检测范围
软材料与聚合物低温制样：在低温下用聚焦离子束定点切割、提取和减薄，保存水合、软材料及反应敏感结构。软材料与聚合物低温制样按统一程序获得低温沉积、低温减薄和制样记录的联合结果，便于比较位置、批次和处理条件。
低温沉积
软材料与聚合物低温制样中，低温沉积按以下内容记录：在目标区形成保护层，减少切割损伤。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把低温沉积结果与低温减薄按样品、测点和程序节点排列。
对象与条件
软材料与聚合物低温制样采用的技术原理为：在低温下用聚焦离子束定点切割、提取和减薄，保存水合、软材料及反应敏感结构。在目标区形成保护层，减少切割损伤，分级降低束流，制备电子透明薄片。 软材料与聚合物低温制样适用样品包括电池材料、聚合物、软物质、冷冻水合生物样品、乳液和对热或真空敏感的界面。按目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染建立样品组和测量节点；快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备，测区和方向与低温沉积数据对应。 软材料与聚合物低温制样的主要测量内容包括低温沉积、低温减薄和制样记录；快速冷冻、定点提取与冷冻转移补充过程、空间或质量信息。 软材料与聚合物低温制样围绕软材料与聚合物低温制样，按照统一的样品状态、测量程序和数据处理参数建立对照。保存定位、方向、厚度、束流和过程图像，结果可区分位置、批次和工况变化。 软材料与聚合物低温制样交付定位图、制样过程图、薄片尺寸与方向、束流条件、低温记录和可上机试样。原始文件、测量条件、处理参数和结果图表使用同一试样编号。
需要注意的限制
软材料与聚合物低温制样结果破坏性制样记录残留、应力和形貌变化；样品尺寸、目标位置及原始状态与后续结果逐项对应 软材料与聚合物低温制样结果原位结果同步记录传质、温度、电场、机械条件、时间和空间分辨率，并通过静态对照与互补方法验证因果机制。 软材料与聚合物低温制样结果对应实际收到的样品、采用的低温聚焦离子束 Cryo-FIB条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 软材料与聚合物低温制样方案设计：依据目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染设计快速冷冻与低温沉积的测量组合；2. 软材料与聚合物低温制样样品制备：快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备，并为定点提取标记试样方向、测区和对照位置；3. 软材料与聚合物低温制样系统检查：检查低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度，建立快速冷冻的设备状态与质量控制记录；4. 软材料与聚合物低温制样程序执行：执行固定目标状态并降低冰晶和组分迁移；随后完成在目标区形成保护层，减少切割损伤和围绕目标结构切割并由微操作器转移；5. 软材料与聚合物低温制样数据复核：复核原始数据、处理参数和重复测量，整理定位图、制样过程图、薄片尺寸与方向、束流条件、低温记录和可上机试样
软材料与聚合物低温制样：样品状态
软材料与聚合物低温制样的样品状态控制包括电池材料、聚合物、软物质、冷冻水合生物样品、乳液和对热或真空敏感的界面按批次、方向、位置和处理历史编号；快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备。在目标区形成保护层，减少切割损伤；该项记录与低温沉积原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
软材料与聚合物低温制样：设备条件
软材料与聚合物低温制样的设备条件控制包括低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度写入设备条件表，并与原始文件使用相同样品编号。分级降低束流，制备电子透明薄片；该项记录与低温减薄原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
软材料与聚合物低温制样：数据处理
软材料与聚合物低温制样的数据处理控制包括分级降低束流，制备电子透明薄片，处理前后文件、参数和结果分别保存。保存定位、方向、厚度、束流和过程图像；该项记录与制样记录原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
软材料与聚合物低温制样：结果复核
软材料与聚合物低温制样的结果复核控制包括保持低温与洁净条件完成仪器间转移；保存定位、方向、厚度、束流和过程图像，用于检查测点与组间差异。固定目标状态并降低冰晶和组分迁移；该项记录与快速冷冻原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
适用产品与样品
软材料与聚合物低温制样适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 软材料与聚合物低温制样采用的技术原理为：在低温下用聚焦离子束定点切割、提取和减薄，保存水合、软材料及反应敏感结构。在目标区形成保护层，减少切割损伤，分级降低束流，制备电子透明薄片。
- 软材料与聚合物低温制样适用样品包括电池材料、聚合物、软物质、冷冻水合生物样品、乳液和对热或真空敏感的界面。按目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染建立样品组和测量节点；快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备，测区和方向与低温沉积数据对应。
- 软材料与聚合物低温制样的主要测量内容包括低温沉积、低温减薄和制样记录；快速冷冻、定点提取与冷冻转移补充过程、空间或质量信息。
- 软材料与聚合物低温制样围绕软材料与聚合物低温制样，按照统一的样品状态、测量程序和数据处理参数建立对照。保存定位、方向、厚度、束流和过程图像，结果可区分位置、批次和工况变化。
- 软材料与聚合物低温制样交付定位图、制样过程图、薄片尺寸与方向、束流条件、低温记录和可上机试样。原始文件、测量条件、处理参数和结果图表使用同一试样编号。
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
软材料与聚合物低温制样样品范围：电池材料、聚合物、软物质、冷冻水合生物样品、乳液和对热或真空敏感的界面。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。
- 02
软材料与聚合物低温制样实施以下内容：快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备。低温沉积与低温减薄测区使用清晰的位置或方向标记。
- 03
软材料与聚合物低温制样把目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染写入样品与程序清单；按目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染建立样品组和测量节点。
- 04
软材料与聚合物低温制样对照样围绕软材料与聚合物低温制样的批次、位置或处理状态设置，平行样采用相同制备和测量条件。
- 05
软材料与聚合物低温制样样品处理中，围绕目标结构切割并由微操作器转移。相关环境、转移、保存或前处理时间写入记录，便于解释定点提取差异。
软材料与聚合物低温制样样品范围：电池材料、聚合物、软物质、冷冻水合生物样品、乳液和对热或真空敏感的界面。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。 软材料与聚合物低温制样实施以下内容：快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备。低温沉积与低温减薄测区使用清晰的位置或方向标记。 软材料与聚合物低温制样把目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染写入样品与程序清单；按目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染建立样品组和测量节点。 软材料与聚合物低温制样对照样围绕软材料与聚合物低温制样的批次、位置或处理状态设置，平行样采用相同制备和测量条件。 软材料与聚合物低温制样样品处理中，围绕目标结构切割并由微操作器转移。相关环境、转移、保存或前处理时间写入记录，便于解释定点提取差异。
软材料与聚合物低温制样技术报告列出定位图、制样过程图、薄片尺寸与方向、束流条件、低温记录和可上机试样，并说明低温沉积和低温减薄的测量条件与结果。 软材料与聚合物低温制样的低温沉积交付原始信号、处理后数据、计算表和结果图；在目标区形成保护层，减少切割损伤。 软材料与聚合物低温制样的低温减薄按样品与测点提供单次值、统计值或图谱，分级降低束流，制备电子透明薄片。 软材料与聚合物低温制样条件表记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度，并附设备状态、质量控制及异常数据复核信息。 软材料与聚合物低温制样数据包收录原始文件、通用格式、图片、处理参数和文件目录，可用于后续复算及跨方法对照。
检测项目
低温沉积
软材料与聚合物低温制样中，低温沉积按以下内容记录：在目标区形成保护层，减少切割损伤。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把低温沉积结果与低温减薄按样品、测点和程序节点排列。
低温减薄
软材料与聚合物低温制样中，低温减薄按以下内容记录：分级降低束流，制备电子透明薄片。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把低温减薄结果与制样记录按样品、测点和程序节点排列。
制样记录
软材料与聚合物低温制样中，制样记录按以下内容记录：保存定位、方向、厚度、束流和过程图像。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把制样记录结果与快速冷冻按样品、测点和程序节点排列。
快速冷冻
软材料与聚合物低温制样中，快速冷冻按以下内容记录：固定目标状态并降低冰晶和组分迁移。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把快速冷冻结果与定点提取按样品、测点和程序节点排列。
定点提取
软材料与聚合物低温制样中，定点提取按以下内容记录：围绕目标结构切割并由微操作器转移。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把定点提取结果与冷冻转移按样品、测点和程序节点排列。
冷冻转移
软材料与聚合物低温制样中，冷冻转移按以下内容记录：保持低温与洁净条件完成仪器间转移。数据表同步记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度中的相关参数，并把冷冻转移结果与低温沉积按样品、测点和程序节点排列。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 2 项
报告和检测数据
软材料与聚合物低温制样结果破坏性制样记录残留、应力和形貌变化；样品尺寸、目标位置及原始状态与后续结果逐项对应
软材料与聚合物低温制样结果原位结果同步记录传质、温度、电场、机械条件、时间和空间分辨率，并通过静态对照与互补方法验证因果机制。
软材料与聚合物低温制样结果对应实际收到的样品、采用的低温聚焦离子束 Cryo-FIB条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01软材料与聚合物低温制样测哪些数据？
软材料与聚合物低温制样测量低温沉积、低温减薄、制样记录，并分析快速冷冻、定点提取、冷冻转移。报告同时提供定位图、制样过程图、薄片尺寸与方向、束流条件、低温记录和可上机试样。
02软材料与聚合物低温制样适用什么样品？
软材料与聚合物低温制样适用于电池材料、聚合物、软物质、冷冻水合生物样品、乳液和对热或真空敏感的界面。按目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染建立样品组和测量节点；快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备，样品批次、状态、方向和目标位置分别编号。
03软材料与聚合物低温制样怎样准备样品？
软材料与聚合物低温制样样品按以下步骤制备：快速冷冻并在低温链路中转移，使用保护层、微操作器和低温载网完成定点薄片制备。按目标位置、冷冻方式、温度、保护层、束流、入射角、薄片尺寸、转移时长和霜污染建立样品组和测量节点，并保留制样或装样记录。
04软材料与聚合物低温制样记录哪些条件？
软材料与聚合物低温制样记录低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度。这些字段与低温沉积原始文件、低温减薄处理结果和报告图表逐一对应。
05软材料与聚合物低温制样怎样设置对照？
软材料与聚合物低温制样围绕软材料与聚合物低温制样的批次、位置、处理或程序节点设置对照。各组使用相同制样、设备和处理参数，直接比较制样记录与快速冷冻。
06软材料与聚合物低温制样怎样检查重复性？
软材料与聚合物低温制样对低温沉积安排同条件平行测量，并核对低温减薄响应。报告列出单次值、平均结果和离散统计，同时保留设备与样品状态。
07软材料与聚合物低温制样报告包含什么？
软材料与聚合物低温制样报告包含定位图、制样过程图、薄片尺寸与方向、束流条件、低温记录和可上机试样，附低温台温度、真空、离子剂量、束流漂移、保护层连续性、薄片弯曲、霜和最终厚度及质量控制记录；原始数据、处理文件和高清图表归入同一数据包。
08软材料与聚合物低温制样结果怎样使用？
软材料与聚合物低温制样结果说明：材料结构研究、工艺比较、质量评价和异常分析可直接使用软材料与聚合物低温制样的低温沉积、制样记录和定点提取数据。关键变化以图谱、图像或统计表呈现，并标注发生条件。