检测范围
使用探针扫描表面获得纳米级三维形貌、粗糙度及局部力学、电学或其他功能信息。
轻敲或接触模式形貌
获得表面三维高度和形貌图
对象与条件
薄膜、涂层、晶圆、二维材料和聚合物表面形貌 纳米级粗糙度、台阶高度和颗粒尺寸 力曲线、相位、电势或导电等扩展模式研究
需要注意的限制
AFM 数据处理中记录探针形状、反馈参数、扫描范围，并校正卷积和成像伪影。 原子力显微镜 AFM的检出限、定量范围和不确定度根据样品基体、轻敲或接触模式形貌与粗糙度与台阶的方法要求，以及“样品表面平整、清洁并可靠固定”对应的制样、校准和仪器条件确定。 原子力显微镜 AFM采用的标准目录列明标准版本、适用对象、轻敲或接触模式形貌的方法条件及二维与三维 AFM 图、粗糙度或台阶参数及扫描条件的报告内容。
适用产品与样品
原子力显微镜 AFM适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 薄膜、涂层、晶圆、二维材料和聚合物表面形貌
- 纳米级粗糙度、台阶高度和颗粒尺寸
- 力曲线、相位、电势或导电等扩展模式研究
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品表面平整、清洁并可靠固定
- 02
尺寸和高度适配扫描器与样品台
- 03
软、黏、湿、易污染或环境敏感样品采用对应模式和气氛
样品表面平整、清洁并可靠固定 尺寸和高度适配扫描器与样品台 软、黏、湿、易污染或环境敏感样品采用对应模式和气氛
原子力显微镜 AFM检测的样品信息、制样或前处理方式及关键测试条件 二维与三维 AFM 图、粗糙度或台阶参数及扫描条件 轻敲或接触模式形貌与粗糙度与台阶对应的数据表、图谱、曲线、图像或可导出的原始数据 原子力显微镜 AFM检测的主要结果、异常信号及可比性条件说明 原子力显微镜 AFM采用的方法名称、标准编号和关键检测条件
检测项目
轻敲或接触模式形貌
获得表面三维高度和形貌图
粗糙度与台阶
按选定区域和滤波规则计算参数
相位与力学映射
比较局部材料或黏弹性差异
电学与功能模式
按探针和样品条件开展电势或导电分析
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
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报告和检测数据
AFM 数据处理中记录探针形状、反馈参数、扫描范围，并校正卷积和成像伪影。
原子力显微镜 AFM的检出限、定量范围和不确定度根据样品基体、轻敲或接触模式形貌与粗糙度与台阶的方法要求，以及“样品表面平整、清洁并可靠固定”对应的制样、校准和仪器条件确定。
原子力显微镜 AFM采用的标准目录列明标准版本、适用对象、轻敲或接触模式形貌的方法条件及二维与三维 AFM 图、粗糙度或台阶参数及扫描条件的报告内容。
常见问题
01AFM 颗粒尺寸怎样计算？
颗粒高度直接由表面形貌获得，横向尺寸结合探针半径进行卷积校正。
02原子力显微镜 AFM需要多少样品？
样品量按照样品形态、均匀性、制样损耗和测试模块配置。送样要求包括：样品表面平整、清洁并可靠固定；尺寸和高度适配扫描器与样品台；软、黏、湿、易污染或环境敏感样品采用对应模式和气氛。
03原子力显微镜 AFM怎样评价整批样品？
原子力显微镜 AFM围绕轻敲或接触模式形貌与粗糙度与台阶设置代表性取样、平行样、多位置或多批次测试；样品准备满足“样品表面平整、清洁并可靠固定”，报告对应记录取样位置与批次信息。
04原子力显微镜 AFM报告提供哪些结果？
原子力显微镜 AFM报告列明二维与三维 AFM 图、粗糙度或台阶参数及扫描条件，并为轻敲或接触模式形貌与粗糙度与台阶记录执行标准、仪器条件、质量控制、图谱或曲线及实测数据。