本页说明
ISO 17297:2025规定了聚焦离子束制备透射电镜试样术语的技术内容，官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段，并链接国际标准化组织发布记录。
适用对象与条件
- 聚焦离子束制备透射电镜试样术语
- FIB提取的薄片、针状或截面试样
- 按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
- 保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
- 交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态
- 电池材料低温截面制样对应的标准子项
- 软材料与聚合物低温制样对应的标准子项
- 冷冻水合生物样品薄片对应的标准子项
主要要求与方法
统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
形貌与缺陷观察
保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
结果与交付要求
交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态
方法、条件与注意事项
标准用途
ISO 17297:2025规定了聚焦离子束制备透射电镜试样术语的技术内容，官网页面整理适用样品、设备、实施步骤、数据和报告字段，并链接国际标准化组织发布记录。 聚焦离子束制备透射电镜试样术语。
适用项目
- [电池材料低温截面制样](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/cryogenic-battery-material-cross-section-preparation)：电池材料低温截面制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [软材料与聚合物低温制样](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/cryogenic-soft-material-and-polymer-preparation)：软材料与聚合物低温制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [冷冻水合生物样品薄片](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/frozen-hydrated-biological-lamella-preparation)：冷冻水合生物样品薄片中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [Cryo-FIB定点取样与电镜联用](/services/instrument-testing/in-situ-advanced/cryogenic-focused-ion-beam-preparation/site-specific-cryo-fib-and-electron-microscopy-workflow)：Cryo-FIB定点取样与电镜联用中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [金属与硬质材料FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-metals-and-hard-materials)：金属与硬质材料FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [高分子、软物质与生物样品FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-polymers-soft-matter-and-biological-samples)：高分子、软物质与生物样品FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [粉末、颗粒与多孔样品FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-powders-particles-and-porous-samples)：粉末、颗粒与多孔样品FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [精密截面、定点与数据交付FIB定点取样与TEM制样](/services/instrument-testing/sample-data/fib-lift-out-and-tem-preparation/fib-lift-out-and-tem-preparation-precision-cross-section-site-specific-and-d)：精密截面、定点与数据交付FIB定点取样与TEM制样中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。 - [FIB截面与定点TEM薄片](/services/instrument-testing/sample-data/device-decapsulation-delayering-and-site-specific-preparation/fib-cross-section-and-site-specific-tem-lamella)：FIB截面与定点TEM薄片中的对应子项按ISO 17297:2025统一聚焦离子束制备透射电镜试样的操作与交付术语。
适用样品
FIB提取的薄片、针状或截面试样
设备与配置
聚焦离子束系统、微操作器和TEM载网
实施步骤
按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤
原始记录
ISO 17297:2025项目记录以样品编号为索引，写明FIB提取的薄片、针状或截面试样的名称、批次、状态和测量位置。设备记录列出聚焦离子束系统、微操作器和TEM载网的主机、附件、程序和工作参数；实施记录按时间顺序保存按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤形成的原始读数、图谱或图像。
数据处理
保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
质量控制
聚焦离子束制备透射电镜试样术语的数据复核包括设备状态、空白或参考样、重复测量、计算过程和结果单位。ISO 17297:2025对应的原始文件保留处理前数据，处理参数与保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像产生的表格、曲线或图谱使用同一试样编号，便于复核测点、批次和处理步骤。
报告内容
交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态
项目应用
ISO 17297:2025在电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用、金属与硬质材料FIB定点取样与TEM制样中承担与聚焦离子束制备透射电镜试样术语直接相关的技术作用。项目表把标准子项、样品、设备、测量位置和结果字段分别列出；报告将交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态与原始记录相互对应，用于研发比较、工艺评价和质量数据归档。
官方来源
国际标准化组织发布了ISO 17297:2025《Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary》，[查看官方发布记录](https://www.iso.org/standard/84897.html)。
需要结合哪些资料
- FIB提取的薄片、针状或截面试样；电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用项目使用的代表性试样和质量控制样
参考依据与来源
国际标准化组织发布ISO 17297:2025《Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary》。
标准编号：ISO 17297:2025；标准名称：Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary；发布机构：国际标准化组织。
国际标准化组织结果怎样使用
- 保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像
- 交付制样流程、关键参数、位置图与试样状态
- ISO 17297:2025官方发布记录与关联项目链接
使用结果时需要结合的事项
- 电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用研发与验证；电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用批次或工艺比较；电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用技术报告
标准使用常见问题
01ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary包括哪些检测内容？
ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary的主要内容包括按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary项目表按样品形态、目标参数和报告用途列出测量项目、测试条件、重复次数、质量控制及数据处理要求。
02ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary需要提供哪些样品和资料？
送样包括FIB提取的薄片、针状或截面试样，并按批次、状态和取样位置分别编号。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary样品清单标明名称、型号、批次、取样位置、数量、状态、保存条件和处理历史，对比项目同时提交正常样、异常样或不同批次样。
03ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary采用什么标准和方法？
主要依据为ISO 17297:2025，检测方法包括按统一术语记录定位、沉积、切割、提取、安装和减薄步骤。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary委托确认单记录标准编号、版本、产品规范、样品条件和判定要求，多种方法联合使用时分别记录原始数据和质量控制。
04ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary报告包含哪些内容？
主要交付保存制备位置、方向、厚度、离子条件和过程图像，内容包含样品、方法、数据和判定依据。 ISO 17297:2025 Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary报告列明样品、方法、条件、实测数据、计算结果和判定依据，可用于电池材料低温截面制样、软材料与聚合物低温制样、冷冻水合生物样品薄片、Cryo-FIB定点取样与电镜联用研发与验证，图谱、照片、原始数据或英文信息按委托要求附入。