检测范围
定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪，其中选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区。空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件。
表面质谱
按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，采集区域：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区。
对象与条件
化学成像：选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，结果用于定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪 表面质谱：按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，测量位置按以下方式布置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区 检测对象：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域 测量位置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区 数据判读：定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪
需要注意的限制
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行 电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS结果报告列明各技术的信息深度和横向分辨率，并记录离子刻蚀、表面清洁、测试时间和模型拟合对结果的影响。 电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS结果对应实际收到的样品、采用的二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 确认电极状态、目标物种和同位素峰；2. 设置一次离子、正负极性、质量范围和低剂量条件；3. 采集表面质谱与颗粒尺度化学成像；4. 按任务进行深度剖析或同位素分布计算；5. 交付离子峰表、二维分布、深度或示踪结果和状态记录
基质效应
二次离子产额受基体和化学环境影响，信号强度用于同基体对比或经标准样校准的定量，样品资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
质量分辨
同量异位离子和分子碎片通过高质量分辨、同位素模式与候选峰联合识别，测量位置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区。
静态剂量
表面分子信息采用低一次离子剂量，深度分析则记录溅射束、循环和分析束剂量，对照数据：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布。
深度换算
溅射时间通过台阶深度或参考层厚换算，层间溅射率差和粗糙化影响写入曲线说明，结果解释：空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件。
适用产品与样品
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 化学成像：选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，结果用于定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪
- 表面质谱：按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，测量位置按以下方式布置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
- 检测对象：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域
- 测量位置：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
- 数据判读：定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域
- 02
制样与装夹：按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向
- 03
随样资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标
- 04
对照样品：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布
- 05
位置记录：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
样品形式：电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域 制样与装夹：按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向 随样资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标 对照样品：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布 位置记录：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS技术报告及主要结论 电极TOF-SIMS质谱、离子成像、深度分布或同位素示踪数据 原始资料：化学成像数据；记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标 位置资料：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区 对照资料：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布
检测项目
表面质谱
按飞行时间分离二次离子并采集正、负离子全谱，识别元素、同位素、分子碎片及特征簇离子，采集区域：化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区。
化学成像
选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，对照组合：比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布。
深度剖析
交替溅射与分析循环，获得多层膜、氧化层、扩散区和界面离子强度曲线，样品资料：记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
同位素追踪
根据同位素质量差和丰度比观察标记物扩散、交换反应或来源差异，数据判读：空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件。
正常异常对照
在未失效区和异常区使用一致剂量、质量范围和视场，比较特征离子峰及分布，应用方向：定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
报告和检测数据
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS结果报告列明各技术的信息深度和横向分辨率，并记录离子刻蚀、表面清洁、测试时间和模型拟合对结果的影响。
电池、电极与催化材料二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS结果对应实际收到的样品、采用的二次离子质谱 SIMS/TOF-SIMS条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01电池、电极与催化材料的化学成像主要给出什么结果？
选择目标离子峰生成二维分布图，定位微量污染、添加剂、腐蚀产物和相区，定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪。
02电池、电极与催化材料的化学成像适合检测哪些样品？
电极片、催化层、活性颗粒和循环或反应后的表面区域，按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向。
03电池、电极与催化材料的化学成像样品怎样制备？
按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向，记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
04电池、电极与催化材料的化学成像对照样怎样安排？
比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布，一次离子、剂量、极性、质量范围、视场和溅射循环保持一致。
05电池、电极与催化材料的化学成像测点怎样布置？
化学成像覆盖颗粒、粘结相和集流体界面；深度序列位于均匀涂层区，按荷电或反应状态密闭转移，将目标表面稳定固定并保留方向。
06电池、电极与催化材料的化学成像怎样控制质量？
空气敏感状态使用密闭转移，定量比较限于同基体或具有校准样的条件，一次离子、剂量、极性、质量范围、视场和溅射循环保持一致。
07电池、电极与催化材料的化学成像报告交付哪些资料？
电极TOF-SIMS质谱、离子成像、深度分布或同位素示踪数据，记录配方、循环节点、荷电状态、同位素标记、反应气氛、转移和异常坐标。
08电池、电极与催化材料的化学成像结果用于哪些分析？
定位电极和催化材料中的表面物种、添加剂分布、界面迁移与同位素示踪，比较新鲜与循环后电极，或标记与未标记样中的特征离子和同位素分布。