GB/T 224-2019 钢的脱碳层深度测定法
依据GB/T 224-2019 钢的脱碳层深度测定法开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 224-2019用于非金属夹杂物与脱碳层的钢的脱碳层深度测定法项目，实施内容包括GB/T 224-2019《钢的脱碳层深度测定法》在非金属夹杂物与脱碳层中按具体对象，交付GB/T 224-2019《钢的脱碳层深度测定法》实施信息与非金属夹。
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GB/T 24219-2009 机织过滤布泡点孔径的测定
GB/T 24219-2009 机织过滤布泡点孔径的测定用于GB/T 24219-2009用于泡点与最大孔径的泡点、平均流量孔径的仪器测试，项目按标准完成GB/T 24219-2009在泡点与最大孔径中落实标准规定的测量步骤与技术参数并形成GB/T 24219-2009方法实施信息与泡点与最大孔径实测结果。
查看完整内容GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法适用于GB/T 24580-2009用于半导体。仪器测试按该标准执行GB/T 24580-2009《重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法》在半导，形成GB/T 24580-2009《重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱。
查看完整内容GB/T 25278-2010 塑料 用毛细管和狭缝口模流变仪测定塑料的流动性
GB/T 25278-2010 塑料 用毛细管和狭缝口模流变仪测定塑料的流动性规定塑料、橡胶与复合材料毛细管流变与熔体流动按GB/T 25278-2010用毛相关的实施要求，内容包括塑料、橡胶与复合材料毛细管流变与熔体流动按GB/T 25278-2010用毛细管或狭；项目交付计算表列出温度、口模、压力、流量、剪切速率、剪切应力及黏度曲线。
查看完整内容GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则规定GB/T 26533-2011用于金属表面与防护涂层俄歇电子能谱 AES的俄相关的实施要求，内容包括GB/T 26533-2011《俄歇电子能谱分析方法通则》在金属表面与防护涂层俄歇电；项目交付GB/T 26533-2011《俄歇电子能谱分析方法通则》实施信息与。
查看完整内容GB/T 27403-2026 实验室质量控制规范 食品分子生物学检测
GB/T 27403-2026 实验室质量控制规范 食品分子生物学检测适用于食品物种真实性和动物源性分子检测的全过程质量控制。分析服务按该标准执行控制样品接收、核酸提取、扩增、污染防控、阳性阴性对照和结果复核，形成样品流转、提取、对照、扩增、污染监测和结果复核记录。
查看完整内容GB/T 27411-2012 检测实验室中常用不确定度评定方法与表示
GB/T 27411-2012 检测实验室中常用不确定度评定方法与表示适用于实验室测量不确定度评定。仪器测试按该标准执行识别输入量、评定标准不确定度、合成并给出扩展不确定度，形成保留测量模型、分量来源、分布、灵敏系数和自由度。
查看完整内容GB/T 29070-2012 无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测 通用要求
GB/T 29070-2012 无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测 通用要求规定GB/T 29070-2012用于工业CT无损缺陷检测的无损检测 工业计算机相关的实施要求，内容包括GB/T 29070-2012《无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测 通用要求》；项目交付GB/T 29070-2012《无损检测 工业计算机层析成像（CT）。
查看完整内容GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法
依据GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 30447-2013用于半导体，实施内容包括GB/T 30447-2013在半导体、薄膜与电子材料接触角与表面能中落实标准规定的，交付GB/T 30447-2013方法实施信息与半导体。
查看完整内容GB/T 30693-2014 塑料薄膜与水接触角的测量
依据GB/T 30693-2014 塑料薄膜与水接触角的测量开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 30693-2014用于高分子，实施内容包括GB/T 30693-2014在高分子、胶黏剂与复合界面接触角与表面能中落实标准规定，交付GB/T 30693-2014方法实施信息与高分子。
查看完整内容GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法规定无机粉体、矿物、填料、颜料和沉积物的物相鉴别相关的实施要求，内容包括制备平整且具有代表性的粉末试样，采集衍射图并依据峰位和相对强度完成物相检索；项目交付衍射图、扫描条件、特征峰、检索卡片和物相匹配结果。
查看完整内容GB/T 30905-2014 无机化工产品 元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 30905-2014 无机化工产品 元素含量的测定 X射线荧光光谱法适用于无机粉体、矿物、填料和沉积物的元素组成分析。分析服务按该标准执行按样品性质制备压片或熔片，建立校准并测量元素特征谱线强度，形成制样记录、校准曲线、谱线强度、基体校正和元素含量。
查看完整内容GB/T 31057.2-2018 颗粒材料 物理性能测试 第2部分：振实密度的测量
GB/T 31057.2-2018 颗粒材料 物理性能测试 第2部分：振实密度的测量适用于GB/T 31057.2-2018用于粉体与颗粒材料真密度。仪器测试按该标准执行GB/T 31057.2-2018在粉体与颗粒材料真密度、堆积密度与振实密度、多孔，形成GB/T 31057.2-2018方法实施信息与粉体与颗粒材料真密度。
查看完整内容GB/T 3139-2005 纤维增强塑料导热系数试验方法
GB/T 3139-2005 纤维增强塑料导热系数试验方法规定GB/T 3139-2005用于塑料、橡胶与复合材料导热相关的实施要求，内容包括GB/T 3139-2005在塑料、橡胶与复合材料导热；项目交付GB/T 3139-2005方法实施信息与塑料、橡胶与复合材料导热。
查看完整内容GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法适用于GB/T 32188-2015用于金属、陶瓷与晶体材料织构。仪器测试按该标准执行GB/T 32188-2015《氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》在，形成GB/T 32188-2015《氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半。
查看完整内容GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法用于GB/T 32189-2015用于电子器件的仪器测试，项目按标准完成GB/T 32189-2015《氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法》在电子并形成GB/T 32189-2015《氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微。
查看完整内容GB/T 32361-2015 分离膜孔径测试方法 泡点和平均流量法
GB/T 32361-2015 分离膜孔径测试方法 泡点和平均流量法用于GB/T 32361-2015用于泡点与最大孔径的泡点、平均流量孔径的仪器测试，项目按标准完成GB/T 32361-2015在泡点与最大孔径、毛细流动孔径分布并形成GB/T 32361-2015方法实施信息与泡点与最大孔径。
查看完整内容GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法适用于GB/T 33826-2017用于半导体。仪器测试按该标准执行GB/T 33826-2017在半导体、薄膜与电子材料台阶仪与表面轮廓中落实标准规定，形成GB/T 33826-2017方法实施信息与半导体。
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