检测范围
粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM主要检测颗粒统计、三维高度图，服务对象包括颗粒统计：依据三维形貌分割颗粒，输出高度、横向尺寸、数量密度和团聚特征，结果用于获得颗粒三维尺寸、数量密度等、三维高度图：在指定扫描范围内记录表面高度矩阵，展示台阶、颗粒、孔洞、划痕和相界，测量位置按以下方式布置：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口等，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
颗粒统计
依据三维形貌分割颗粒，输出高度、横向尺寸、数量密度和团聚特征，采集区域：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面。
颗粒统计：依据三维形貌分割颗粒，输出高度、横向尺寸、数量密度和团聚特征，结果用于获得颗粒三维尺寸、数量密度、团聚形态及多孔表面的纳米起伏
三维高度图：在指定扫描范围内记录表面高度矩阵，展示台阶、颗粒、孔洞、划痕和相界，测量位置按以下方式布置：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面
样品、目标参数和报告用途
样品形式：均匀固定在平整基底上的颗粒、粉体涂布层和具有可达表面的多孔材料
粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM检测报告 + 检测数据与图表
粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 制备稀疏颗粒载片并用光学图检验分散均匀性；2. 校验探针状态并设置兼顾颗粒高度的反馈参数；3. 在多个区域采集高度、振幅和必要相位图；4. 分割完整颗粒并统计高度、等效宽度、数量和团聚；5. 按视场与批次汇总颗粒分布和多孔表面形貌
探针卷积
横向尺寸受探针尖端半径影响，高度信息更接近真实值，颗粒宽度解释附带探针信息，样品资料：记录粉末批次、分散介质、固定方式、粒级、探针半径和扫描面积。
反馈设置
扫描速度、增益和设定点影响跟踪质量，条纹、拖尾与双尖伪影在数据处理前排查，测量位置：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面。
平面处理
去倾斜和逐线校正保留真实波纹与台阶，处理阶数和掩膜区域写入数据记录，对照数据：按粒级、处理条件和批次比较颗粒高度、横向尺寸、团聚与表面粗糙度。
区域代表性
纳米视场与宏观表面差异通过多位置、多尺度图像衔接，统计结果标明总评定面积，结果解释：横向粒径结合探针半径修正，高度和轮廓统计选择未重叠且完整落入视场的颗粒。
适用产品与样品
粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 颗粒统计：依据三维形貌分割颗粒，输出高度、横向尺寸、数量密度和团聚特征，结果用于获得颗粒三维尺寸、数量密度、团聚形态及多孔表面的纳米起伏
- 三维高度图：在指定扫描范围内记录表面高度矩阵，展示台阶、颗粒、孔洞、划痕和相界，测量位置按以下方式布置：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面
- 检测对象：均匀固定在平整基底上的颗粒、粉体涂布层和具有可达表面的多孔材料
- 测量位置：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面
- 数据判读：获得颗粒三维尺寸、数量密度、团聚形态及多孔表面的纳米起伏
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：均匀固定在平整基底上的颗粒、粉体涂布层和具有可达表面的多孔材料
- 02
制样与装夹：稀疏分散颗粒并固定基底，多孔样采用保留孔口原貌的平整截取方式
- 03
随样资料：记录粉末批次、分散介质、固定方式、粒级、探针半径和扫描面积
- 04
对照样品：按粒级、处理条件和批次比较颗粒高度、横向尺寸、团聚与表面粗糙度
- 05
位置记录：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面
样品形式：均匀固定在平整基底上的颗粒、粉体涂布层和具有可达表面的多孔材料。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论、多视场高度图、颗粒尺寸与数量统计、团聚分布和探针卷积说明，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
颗粒统计
依据三维形貌分割颗粒，输出高度、横向尺寸、数量密度和团聚特征，采集区域：颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面。
三维高度图
在指定扫描范围内记录表面高度矩阵，展示台阶、颗粒、孔洞、划痕和相界，对照组合：按粒级、处理条件和批次比较颗粒高度、横向尺寸、团聚与表面粗糙度。
粗糙度参数
经平面校正和线形处理后计算Sa、Sq、Sz或线粗糙度，并标明评定面积，样品资料：记录粉末批次、分散介质、固定方式、粒级、探针半径和扫描面积。
相位与材料差异
在轻敲模式下同步采集相位或振幅图，识别不同粘弹、附着或组分区域，数据判读：横向粒径结合探针半径修正，高度和轮廓统计选择未重叠且完整落入视场的颗粒。
探针卷积
横向尺寸受探针尖端半径影响，高度信息更接近真实值，颗粒宽度解释附带探针信息，并结合横向粒径结合探针半径修正，高度和轮廓统计选择未重叠且完整落入视场的颗粒。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：均匀固定在平整基底上的颗粒、粉体涂布层和具有可达表面的多孔材料
完成前处理或制样
根据粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM和颗粒统计、三维高度图的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM按规定参数完成颗粒统计、三维高度图和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查颗粒统计、三维高度图对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论、多视场高度图、颗粒尺寸与数量统计、团聚分布和探针卷积说明及约定附件。
标准与方法依据
以下列出粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 4 项
粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM的方法选择、样品处理、仪器条件、质量控制和结果表达应与采用标准的适用范围保持一致。
ISO 11952:2019《扫描探针显微镜几何量测量系统校准》可作为该分析方法的质量要求参考，项目按客户指定版本和实验室确认结果执行。
ISO 11952:2019—扫描探针显微镜几何量测量系统校准粉末、颗粒与多孔材料原子力显微镜 AFM的方法选择、样品处理、仪器条件、质量控制和结果表达应与采用标准的适用范围保持一致。
ISO 11039:2012《扫描探针显微镜漂移速率测量》可作为该分析方法的质量要求参考，项目按客户指定版本和实验室确认结果执行。
ISO 11039:2012—扫描探针显微镜漂移速率测量报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计能量化哪些参数？
依据三维形貌分割颗粒，输出高度、横向尺寸、数量密度和团聚特征，获得颗粒三维尺寸、数量密度、团聚形态及多孔表面的纳米起伏。
02粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计哪些样品材料适合送检？
均匀固定在平整基底上的颗粒、粉体涂布层和具有可达表面的多孔材料，稀疏分散颗粒并固定基底，多孔样采用保留孔口原貌的平整截取方式。
03粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计装夹前怎样制备样品？
稀疏分散颗粒并固定基底，多孔样采用保留孔口原貌的平整截取方式，记录粉末批次、分散介质、固定方式、粒级、探针半径和扫描面积。
04粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计对照测量怎么安排？
按粒级、处理条件和批次比较颗粒高度、横向尺寸、团聚与表面粗糙度，探针、模式、扫描范围、速度和反馈参数保持一致。
05粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计测点如何编号？
颗粒统计使用多个不重叠视场，多孔样分别扫描孔口、孔壁可达区和基体平面，稀疏分散颗粒并固定基底，多孔样采用保留孔口原貌的平整截取方式。
06粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计质量检查包括什么？
横向粒径结合探针半径修正，高度和轮廓统计选择未重叠且完整落入视场的颗粒，探针、模式、扫描范围、速度和反馈参数保持一致。
07粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计报告结果怎样呈现？
交付多视场高度图、颗粒尺寸与数量统计、团聚分布和探针卷积说明，记录粉末批次、分散介质、固定方式、粒级、探针半径和扫描面积。
08粉末、颗粒与多孔材料的颗粒统计数据可用于哪些决策？
获得颗粒三维尺寸、数量密度、团聚形态及多孔表面的纳米起伏，按粒级、处理条件和批次比较颗粒高度、横向尺寸、团聚与表面粗糙度。