检测范围
测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录，其中校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标。反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
二维尺寸
校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，采集区域：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜。
对象与条件
二维尺寸：校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，结果用于测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录 宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，测量位置按以下方式布置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜 检测对象：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征 测量位置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜 数据判读：测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录
需要注意的限制
二维尺寸与几何测量结果单个视场对应具体测区，整批和整体结构增加代表性测点；三维结构采用三维方法评价，并记录制样、真空、束流和图像阈值 二维尺寸与几何测量结果观察结果与实际取样位置和视场对应；三维结构采用三维方法评价，图像统计同步记录阈值及束流、真空、切割和抛光条件。 二维尺寸与几何测量结果对应实际收到的样品、采用的数字显微镜与视频测量条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 读取图样基准和公差，确定测量平面与特征；2. 选择物镜并使用标准尺完成像素标定；3. 采集正投影清晰图像和必要的轮廓拼接；4. 按统一边缘规则测量尺寸、角度与位置关系；5. 输出带标尺标注图、尺寸表和校准记录
标尺校准
物镜、数码变倍和相机分辨率组合分别校准，测量图保留所用倍率标识，样品资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
照明一致
金属反光、透明件和纹理表面对照明敏感，批次比对固定光源方向、亮度和白平衡，测量位置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜。
景深伪影
陡峭边缘和半透明区域可能在合成中产生重影，关键尺寸回看单层原图，对照数据：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸。
尺寸边缘
阈值、对焦位置和边缘提取方法影响结果，同类尺寸采用统一测量口径，结果解释：反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
适用产品与样品
二维尺寸与几何测量适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 二维尺寸：校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，结果用于测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录
- 宏观缺陷记录：用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，测量位置按以下方式布置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
- 检测对象：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征
- 测量位置：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
- 数据判读：测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征
- 02
制样与装夹：稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定
- 03
随样资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号
- 04
对照样品：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸
- 05
位置记录：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
样品形式：精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征 制样与装夹：稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定 随样资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号 对照样品：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸 位置记录：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜
二维尺寸与几何测量技术报告及主要结论 二维尺寸标注图、轮廓坐标、批次尺寸表及倍率校准信息 原始资料：二维尺寸数据；提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号 位置资料：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜 对照资料：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸
检测项目
二维尺寸
校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，采集区域：每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜。
宏观缺陷记录
用连续倍率图像记录裂纹源、断口区、碰伤、腐蚀、毛刺和异物的整体位置，对照组合：在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸。
图像留档
按样品编号保存原图、标注图、测量层和拍摄参数，形成可检索的外观档案，样品资料：提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
图像拼接
将相邻视场按重叠特征拼接为大面积图，保留原始视场与拼接比例，数据判读：反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
标尺校准
物镜、数码变倍和相机分辨率组合分别校准，测量图保留所用倍率标识，并结合反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
报告和检测数据
二维尺寸与几何测量结果单个视场对应具体测区，整批和整体结构增加代表性测点；三维结构采用三维方法评价，并记录制样、真空、束流和图像阈值
二维尺寸与几何测量结果观察结果与实际取样位置和视场对应；三维结构采用三维方法评价，图像统计同步记录阈值及束流、真空、切割和抛光条件。
二维尺寸与几何测量结果对应实际收到的样品、采用的数字显微镜与视频测量条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01二维尺寸与几何测量的二维尺寸关键参数如何呈现？
校准像素比例后测量长度、宽度、直径、角度、间距、圆度及轮廓坐标，测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录。
02二维尺寸与几何测量的二维尺寸送样类型有哪些？
精密零件、孔槽、齿形、连接器和可直接成像的平面几何特征，稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定。
03二维尺寸与几何测量的二维尺寸制样步骤有哪些？
稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定，提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
04二维尺寸与几何测量的二维尺寸比较方案包括什么？
在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸，倍率、照明、白平衡、标定和测量规则保持一致。
05二维尺寸与几何测量的二维尺寸位置分布如何安排？
每项尺寸保留基准线、测点、轮廓和原始图，圆周或角度特征完整入镜，稳定放置待测特征，使测量平面与光轴垂直并完成对应倍率的像素标定。
06二维尺寸与几何测量的二维尺寸质量记录怎样保存？
反光边缘和景深不足会改变边缘位置，照明、对焦与阈值在同批中固定，倍率、照明、白平衡、标定和测量规则保持一致。
07二维尺寸与几何测量的二维尺寸交付资料怎样组成？
二维尺寸标注图、轮廓坐标、批次尺寸表及倍率校准信息，提供尺寸名称、图样基准、名义值、公差、测量方向和样品编号。
08二维尺寸与几何测量的二维尺寸能用于哪些应用？
测量长度、直径、角度、间距、圆度和二维轮廓，形成图像化尺寸记录，在统一标定与边缘提取规则下测量多个位置或同批零件的几何尺寸。