检测范围
三维景深合成与表面观察主要检测景深合成、宏观缺陷记录，服务对象包括景深合成：沿Z轴采集多焦面图像并合成全清晰视图，展示高低起伏表面的完整细节，结果用于合成全清晰表面图像，展示断口、焊缝或复杂起伏区域的完整细节、宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀等，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
景深合成
沿Z轴采集多焦面图像并合成全清晰视图，展示高低起伏表面的完整细节，采集区域：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图。
景深合成：沿Z轴采集多焦面图像并合成全清晰视图，展示高低起伏表面的完整细节，结果用于合成全清晰表面图像，展示断口、焊缝或复杂起伏区域的完整细节
宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，测量位置按以下方式布置：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图
样品、目标参数和报告用途
样品形式：断口、粗糙表面、焊缝、颗粒层和高低起伏的器件局部
三维景深合成与表面观察检测报告 + 检测数据与图表
三维景深合成与表面观察技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 确定观察方向和表面最高最低位置；2. 设置照明、物镜、Z步距和焦面数量；3. 连续采集完整焦面序列并检查漂移；4. 执行景深合成与必要的大视场拼接；5. 交付全景深图、单层原图、倍率和测区位置
标尺校准
物镜、数码变倍和相机分辨率组合分别校准，测量图保留所用倍率标识，样品资料：注明观察区域、形貌方向、目标细节、倍率和需要保留的整体坐标。
照明一致
金属反光、透明件和纹理表面对照明敏感，批次比对固定光源方向、亮度和白平衡，测量位置：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图。
景深伪影
陡峭边缘和半透明区域可能在合成中产生重影，关键尺寸回看单层原图，对照数据：比较不同区域或处理状态时固定倍率、照明、Z步距和合成算法。
尺寸边缘
阈值、对焦位置和边缘提取方法影响结果，同类尺寸采用统一测量口径，结果解释：陡峭边缘和半透明区域可能出现重影，合成图与原始焦面序列配套交付。
适用产品与样品
三维景深合成与表面观察适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 景深合成：沿Z轴采集多焦面图像并合成全清晰视图，展示高低起伏表面的完整细节，结果用于合成全清晰表面图像，展示断口、焊缝或复杂起伏区域的完整细节
- 宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，测量位置按以下方式布置：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图
- 检测对象：断口、粗糙表面、焊缝、颗粒层和高低起伏的器件局部
- 测量位置：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图
- 数据判读：合成全清晰表面图像，展示断口、焊缝或复杂起伏区域的完整细节
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：断口、粗糙表面、焊缝、颗粒层和高低起伏的器件局部
- 02
制样与装夹：固定样品方向并设置覆盖完整高度范围的Z轴焦面序列
- 03
随样资料：注明观察区域、形貌方向、目标细节、倍率和需要保留的整体坐标
- 04
对照样品：比较不同区域或处理状态时固定倍率、照明、Z步距和合成算法
- 05
位置记录：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图
样品形式：断口、粗糙表面、焊缝、颗粒层和高低起伏的器件局部。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
三维景深合成与表面观察列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供三维景深合成与表面观察技术报告及主要结论、景深合成图、原始焦面序列、大视场拼接图和测区坐标，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
景深合成
沿Z轴采集多焦面图像并合成全清晰视图，展示高低起伏表面的完整细节，采集区域：焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图。
宏观缺陷记录
用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，对照组合：比较不同区域或处理状态时固定倍率、照明、Z步距和合成算法。
图像拼接
将相邻视场按重叠特征拼接为大面积图，保留原始视场与拼接比例，样品资料：注明观察区域、形貌方向、目标细节、倍率和需要保留的整体坐标。
图像留档
按样品编号保存原图、标注图、测量层和拍摄参数，形成可检索的外观档案，数据判读：陡峭边缘和半透明区域可能出现重影，合成图与原始焦面序列配套交付。
标尺校准
物镜、数码变倍和相机分辨率组合分别校准，测量图保留所用倍率标识，并结合陡峭边缘和半透明区域可能出现重影，合成图与原始焦面序列配套交付。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕三维景深合成与表面观察列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：断口、粗糙表面、焊缝、颗粒层和高低起伏的器件局部
完成前处理或制样
根据三维景深合成与表面观察和景深合成、宏观缺陷记录的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用三维景深合成与表面观察按规定参数完成景深合成、宏观缺陷记录和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查景深合成、宏观缺陷记录对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供三维景深合成与表面观察技术报告及主要结论、景深合成图、原始焦面序列、大视场拼接图和测区坐标及约定附件。
标准与方法依据
以下列出三维景深合成与表面观察采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 3 项
报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01三维景深合成与表面观察的景深合成主要给出什么结果？
沿Z轴采集多焦面图像并合成全清晰视图，展示高低起伏表面的完整细节，合成全清晰表面图像，展示断口、焊缝或复杂起伏区域的完整细节。
02三维景深合成与表面观察的景深合成适合检测哪些样品？
断口、粗糙表面、焊缝、颗粒层和高低起伏的器件局部，固定样品方向并设置覆盖完整高度范围的Z轴焦面序列。
03三维景深合成与表面观察的景深合成样品怎样制备？
固定样品方向并设置覆盖完整高度范围的Z轴焦面序列，注明观察区域、形貌方向、目标细节、倍率和需要保留的整体坐标。
04三维景深合成与表面观察的景深合成对照样怎样安排？
比较不同区域或处理状态时固定倍率、照明、Z步距和合成算法，倍率、照明、白平衡、标定和测量规则保持一致。
05三维景深合成与表面观察的景深合成测点怎样布置？
焦面序列从最低结构到最高结构连续覆盖，关键边缘同时保留单层图，固定样品方向并设置覆盖完整高度范围的Z轴焦面序列。
06三维景深合成与表面观察的景深合成怎样控制质量？
陡峭边缘和半透明区域可能出现重影，合成图与原始焦面序列配套交付，倍率、照明、白平衡、标定和测量规则保持一致。
07三维景深合成与表面观察的景深合成报告交付哪些资料？
景深合成图、原始焦面序列、大视场拼接图和测区坐标，注明观察区域、形貌方向、目标细节、倍率和需要保留的整体坐标。
08三维景深合成与表面观察的景深合成结果用于哪些分析？
合成全清晰表面图像，展示断口、焊缝或复杂起伏区域的完整细节，比较不同区域或处理状态时固定倍率、照明、Z步距和合成算法。