在委托前逐项确认，不能只根据仪器名称判断。