本页说明
ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》由ASTM International发布，适用于偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
适用对象与条件
- ASTM E883-11(2024)用于偏光、荧光与体视显微的反射光显微摄影、宏观摄影和电子图像记录。
- ASTM E883-11(2024)用于宏观缺陷与断口记录的反射光显微摄影、宏观摄影和电子图像记录。
- ASTM E883-11(2024)用于批次外观比对与图像留档的反射光显微摄影、宏观摄影和电子图像记录。
- 偏光、荧光与体视显微的标准方法实施与数据记录
- 宏观缺陷与断口记录的标准方法实施与数据记录
- 批次外观比对与图像留档的标准方法实施与数据记录
- ASTM E883-11(2024)对应的样品类型、制样过程与测量条件
- ASTM E883-11(2024)规定的仪器校准、标准样或对照样质量控制
主要要求与方法
形貌与缺陷观察
ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》在偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档中按具体对象落实方法步骤和技术参数
取样与样品处理
登记样品、制样过程、仪器型号、测量程序和实际采集参数
质量控制
关联校准核查、标准样或对照样、原始图谱、图像、曲线及计算过程
补充质量控制
按ASTM E883-11(2024)整理质量控制、重复结果、数据处理过程和报告记录
方法、条件与注意事项
标准概况
ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》由ASTM International发布，适用于偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档，标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
技术应用
- ASTM E883-11(2024)用于偏光、荧光与体视显微的反射光显微摄影、宏观摄影和电子图像记录。 - ASTM E883-11(2024)用于宏观缺陷与断口记录的反射光显微摄影、宏观摄影和电子图像记录。 - ASTM E883-11(2024)用于批次外观比对与图像留档的反射光显微摄影、宏观摄影和电子图像记录。
相关仪器项目
ASTM E883-11(2024)关联以下仪器测试项目： - [偏光、荧光与体视显微](/services/instrument-testing/morphology-imaging/optical-microscopy-and-metallography/polarised-fluorescence-and-stereo-microscopy) - [宏观缺陷与断口记录](/services/instrument-testing/morphology-imaging/digital-microscopy-and-video-measurement/macro-defect-and-fracture-documentation) - [批次外观比对与图像留档](/services/instrument-testing/morphology-imaging/digital-microscopy-and-video-measurement/batch-appearance-comparison-and-image-records)
方法实施与原始记录
偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档按ASTM E883-11(2024)记录样品与制样信息、仪器型号、测量程序、实际采集参数、校准核查、原始数据和计算结果。
样品与项目信息
提交样品名称、材质或组成、型号、批次、数量、取样位置和报告用途；标明ASTM E883-11(2024)项目的待测参数、样品状态和已有技术资料；按Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography对应对象完成样品包装、标识、保存和运输；将样品编号与批次、取样位置、前处理记录和报告用途逐项对应。样品编号与测量位置、前处理过程、批次和原始记录保持对应。
数据与质量控制
Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography的数据质量控制围绕偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档展开：光谱、图像、曲线或数值结果分别归档，并按ASTM E883-11(2024)关联仪器状态、校准核查、标准样、平行样、重复结果和项目原始数据。
报告与交付
ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》实施信息与偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档实测结果；样品信息、仪器条件、测量参数和质量控制记录；原始光谱、图像、曲线或数值结果及报告结论；ASTM E883-11(2024)项目的数据处理、重复结果和标准应用记录。报告标明ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》、实际仪器项目、样品信息、方法条件和实测结果。
官方来源
ASTM International发布了ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》，[查看该标准的官方发布记录](https://store.astm.org/e0883-11r24.html)。
需要结合哪些资料
- ASTM E883-11(2024)对应的代表性样品、批次样品和指定测量位置；偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档对应的代表性样品、平行样、对照样和项目资料
参考依据与来源
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》由ASTM International发布。
标准编号：ASTM E883-11(2024)；标准名称：Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography；发布机构：ASTM International。
ASTM International结果怎样使用
- ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》实施信息与偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档实测结果
- 样品信息、仪器条件、测量参数和质量控制记录
- 原始光谱、图像、曲线或数值结果及报告结论
- ASTM E883-11(2024)项目的数据处理、重复结果和标准应用记录
使用结果时需要结合的事项
- 偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档的方法实施记录；Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography对应的研发与质量控制；ASTM E883-11(2024)项目的批次比较与结果复核
标准使用常见问题
01ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography包括哪些检测内容？
ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography的主要内容包括ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》在偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档中按具体对象落实方法步骤和技术参数。 ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography项目表按样品形态、目标参数和报告用途列出测量项目、测试条件、重复次数、质量控制及数据处理要求。
02ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography需要提供哪些样品和资料？
送样包括ASTM E883-11(2024)对应的代表性样品、批次样品和指定测量位置，并按批次、状态和取样位置分别编号。 ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography样品清单标明名称、型号、批次、取样位置、数量、状态、保存条件和处理历史，对比项目同时提交正常样、异常样或不同批次样。
03ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography采用什么标准和方法？
主要依据为ASTM E883-11(2024)，检测方法包括ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》在偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档中按具体对象落实方法步骤和技术参数。 ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography委托确认单记录标准编号、版本、产品规范、样品条件和判定要求，多种方法联合使用时分别记录原始数据和质量控制。
04ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography报告包含哪些内容？
主要交付ASTM E883-11(2024)《Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography》实施信息与偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档实测结果，内容包含样品、方法、数据和判定依据。 ASTM E883-11(2024) Standard Guide for Reflected-Light Photomicrography报告列明样品、方法、条件、实测数据、计算结果和判定依据，可用于偏光、荧光与体视显微、宏观缺陷与断口记录、批次外观比对与图像留档的方法实施记录，图谱、照片、原始数据或英文信息按委托要求附入。