检测范围
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS主要检测表面质谱、化学成像，服务对象包括化学成像：选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，结果用于定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布等、表面质谱：按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，测量位置按以下方式布置：化学成像覆盖颗粒等，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
表面质谱
按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，采集区域：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区。
化学成像：选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，结果用于定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪
表面质谱：按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，测量位置按以下方式布置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
样品、目标参数和报告用途
样品形式：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS检测报告 + 检测数据与图表
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS技术报告及主要结论
项目技术要点
实施流程
1. 确认电极状态、目标物种和同位素峰；2. 设置一次离子、正负极性、质量范围和低剂量条件；3. 采集表面质谱与颗粒尺度化学成像；4. 按任务进行深度剖析或同位素分布计算；5. 交付离子峰表、二维分布、深度或示踪结果和状态记录
基质效应
二次离子产额受基体和化学环境影响，信号强度用于同基体对比或经标准样校准的定量，样品资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
质量分辨
同量异位离子和分子碎片通过高质量分辨、同位素模式与候选峰联合识别，测量位置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区。
静态剂量
表面分子信息采用低一次离子剂量，深度分析则记录溅射束、循环和分析束剂量，对照数据：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布。
深度换算
溅射时间通过台阶深度或参考层厚换算，层间溅射率差和粗糙化影响写入曲线说明，结果解释：空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件。
适用产品与样品
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 化学成像：选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，结果用于定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪
- 表面质谱：按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，测量位置按以下方式布置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
- 检测对象：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域
- 测量位置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
- 数据判读：定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域
- 02
制样与装夹：按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向
- 03
随样资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标
- 04
对照样品：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布
- 05
位置记录：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
样品形式：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS技术报告及主要结论、电极TOF-SIMS质谱、离子成像、深度分布或同位素示踪数据，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
表面质谱
按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，采集区域：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区。
化学成像
选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，对照组合：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布。
深度剖析
交替溅射与分析循环，获得多层膜、氧化层、扩散区和界面离子强度曲线，样品资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
同位素追踪
根据同位素质量差和丰度比观察标记物扩散、交换反应或来源差异，数据判读：空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件。
正常异常对照
在未失效区和异常区使用一致剂量、质量范围和视场，比较特征离子峰及分布，应用方向：定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
样品形式：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域
完成前处理或制样
根据电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS和表面质谱、化学成像的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS按规定参数完成表面质谱、化学成像和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查表面质谱、化学成像对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS技术报告及主要结论、电极TOF-SIMS质谱、离子成像、深度分布或同位素示踪数据及约定附件。
标准与方法依据
以下列出电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 1 项
报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01电池、电极与催化材料的化学成像主要给出什么结果？
选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪。
02电池、电极与催化材料的化学成像适合检测哪些样品？
电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域，按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向。
03电池、电极与催化材料的化学成像样品怎样制备？
按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向，记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
04电池、电极与催化材料的化学成像对照样怎样安排？
比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布，一次离子、剂量、极性、质量范围、视场和溅射循环保持一致。
05电池、电极与催化材料的化学成像测点怎样布置？
化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区，按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向。
06电池、电极与催化材料的化学成像怎样控制质量？
空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件，一次离子、剂量、极性、质量范围、视场和溅射循环保持一致。
07电池、电极与催化材料的化学成像报告交付哪些资料？
电极TOF-SIMS质谱、离子成像、深度分布或同位素示踪数据，记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
08电池、电极与催化材料的化学成像结果用于哪些分析？
定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪，比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布。