标准适用范围
ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
聚焦离子束制备透射电镜试样术语
FIB提取的薄片、针状或截面试样
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
FIB提取的薄片、针状或截面试样
标准技术要求 + 检测条件记录
保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
项目技术要点
标准用途
ISO 17297:2025规定了聚焦离子束制备透射电镜试样术语的技术内容，官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段，并链接国际标准化组织发布记录。
适用项目
- [电池材料低温截面制样](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/cryogenic-battery-material-cross-section-preparation)：电池材料低温截面制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [软材料与聚合物低温制样](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/cryogenic-soft-material-and-polymer-preparation)：软材料与聚合物低温制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [冷冻水合生物样品薄片](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/frozen-hydrated-biological-lamella-preparation)：冷冻水合生物样品薄片中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [Cryo-FIB定点取样与电镜联用](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/site-specific-cryo-fib-and-electron-microscopy-workflow)：Cryo-FIB定点取样与电镜联用中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [金属与硬质材料FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-metals-and-hard-materials)：金属与硬质材料FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [高分子、软物质与生物样品FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-polymers-soft-matter-and-biological-samples)：高分子、软物质与生物样品FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [粉末、颗粒与多孔样品FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-powders-particles-and-porous-samples)：粉末、颗粒与多孔样品FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [精密截面、定点与数据交付FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-precision-cross-section-site-specific-and-d)：精密截面、定点与数据交付FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [FIB截面与定点TEM薄片](/services/instrument-testing/sample-data/device-decapsulation-delayering-and-site-specific-preparation/fib-cross-section-and-site-specific-tem-lamella)：FIB截面与定点TEM薄片中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。
适用样品
FIB提取的薄片、针状或截面试样
设备与配置
聚焦离子束系统、微操作器和TEM载网
实施步骤
按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
原始记录
ISO 17297:2025项目记录以样品编号为索引，写明FIB提取的薄片、针状或截面试样的名称、批次、状态和测量位置。设备记录列出聚焦离子束系统、微操作器和TEM载网的主机、附件、程序和工作参数；实施记录按时间顺序保存按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤形成的原始读数、图谱或图像。
适用对象与应用场景
ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- 聚焦离子束制备透射电镜试样术语
- FIB提取的薄片、针状或截面试样
- 按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
- 保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
- 交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态
- 电池材料低温截面制样对应的标准子项
- 软材料与聚合物低温制样对应的标准子项
- 冷冻水合生物样品薄片对应的标准子项
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
FIB提取的薄片、针状或截面试样
- 02
电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用项目使用的代表性试样和质量控制样
FIB提取的薄片、针状或截面试样。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像、制样流程、关键参数、位置图与试样状态，其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
形貌与缺陷观察
保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
结果与交付要求
交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态
标准实施要点
应用场景
ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
FIB提取的薄片、针状或截面试样
确定执行条件
把统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤、形貌与缺陷观察落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像、制样流程、关键参数、位置图与试样状态、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
国际标准化组织发布ISO 17297:2025《Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary》。
标准编号：ISO 17297:2025；标准名称：Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary；发布机构：国际标准化组织。
国际标准化组织报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary包括哪些检测内容？
ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary的主要内容包括按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary项目表按样品形态、目标参数和报告用途列出测量项目、测试条件、重复次数、质量控制及数据处理要求。
02ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary需要提供哪些样品和资料？
送样包括FIB提取的薄片、针状或截面试样，并按批次、状态和取样位置分别编号。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary样品清单标明名称、型号、批次、取样位置、数量、状态、保存条件和处理历史，对比项目同时提交正常样、异常样或不同批次样。
03ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary采用什么标准和方法？
主要依据为ISO 17297:2025，检测方法包括按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary委托项目单记录标准编号、版本、产品规范、样品条件和判定要求，多种方法联合使用时分别记录原始数据和质量控制。
04ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary报告包含哪些内容？
主要交付保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像，内容包含样品、方法、数据和判定依据。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary报告列明样品、方法、条件、实测数据、计算结果和判定依据，可用于电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用研发与验证，图谱、照片、原始数据或英文信息按委托要求附入。