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检测标准库 · 第 8 页

中见检测由自有实验室提供相关检测、测试与分析。标准库按编号、名称和业务领域查找国内外技术资料;执行前核对完整版本、适用对象、方法条件与判定依据,目录记录不是全部必测项目或带标报告承诺。

知道编号就搜编号,不知道就先搜对象

可以输入完整标准号、中文名称、材料或关注参数,再按服务领域缩小范围。目录同时整理国内外技术文件;编号相近或名称相似,不意味着对象、条件和结果口径相同。

我们可按客户指定依据安排相关检测,也可结合实际问题讨论项目。执行前核对完整版本、适用范围、样品要求和所需条件;客户或合同指定旧版本时,说明使用时点与依据,不静默换成年份较新的文件。

怎么测和怎么判,不能混成一个依据

试验方法说明如何得到数据,产品要求、限值或合同条件说明如何评价。管理文件、方法资料和数据来源也各有用途;查到一份文件,不代表其中所有内容都属于同一次检测任务。

标准题名与公开范围可以帮助定位资料,不能代替完整方法、条款和质量控制要求。目录页的修订日期只是本站内容整理时间,标准的发布、实施、复审与替代关系应查看发布机构资料并按项目核对。

目录是查询入口,不是全套检测清单

不是列出的每个标准都必须测试,也不能把一个方法记录当作所有样品和工况的统一判定依据。报告用途、当前版本和CMA/CNAS标志使用分别确认;技术资料整理不等于已阅读全部标准全文或完成全部版本状态核验。

网站列示的检测、测试与分析由自有实验室完成;我们按客户的问题、样品和结果用途安排具体项目。

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已发布标准资料

366

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ISO 13322-1:2014 静态图像分析法测定颗粒粒度

ISO 13322-1:2014《静态图像分析法测定颗粒粒度》由国际标准化组织发布,本站将其用于粉体与颗粒材料颗粒图像与形状分析、浆料、乳液与纳米分散体颗粒图像与形状分析、多孔、吸附与催化材料颗粒图像与形状分析、电池、药物与功能粉体颗粒图像与形状分析的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO 13322-1:2014
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ISO 16413:2020 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

ISO 16413:2020《Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting》由国际标准化组织发布,适用于薄膜厚度、密度与粗糙度、多层膜结构与界面粗糙度、晶圆与外延层XRR测量、XRR拟合与模型不确定度,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 16413:2020
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ISO 18115-1:2023 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy

ISO 18115-1:2023《Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy》由国际标准化组织发布,本站将其用于RBS薄膜成分与面密度、ERDA氢与轻元素深度分布、NRA核反应元素定量、多层膜厚度、组分与界面分析等8项仪器测试的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO 18115-1:2023
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ISO 18115-2:2021 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy

ISO 18115-2:2021《Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy》由国际标准化组织发布,本站将其用于材料功函数与接触电势差、半导体表面电势与均匀性、涂层、氧化层与腐蚀电位分布、光照与气氛下功函数变化的方法实施、数据记录和结果表达。

ISO 18115-2:2021
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ISO 18221:2025 Microscopes — Microscopes with digital imaging displays — Information provided to the user regarding imaging performance

ISO 18221:2025《Microscopes — Microscopes with digital imaging displays — Information provided to the user regarding imaging performance》由国际标准化组织发布,适用于二维尺寸与几何测量、批次外观比对与图像留档,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 18221:2025
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ISO 19214:2024 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy

ISO 19214:2024《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method of determination for apparent growth direction of nanocrystals by transmission electron microscopy》由国际标准化组织发布,适用于纳米颗粒、薄膜与界面表征,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 19214:2024
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ISO 19318:2021 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction

ISO 19318:2021《Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction》由国际标准化组织发布,适用于XPS全谱与元素定性、高分辨谱与化学价态、氩离子刻蚀深度剖析、角分辨、原位与界面XPS,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 19318:2021
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ISO 19668:2017 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials

ISO 19668:2017《Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials》由国际标准化组织发布,适用于XPS全谱与元素定性、高分辨谱与化学价态、氩离子刻蚀深度剖析、角分辨、原位与界面XPS,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。

ISO 19668:2017
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