检测范围
电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM主要检测力-距离曲线、黏附力，服务对象包括力-距离曲线：按固定加载范围和速率保存接近、接触、加载及回撤全过程原始曲线，结果用于获得局部黏附力、形变响应或表观模量分布，并与表面结构位置对应、黏附力：由回撤段脱离峰计算局部黏附力，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
力-距离曲线
按固定加载范围和速率保存接近、接触、加载及回撤全过程原始曲线。
力-距离曲线：按固定加载范围和速率保存接近、接触、加载及回撤全过程原始曲线，结果用于获得局部黏附力、形变响应或表观模量分布，并与表面结构位置对应
黏附力：由回撤段脱离峰计算局部黏附力，并与界面两侧和正常区域进行比较，测量位置按以下方式布置：力曲线点阵配准到高度图与相位图，覆盖界面两侧及相邻平整基准区
样品、目标参数和报告用途
样品形式：芯片钝化层、电极涂层、正负极片、隔膜、固态电解质表面、聚合物复合界面和局部器件功能区
电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM检测报告 + 检测数据与图表
电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 用高度和相位预扫描定位器件功能区与材料界面；2. 标定探针挠度灵敏度、弹簧常数和尖端接触条件；3. 按固定加载范围与速率采集单点或点阵力距离曲线；4. 扣除基线并计算黏附、压入深度或模型拟合参数；5. 将力学参数图配准到形貌图并保存每条原始曲线
探针标定
挠度灵敏度和弹簧常数在力学测量前完成标定并随曲线交付。
接触模型
模量拟合根据探针几何、泊松比、黏附和基底条件选择模型。
加载程序
加载范围、速率、保持时间和点阵间距在各对照区域保持一致。
曲线质量
每条力曲线保留基线、接触点、拟合区间和回撤段，异常曲线按规则标记。
适用产品与样品
电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 力-距离曲线：按固定加载范围和速率保存接近、接触、加载及回撤全过程原始曲线，结果用于获得局部黏附力、形变响应或表观模量分布，并与表面结构位置对应
- 黏附力：由回撤段脱离峰计算局部黏附力，并与界面两侧和正常区域进行比较，测量位置按以下方式布置：力曲线点阵配准到高度图与相位图，覆盖界面两侧及相邻平整基准区
- 检测对象：芯片钝化层、电极涂层、正负极片、隔膜、固态电解质表面、聚合物复合界面和局部器件功能区
- 测量位置：力曲线点阵配准到高度图与相位图，覆盖界面两侧及相邻平整基准区
- 数据判读：获得局部黏附力、形变响应或表观模量分布，并与表面结构位置对应
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：芯片钝化层、电极涂层、正负极片、隔膜、固态电解质表面、聚合物复合界面和局部器件功能区
- 02
制样与装夹：清洁目标区并牢固固定；导电模式建立电连接，软材料按空气、控湿或液体环境记录测试状态
- 03
随样资料：记录器件位置、材料层序、循环或载荷状态、探针弹簧常数、挠度灵敏度和加载速率
- 04
对照样品：在正常区、异常区和不同材料相区使用同一力学程序采集力距离曲线
- 05
位置记录：力曲线点阵配准到高度图与相位图，覆盖界面两侧及相邻平整基准区
样品形式：芯片钝化层、电极涂层、正负极片、隔膜等。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论、原始力距离曲线、标定记录、黏附或模量参数图、形貌配准和测点坐标，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
力-距离曲线
按固定加载范围和速率保存接近、接触、加载及回撤全过程原始曲线。
黏附力
由回撤段脱离峰计算局部黏附力，并与界面两侧和正常区域进行比较。
形变响应
依据加载段、回撤段和残余压入深度描述软层或复合界面的局部变形。
表观模量
采用与探针几何和材料接触条件匹配的模型拟合表观模量，同时保存拟合区间。
力学参数图
将点阵力曲线的黏附、形变或模量结果配准到同一区域高度图。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：芯片钝化层、电极涂层、正负极片、隔膜、固态电解质表面、聚合物复合界面和局部器件功能区
完成前处理或制样
根据电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM和力-距离曲线、黏附力的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM按规定参数完成力-距离曲线、黏附力和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查力-距离曲线、黏附力对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论、原始力距离曲线、标定记录、黏附或模量参数图、形貌配准和测点坐标及约定附件。
标准与方法依据
以下列出电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 5 项
电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM的方法选择、样品处理、仪器条件、质量控制和结果表达应与采用标准的适用范围保持一致。
ISO 11952:2019《扫描探针显微镜几何量测量系统校准》可作为该分析方法的质量要求参考，项目按客户指定版本和实验室确认结果执行。
ISO 11952:2019—扫描探针显微镜几何量测量系统校准电子器件、电池与复合材料原子力显微镜 AFM的方法选择、样品处理、仪器条件、质量控制和结果表达应与采用标准的适用范围保持一致。
ISO 11039:2012《扫描探针显微镜漂移速率测量》可作为该分析方法的质量要求参考，项目按客户指定版本和实验室确认结果执行。
ISO 11039:2012—扫描探针显微镜漂移速率测量报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01电子器件、电池与复合材料的力曲线能获得哪些结果？
在目标点采集力-距离曲线，经过探针弹簧常数和挠度灵敏度标定后，给出黏附力、形变响应或表观模量，并与表面结构位置配准。
02电子器件、电池与复合材料的力曲线可接收哪些样品？
芯片钝化层、电极涂层、正负极片、隔膜、固态电解质表面、聚合物复合界面和局部器件功能区，清洁目标区并牢固固定；导电模式建立电连接，软材料按空气、控湿或液体环境记录测试状态。
03电子器件、电池与复合材料的力曲线送样前需要记录什么？
清洁目标区并牢固固定；导电模式建立电连接，软材料按空气、控湿或液体环境记录测试状态，记录器件位置、材料层序、循环或载荷状态、探针弹簧常数、挠度灵敏度和加载速率。
04电子器件、电池与复合材料的力曲线参照条件如何保持？
在正常区、异常区和不同材料相区使用同一力学程序采集力距离曲线，探针、模式、扫描范围、速度和反馈参数保持一致。
05电子器件、电池与复合材料的力曲线重复测量选哪些位置？
力曲线点阵配准到高度图与相位图，覆盖界面两侧及相邻平整基准区，清洁目标区并牢固固定；导电模式建立电连接，软材料按空气、控湿或液体环境记录测试状态。
06电子器件、电池与复合材料的力曲线数据质量如何检查？
力学结果使用完成标定的探针与明确接触模型，原始力曲线、基线和拟合区间随参数图保存，探针、模式、扫描范围、速度和反馈参数保持一致。
07电子器件、电池与复合材料的力曲线结果文件有哪些？
交付原始力距离曲线、标定记录、黏附或模量参数图、形貌配准和测点坐标，记录器件位置、材料层序、循环或载荷状态、探针弹簧常数、挠度灵敏度和加载速率。
08电子器件、电池与复合材料的力曲线结果可用于哪些应用？
获得局部黏附力、形变响应或表观模量分布，并与表面结构位置对应，在正常区、异常区和不同材料相区使用同一力学程序采集力距离曲线。