检测范围
用于晶态物相鉴定、晶型与结晶度对比，并可在条件满足时开展物相定量、晶粒尺寸或结构精修。
物相定性
将衍射峰与参考数据库和已知相匹配
对象与条件
粉末、陶瓷、矿物、金属、药物和电池材料的物相鉴定 晶型转变、结晶度和工艺前后结构变化 Rietveld 定量、晶格参数和微结构研究
需要注意的限制
非晶物、低含量相、峰重叠、择优取向和参考数据库覆盖会限制物相判断。 粉末X射线衍射 XRD的检出限、定量范围和不确定度根据样品基体、物相定性与物相定量的方法要求，以及“粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应”对应的制样、校准和仪器条件确定。 粉末X射线衍射 XRD采用的标准目录列明标准版本、适用对象、物相定性的方法条件及XRD 图谱、主要衍射峰、候选物相及约定的定量或结构参数的报告内容。
适用产品与样品
粉末X射线衍射 XRD适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 粉末、陶瓷、矿物、金属、药物和电池材料的物相鉴定
- 晶型转变、结晶度和工艺前后结构变化
- Rietveld 定量、晶格参数和微结构研究
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应
- 02
块体、薄膜或微量样品需提前确认几何和制样方式
- 03
空气、水分或温度敏感样品需约定密封或原位条件
粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应 块体、薄膜或微量样品需提前确认几何和制样方式 空气、水分或温度敏感样品需约定密封或原位条件
粉末X射线衍射 XRD检测的样品信息、制样或前处理方式及关键测试条件 XRD 图谱、主要衍射峰、候选物相及约定的定量或结构参数 物相定性与物相定量对应的数据表、图谱、曲线、图像或可导出的原始数据 粉末X射线衍射 XRD检测的主要结果、异常信号及可比性条件说明 粉末X射线衍射 XRD采用的方法名称、标准编号和关键检测条件
检测项目
物相定性
将衍射峰与参考数据库和已知相匹配
物相定量
在结构模型和数据质量满足时进行 Rietveld 分析
结晶度与晶型对比
按约定模型比较晶态程度或晶型变化
晶粒尺寸与微应变
基于峰形模型进行条件性估算
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
当前显示 6 项，共 11 项
报告和检测数据
非晶物、低含量相、峰重叠、择优取向和参考数据库覆盖会限制物相判断。
粉末X射线衍射 XRD的检出限、定量范围和不确定度根据样品基体、物相定性与物相定量的方法要求，以及“粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应”对应的制样、校准和仪器条件确定。
粉末X射线衍射 XRD采用的标准目录列明标准版本、适用对象、物相定性的方法条件及XRD 图谱、主要衍射峰、候选物相及约定的定量或结构参数的报告内容。
常见问题
01XRD 物相检出受哪些因素影响？
物相检出受含量、结晶度、峰重叠和取向影响，并结合检出限、热分析和显微数据进行判定。
02粉末X射线衍射 XRD需要多少样品？
样品量按照样品形态、均匀性、制样损耗和测试模块配置。送样要求包括：粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应；块体、薄膜或微量样品需提前确认几何和制样方式；空气、水分或温度敏感样品需约定密封或原位条件。
03粉末X射线衍射 XRD怎样评价整批样品？
粉末X射线衍射 XRD围绕物相定性与物相定量设置代表性取样、平行样、多位置或多批次测试；样品准备满足“粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应”，报告对应记录取样位置与批次信息。
04粉末X射线衍射 XRD报告提供哪些结果？
粉末X射线衍射 XRD报告列明XRD 图谱、主要衍射峰、候选物相及约定的定量或结构参数，并为物相定性与物相定量记录执行标准、仪器条件、质量控制、图谱或曲线及实测数据。