检测范围
金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM主要检测三维高度形貌、粗糙度参数，服务对象包括三维高度形貌：在金属抛光面、磨痕或目标相区采集原始高度矩阵、粗糙度参数：完成平面校正后计算Sa、Sq、Sz及轮廓参数，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
三维高度形貌
在金属抛光面、磨痕或目标相区采集原始高度矩阵，呈现微观起伏与表面纹理。
三维高度形貌：在金属抛光面、磨痕或目标相区采集原始高度矩阵，呈现微观起伏与表面纹理，结果用于测量金属表面三维形貌、纳米粗糙度、磨痕或缺陷深度以及不同区域的相位响应
粗糙度参数：完成平面校正后计算Sa、Sq、Sz及轮廓参数，保留评定面积和滤波设置，测量位置按以下方式布置：扫描覆盖平整代表区、磨痕边缘和相界，两级视场用于连接微观与宏观位置
样品、目标参数和报告用途
样品形式：表面平整可达的金属抛光面、金相截面、磨痕、裂纹尖端附近区域、腐蚀坑边缘和平整断口局部
金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM检测报告 + 检测数据与图表
金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 用光学图确定平整目标区并标记加工与扫描方向；2. 选择适合表面硬度的探针和轻敲或接触成像模式；3. 由大视场定位到小视场采集原始高度与相位数据；4. 实施去倾斜、截面提取和粗糙度计算并检查伪影；5. 输出高度矩阵、三维图、参数表和扫描位置照片
探针半径
横向宽度结合探针半径解释，高度与粗糙度使用原始高度矩阵计算。
平面校正
去倾斜与逐线校正保留真实台阶和波纹，处理阶数写入数据记录。
扫描伪影
正反向扫描和重复视场用于识别反馈条纹、拖尾与双尖伪影。
适用产品与样品
金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 三维高度形貌：在金属抛光面、磨痕或目标相区采集原始高度矩阵，呈现微观起伏与表面纹理，结果用于测量金属表面三维形貌、纳米粗糙度、磨痕或缺陷深度以及不同区域的相位响应
- 粗糙度参数：完成平面校正后计算Sa、Sq、Sz及轮廓参数，保留评定面积和滤波设置，测量位置按以下方式布置：扫描覆盖平整代表区、磨痕边缘和相界，两级视场用于连接微观与宏观位置
- 检测对象：表面平整可达的金属抛光面、金相截面、磨痕、裂纹尖端附近区域、腐蚀坑边缘和平整断口局部
- 测量位置：扫描覆盖平整代表区、磨痕边缘和相界，两级视场用于连接微观与宏观位置
- 数据判读：测量金属表面三维形貌、纳米粗糙度、磨痕或缺陷深度以及不同区域的相位响应
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：表面平整可达的金属抛光面、金相截面、磨痕、裂纹尖端附近区域、腐蚀坑边缘和平整断口局部
- 02
制样与装夹：轻柔去除浮尘并牢固固定样片，记录加工方向、缺陷方位和扫描区域
- 03
随样资料：记录牌号、表面处理、抛光制度、扫描方向、探针型号、模式和扫描范围
- 04
对照样品：以相同探针与反馈条件比较基体、强化区、磨痕和不同相区的表面高度
- 05
位置记录：扫描覆盖平整代表区、磨痕边缘和相界，两级视场用于连接微观与宏观位置
样品形式：表面平整可达的金属抛光面、金相截面、磨痕、裂纹尖端附近区域等。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论、原始高度矩阵、三维形貌、粗糙度、台阶或相位图及探针参数，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
三维高度形貌
在金属抛光面、磨痕或目标相区采集原始高度矩阵，呈现微观起伏与表面纹理。
粗糙度参数
完成平面校正后计算Sa、Sq、Sz及轮廓参数，保留评定面积和滤波设置。
磨痕与局部轮廓
沿加工或磨损方向提取多条截面，比较沟槽深度、边缘堆积和相邻基体。
相区形貌差异
将高度与相位通道配准到金相位置，描述不同组织区域的形貌和黏附响应差异。
扫描质量控制
探针状态、反馈参数、扫描方向与重复视场共同用于识别条纹、拖尾和双尖伪影。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：表面平整可达的金属抛光面、金相截面、磨痕、裂纹尖端附近区域、腐蚀坑边缘和平整断口局部
完成前处理或制样
根据金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM和三维高度形貌、粗糙度参数的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM按规定参数完成三维高度形貌、粗糙度参数和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查三维高度形貌、粗糙度参数对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM技术报告及主要结论、原始高度矩阵、三维形貌、粗糙度、台阶或相位图及探针参数及约定附件。
标准与方法依据
以下列出金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 4 项
金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM的方法选择、样品处理、仪器条件、质量控制和结果表达应与采用标准的适用范围保持一致。
ISO 11952:2019《扫描探针显微镜几何量测量系统校准》可作为该分析方法的质量要求参考，项目按客户指定版本和实验室确认结果执行。
ISO 11952:2019—扫描探针显微镜几何量测量系统校准金属组织、断口与缺陷原子力显微镜 AFM的方法选择、样品处理、仪器条件、质量控制和结果表达应与采用标准的适用范围保持一致。
ISO 11039:2012《扫描探针显微镜漂移速率测量》可作为该分析方法的质量要求参考，项目按客户指定版本和实验室确认结果执行。
ISO 11039:2012—扫描探针显微镜漂移速率测量报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01金属组织、断口与缺陷的三维高度图结果图包含什么？
在指定扫描范围内记录表面高度矩阵，展示台阶、颗粒、孔洞、划痕和相界，测量金属表面三维形貌、纳米粗糙度、磨痕或缺陷深度以及不同区域的相位响应。
02金属组织、断口与缺陷的三维高度图适用哪些送样形式？
表面平整可达的金属抛光面、金相截面、磨痕、裂纹尖端附近区域、腐蚀坑边缘和平整断口局部，轻柔去除浮尘并牢固固定样片，记录加工方向、缺陷方位和扫描区域。
03金属组织、断口与缺陷的三维高度图制样信息怎样记录？
轻柔去除浮尘并牢固固定样片，记录加工方向、缺陷方位和扫描区域，记录牌号、表面处理、抛光制度、扫描方向、探针型号、模式和扫描范围。
04金属组织、断口与缺陷的三维高度图对照基准样怎样设置？
以相同探针与反馈条件比较基体、强化区、磨痕和不同相区的表面高度，探针、模式、扫描范围、速度和反馈参数保持一致。
05金属组织、断口与缺陷的三维高度图重点位置如何选择？
扫描覆盖平整代表区、磨痕边缘和相界，两级视场用于连接微观与宏观位置，轻柔去除浮尘并牢固固定样片，记录加工方向、缺陷方位和扫描区域。
06金属组织、断口与缺陷的三维高度图参数怎样形成记录？
横向尺寸结合探针半径评价，高度、台阶与粗糙度由原始高度矩阵计算，探针、模式、扫描范围、速度和反馈参数保持一致。
07金属组织、断口与缺陷的三维高度图会提供哪些数据文件？
交付原始高度矩阵、三维形貌、粗糙度、台阶或相位图及探针参数，记录牌号、表面处理、抛光制度、扫描方向、探针型号、模式和扫描范围。
08金属组织、断口与缺陷的三维高度图结果如何用于改进？
测量金属表面三维形貌、纳米粗糙度、磨痕或缺陷深度以及不同区域的相位响应，以相同探针与反馈条件比较基体、强化区、磨痕和不同相区的表面高度。