检测范围
未知物结构解析与候选筛选主要检测未知物结构解析、候选物验证，服务对象包括未知物结构解析与候选筛选采用的技术原理为：联合谱库、碎片、官能团、元素等、未知物结构解析与候选筛选适用样品包括未知粉末、液体、聚合物、污染物等，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
未知物结构解析
未知物结构解析与候选筛选中，未知物结构解析按以下内容记录：综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把未知物结构解析结果与候选物验证按样品、测点和程序节点排列。
未知物结构解析与候选筛选采用的技术原理为：联合谱库、碎片、官能团、元素、物相和多变量特征解析未知物，并用独立仪器或方法复核结论。综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设，使用标准品、保留时间或特征离子检查候选。
未知物结构解析与候选筛选适用样品包括未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样。按样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法建立样品组和测量节点；保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样，测区和方向与未知物结构解析数据对应。
样品、目标参数和报告用途
未知物结构解析与候选筛选样品范围：未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。
未知物结构解析与候选筛选检测报告 + 检测数据与图表
未知物结构解析与候选筛选技术报告列出谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论，并说明未知物结构解析和候选物验证的测量条件与结果。
项目技术要点
实施流程
1. 未知物结构解析与候选筛选方案设计：依据样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法设计红外拉曼检索与质谱库检索的测量组合；2. 未知物结构解析与候选筛选样品制备：保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样，并为未知物结构解析标记试样方向、测区和对照位置；3. 未知物结构解析与候选筛选系统检查：检查波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性，建立红外拉曼检索的设备状态与质量控制记录；4. 未知物结构解析与候选筛选程序执行：执行以振动峰组匹配材料类别、官能团和候选物；随后完成结合分子离子、碎片和同位素模式筛选化合物和综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设；5. 未知物结构解析与候选筛选数据复核：复核原始数据、处理参数和重复测量，整理谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论
未知物结构解析与候选筛选：样品状态
未知物结构解析与候选筛选的样品状态控制包括未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样按批次、方向、位置和处理历史编号；保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样。综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设；该项记录与未知物结构解析原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
未知物结构解析与候选筛选：设备条件
未知物结构解析与候选筛选的设备条件控制包括波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性写入设备条件表，并与原始文件使用相同样品编号。使用标准品、保留时间或特征离子检查候选；该项记录与候选物验证原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
未知物结构解析与候选筛选：数据处理
未知物结构解析与候选筛选的数据处理控制包括用PCA、聚类或判别模型比较样品谱图与批次，处理前后文件、参数和结果分别保存。以振动峰组匹配材料类别、官能团和候选物；该项记录与红外拉曼检索原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
未知物结构解析与候选筛选：结果复核
未知物结构解析与候选筛选的结果复核控制包括使用标准品、保留时间或特征离子检查候选；用相互独立的光谱、质谱、衍射或显微证据形成结论，用于检查测点与组间差异。结合分子离子、碎片和同位素模式筛选化合物；该项记录与质谱库检索原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
适用产品与样品
未知物结构解析与候选筛选适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 未知物结构解析与候选筛选采用的技术原理为：联合谱库、碎片、官能团、元素、物相和多变量特征解析未知物，并用独立仪器或方法复核结论。综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设，使用标准品、保留时间或特征离子检查候选。
- 未知物结构解析与候选筛选适用样品包括未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样。按样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法建立样品组和测量节点；保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样，测区和方向与未知物结构解析数据对应。
- 未知物结构解析与候选筛选的主要测量内容包括未知物结构解析、候选物验证和红外拉曼检索；质谱库检索、多变量统计与跨仪器验证补充过程、空间或质量信息。
- 未知物结构解析与候选筛选围绕未知物结构解析与候选筛选，按照统一的样品状态、测量程序和数据处理参数建立对照。以振动峰组匹配材料类别、官能团和候选物，结果可归纳位置、批次和工况变化。
- 未知物结构解析与候选筛选交付谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论。原始文件、测量条件、处理参数和结果图表使用同一试样编号。
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
未知物结构解析与候选筛选样品范围：未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。
- 02
未知物结构解析与候选筛选制样执行以下内容：保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样。未知物结构解析与候选物验证测区使用清晰的位置或方向标记。
- 03
未知物结构解析与候选筛选把样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法写入样品与程序清单；按样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法建立样品组和测量节点。
- 04
未知物结构解析与候选筛选对照样围绕未知物结构解析与候选筛选的批次、位置或处理状态设置，平行样采用相同制备和测量条件。
- 05
未知物结构解析与候选筛选样品处理中，用PCA、聚类或判别模型比较样品谱图与批次。相关环境、转移、保存或前处理时间写入记录，便于解释多变量统计差异。
未知物结构解析与候选筛选样品范围：未知粉末、液体、聚合物、污染物等。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
未知物结构解析与候选筛选列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供未知物结构解析与候选筛选技术报告列出谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论，并说明未知物结构解析和候选物验证的测量条件与结果、未知物结构解析与候选筛选的未知物结构解析交付原始信号、处理后数据、计算表和结果图；综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设。其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
未知物结构解析
未知物结构解析与候选筛选中，未知物结构解析按以下内容记录：综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把未知物结构解析结果与候选物验证按样品、测点和程序节点排列。
候选物验证
未知物结构解析与候选筛选中，候选物验证按以下内容记录：使用标准品、保留时间或特征离子检查候选。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把候选物验证结果与红外拉曼检索按样品、测点和程序节点排列。
红外拉曼检索
未知物结构解析与候选筛选中，红外拉曼检索按以下内容记录：以振动峰组匹配材料类别、官能团和候选物。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把红外拉曼检索结果与质谱库检索按样品、测点和程序节点排列。
质谱库检索
未知物结构解析与候选筛选中，质谱库检索按以下内容记录：结合分子离子、碎片和同位素模式筛选化合物。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把质谱库检索结果与多变量统计按样品、测点和程序节点排列。
多变量统计
未知物结构解析与候选筛选中，多变量统计按以下内容记录：用PCA、聚类或判别模型比较样品谱图与批次。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把多变量统计结果与跨仪器验证按样品、测点和程序节点排列。
跨仪器验证
未知物结构解析与候选筛选中，跨仪器验证按以下内容记录：用相互独立的光谱、质谱、衍射或显微证据形成结论。数据表同步记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性中的相关参数，并把跨仪器验证结果与未知物结构解析按样品、测点和程序节点排列。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕未知物结构解析与候选筛选列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
未知物结构解析与候选筛选样品范围：未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。
完成前处理或制样
根据未知物结构解析与候选筛选和未知物结构解析、候选物验证的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用未知物结构解析与候选筛选按规定参数完成未知物结构解析、候选物验证和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查未知物结构解析、候选物验证对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供未知物结构解析与候选筛选技术报告列出谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论，并说明未知物结构解析和候选物验证的测量条件与结果、未知物结构解析与候选筛选的未知物结构解析交付原始信号、处理后数据、计算表和结果图；综合官能团、分子量、元素和色谱分离信息建立结构假设。及约定附件。
标准与方法依据
以下列出未知物结构解析与候选筛选采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 2 项
谱图检索和未知物判断应保留采集条件、峰表、候选匹配与人工复核过程，同时交付一个软件给出的名称。
NIST Chemistry WebBook公开提供质谱、红外、紫外可见及色谱保留等经整理的参考数据，可用于谱图与物性信息核对。
NIST Chemistry WebBook报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01未知物结构解析与候选筛选测哪些数据？
未知物结构解析与候选筛选测量未知物结构解析、候选物验证、红外拉曼检索，并分析质谱库检索、多变量统计、跨仪器验证。报告同时提供谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论。
02未知物结构解析与候选筛选适用什么样品？
未知物结构解析与候选筛选适用于未知粉末、液体、聚合物、污染物、异物、失效残留、反应产物和对照样。按样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法建立样品组和测量节点；保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样，样品批次、状态、方向和目标位置分别编号。
03未知物结构解析与候选筛选怎样准备样品？
未知物结构解析与候选筛选样品按以下步骤制备：保留原始样品与对照，按红外、拉曼、质谱、色谱、XRD或显微分析顺序分样和制样。按样品来源、外观、溶解性、处理历史、候选物、谱库版本、仪器条件、对照样和交叉方法建立样品组和测量节点，并保留制样或装样记录。
04未知物结构解析与候选筛选记录哪些条件？
未知物结构解析与候选筛选记录波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性。这些字段与未知物结构解析原始文件、候选物验证处理结果和报告图表逐一对应。
05未知物结构解析与候选筛选怎样设置对照？
未知物结构解析与候选筛选围绕未知物结构解析与候选筛选的批次、位置、处理或程序节点设置对照。各组使用相同制样、设备和处理参数，直接比较红外拉曼检索与质谱库检索。
06未知物结构解析与候选筛选怎样检查重复性？
未知物结构解析与候选筛选对未知物结构解析安排同条件平行测量，并核对候选物验证响应。报告列出单次值、平均结果和离散统计，同时保留设备与样品状态。
07未知物结构解析与候选筛选报告包含什么？
未知物结构解析与候选筛选报告包含谱库候选、特征峰与碎片解释、结构假设、多变量图、排查路径、交叉证据和综合结论，附波数或质量校准、背景、匹配阈值、特征峰、同位素、碎片、共线性、模型验证和方法一致性及质量控制记录；原始数据、处理文件和高清图表归入同一数据包。
08未知物结构解析与候选筛选结果怎样使用？
未知物结构解析与候选筛选结果说明：围绕未知物结构解析与候选筛选建立的候选物验证与多变量统计结果可用于材料结构研究、工艺比较、质量评价和异常分析。各组采用相同测量和处理参数，结果具有直接可比性。