检测范围
二维尺寸与几何测量主要检测二维尺寸、宏观缺陷记录，服务对象包括二维尺寸：校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度等、宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀等，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
二维尺寸
校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，采集区域：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜。
二维尺寸：校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，结果用于测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录
宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，测量位置按以下方式布置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
样品、目标参数和报告用途
样品形式：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征
二维尺寸与几何测量检测报告 + 检测数据与图表
二维尺寸与几何测量技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 读取图样基准和公差，确定测量平面与特征；2. 选择物镜并使用标准尺完成像素标定；3. 采集正投影清晰图像和必要的轮廓拼接；4. 按统一边缘规则测量尺寸、角度与位置关系；5. 输出带标尺标注图、尺寸表和校准记录
标尺校准
物镜、数码变倍和相机分辨率组合分别校准，测量图保留所用倍率标识，样品资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
照明一致
金属反光、透明件和纹理表面对照明敏感，批次比对固定光源方向、亮度和白平衡，测量位置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜。
景深伪影
陡峭边缘和半透明区域可能在合成中产生重影，关键尺寸回看单层原图，对照数据：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸。
尺寸边缘
阈值、对焦位置和边缘提取方法影响结果，同类尺寸采用统一测量口径，结果解释：反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
适用产品与样品
二维尺寸与几何测量适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 二维尺寸：校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，结果用于测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录
- 宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，测量位置按以下方式布置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
- 检测对象：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征
- 测量位置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
- 数据判读：测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征
- 02
制样与装夹：稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定
- 03
随样资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号
- 04
对照样品：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸
- 05
位置记录：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
样品形式：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
二维尺寸与几何测量列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供二维尺寸与几何测量技术报告及主要结论、二维尺寸标注图、轮廓坐标、批次尺寸表及倍率校准信息，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
二维尺寸
校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，采集区域：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜。
宏观缺陷记录
用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，对照组合：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸。
图像留档
按样品编号保存原图、标注图、测量层和拍摄参数，形成可检索的外观档案，样品资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
图像拼接
将相邻视场按重叠特征拼接为大面积图，保留原始视场与拼接比例，数据判读：反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
标尺校准
物镜、数码变倍和相机分辨率组合分别校准，测量图保留所用倍率标识，并结合反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕二维尺寸与几何测量列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征
完成前处理或制样
根据二维尺寸与几何测量和二维尺寸、宏观缺陷记录的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用二维尺寸与几何测量按规定参数完成二维尺寸、宏观缺陷记录和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查二维尺寸、宏观缺陷记录对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供二维尺寸与几何测量技术报告及主要结论、二维尺寸标注图、轮廓坐标、批次尺寸表及倍率校准信息及约定附件。
标准与方法依据
以下列出二维尺寸与几何测量采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 1 项
报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01二维尺寸与几何测量的二维尺寸关键参数如何呈现？
校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录。
02二维尺寸与几何测量的二维尺寸送样类型有哪些？
精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征，稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定。
03二维尺寸与几何测量的二维尺寸制样步骤有哪些？
稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定，提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
04二维尺寸与几何测量的二维尺寸比较方案包括什么？
在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸，倍率、照明、白平衡、标定和测量规则保持一致。
05二维尺寸与几何测量的二维尺寸位置分布如何安排？
每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜，稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定。
06二维尺寸与几何测量的二维尺寸质量记录怎样保存？
反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定，倍率、照明、白平衡、标定和测量规则保持一致。
07二维尺寸与几何测量的二维尺寸交付资料怎样组成？
二维尺寸标注图、轮廓坐标、批次尺寸表及倍率校准信息，提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
08二维尺寸与几何测量的二维尺寸能用于哪些应用？
测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录，在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸。