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仪器分析

同位素比值与来源特征分析

Isotope-ratio & Source-profile Analysis

激光剥蚀与具备对应比值精度的ICP-MS系统联用,可在单个矿物或固体微区测量U-Pb、Lu-Hf等同位素体系及元素示踪特征。项目以同位素专用参考材料校正质量偏倚、元素分馏与漂移,交付原始比值、校正模型、年龄或示踪参数和测点地质图像。

检测内容
U-Pb同位素测量 · Hf同位素比值
适用对象
锆石等矿物的U-Pb同位素比值、协和关系和结晶年龄数据。 · 适配矿物微区的Hf等同位素比值及来源示踪参数。
方法标准
JY/T 0568-2020
报告交付
逐测点原始及校正同位素比值、误差和相关系数。 · 协和图、年龄统计或同位素示踪图。
项目受理登记对象、检测目标和报告用途
样品登记登记数量、状态和制样要求
过程质控记录检测条件并审核原始数据
报告交付交付结果、附件和技术说明
01

检测范围

检测范围检测内容与适用对象

同位素比值与来源特征分析主要检测U-Pb同位素测量、Hf同位素比值,服务对象包括锆石等矿物的U-Pb同位素比值、协和关系和结晶年龄数据、适配矿物微区的Hf等同位素比值及来源示踪参数,覆盖来样登记、检测实施和报告交付。

01核心检测项目

U-Pb同位素测量

采集U、Th、Pb相关质量数,校正分馏、普通铅和漂移,输出比值、误差与协和性。

02适用产品与样品

锆石等矿物的U-Pb同位素比值、协和关系和结晶年龄数据。

适配矿物微区的Hf等同位素比值及来源示踪参数。

03委托资料与样品

样品、目标参数和报告用途

矿物分选、制靶并抛光至暴露晶粒内部,保留阴极发光或背散射定位图。

04报告与交付内容

同位素比值与来源特征分析检测报告 + 检测数据与图表

逐测点原始及校正同位素比值、误差和相关系数。

技术说明

项目技术要点

实施流程

1. 审查显微结构并完成测点布置,建立样品、晶粒和分析坑三级编号;2. 使用同位素参考材料调谐灵敏度、分辨率、氧化物、质量偏倚和干扰监测;3. 按标准—样品—监控标准序列采集时间分辨同位素信号;4. 筛选稳定段并执行本底、分馏、普通铅、同量异位素和漂移校正;5. 计算比值、误差、协和关系和模型参数,联合显微结构形成结果表

同位素仪器配置

U-Pb与Lu-Hf对质量分析器、检出器和比值精度的要求不同;高精度Hf比值采用多接收ICP-MS配置,并以矿物参考材料评价外部重复性。

普通铅处理

普通铅会改变U-Pb比值,采用204Pb监测、模型校正或剔除方案,并列明所用策略。

Yb与Lu干扰

Hf同位素测量中Yb、Lu在部分质量数上重叠,通过同步测量、自然丰度和分馏模型数学扣除。

外部重复性

单次内部计数误差采用代表性取样评价全部测量误差,监控标准的长期离散度用于评价外部重复性。

02

适用产品与样品

同位素比值与来源特征分析适用于以下产品、样品及技术问题。

适用产品与技术问题

  • 锆石等矿物的U-Pb同位素比值、协和关系和结晶年龄数据。
  • 适配矿物微区的Hf等同位素比值及来源示踪参数。
  • 同一晶粒核部、边部和不同生长环带的同位素差异。
  • 同位素比值与稀土、Th/U等元素特征的联合解释。
  • 具有专用标准物质、足够信号和稳定基体的固体微区同位素测量。
03

样品与委托资料

送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。

  1. 01

    矿物分选、制靶并抛光至暴露晶粒内部,保留阴极发光或背散射定位图。

  2. 02

    每颗晶粒标注编号、核边结构、裂隙和包裹体,测点避开混合区域。

  3. 03

    配置与目标矿物匹配的主标准和监控标准,标准与样品采用相同坑径及能量。

  4. 04

    提供样品来源、地质或工艺背景及希望采用的同位素体系和结果表达。

  5. 05

    测年项目保存剩余靶和原始晶粒照片,测点坐标贯穿采集与数据处理。

所需样品量样品量与制样要求

矿物分选、制靶并抛光至暴露晶粒内部,保留阴极发光或背散射定位图。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。

检测周期项目周期与交付日期

同位素比值与来源特征分析列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期,并同步安排复杂前处理和多模块测试。

报告类型同位素比值与来源特征分析检测报告 · 检测数据与图表 · 测试条件与质控记录

主要提供逐测点原始及校正同位素比值、误差和相关系数、协和图、年龄统计或同位素示踪图。其他数据和附件在委托单中列明。

实施方式实验室来样检测

收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。

04

检测项目

01

U-Pb同位素测量

采集U、Th、Pb相关质量数,校正分馏、普通铅和漂移,输出比值、误差与协和性。

02

Hf同位素比值

测量Hf同位素及干扰元素,按专用程序进行Yb、Lu同量异位素扣除和质量偏倚校正。

03

微区年龄计算

依据适用衰变常数和比值计算表观年龄,呈现协和图、加权平均及离群点处理。

04

核边演化对比

按晶粒结构分别布点,比较核、增生边和重结晶区域的年龄及示踪组成。

05

来源特征参数

结合测得比值、元素组成和采用模型计算εHf等参数,并列出模型常数和参考值。

06

监控标样评价

将独立监控标准作为未知样处理,持续检查准确度、外部重复性和批次稳定性。

05

检测方法与实施流程

现有设备和检测能力同位素比值与来源特征分析所需的检测、制样、质量控制和数据分析条件齐备,受理U-Pb同位素测量、Hf同位素比值。
01

检测需求

围绕同位素比值与来源特征分析列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。

02

样品登记

矿物分选、制靶并抛光至暴露晶粒内部,保留阴极发光或背散射定位图。

03

完成前处理或制样

根据同位素比值与来源特征分析和U-Pb同位素测量、Hf同位素比值的测试条件处理样品。

04

完成仪器测试

使用同位素比值与来源特征分析按规定参数完成U-Pb同位素测量、Hf同位素比值和过程质量控制。

05

复核检测数据

重点检查U-Pb同位素测量、Hf同位素比值对应的图谱、曲线、图像或数据表。

06

交付报告和附件

提供逐测点原始及校正同位素比值、误差和相关系数、协和图、年龄统计或同位素示踪图。及约定附件。

06

标准与方法依据

以下列出同位素比值与来源特征分析采用的正式标准与执行依据,包含标准编号、适用项目和发布来源。

1 项标准共列出 1 项标准与方法。

共 1 项

JY/T 0568-2020中国标准电感耦合等离子体质谱分析方法通则JY/T 0568-2020用于同位素比值与来源特征分析中ICP-MS检测单元的仪器条件、校准、质量控制和结果记录。中华人民共和国教育部 · JY/T 0568-2020 · 查看发布机构来源
07

报告与交付内容

同位素比值与来源特征分析检测报告检测数据与图表测试条件与质控记录约定附件
逐测点原始及校正同位素比值、误差和相关系数。
协和图、年龄统计或同位素示踪图。
晶粒编号、显微结构和激光坑定位图。
主标准、监控标准、干扰和质量偏倚校正记录。
衰变常数、模型参数、筛选规则及数据处理文件。
常见报告用途
矿物结晶与热事件年代学。岩浆、沉积和物源示踪。晶粒核边生长过程研究。固体材料同位素均一性评价。
报告与结果说明

报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。

报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。

样品、批次、工况或标准发生变化时,按新条件开展补充检测。

报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本,相关要求可在需求表中注明。
08

常见问题

01同位素比值可以直接判断样品产地吗?

比值是来源证据之一,结合适用同位素体系、参考样本、元素组成和地质或生产背景形成特征比较。

02U-Pb年龄为什么会出现不协和?

铅丢失、普通铅、继承核、裂隙和混合剥蚀都可能造成不协和,报告会结合测点结构与信号筛选解释。

03锆石核部和边部为什么要分别测量?

核部与增生边可能形成于不同事件,混合测量会得到无明确地质意义的中间比值。

04Hf同位素中的Yb干扰怎样扣除?

同步测量Yb同位素,利用自然丰度和质量分馏关系计算其对目标质量数的贡献。

05每个测点都能得到有效年龄吗?

裂隙、包裹体、信号过低或明显混合的测点可能不进入年龄统计,但原始数据与剔除理由仍会保留。

06标样为什么要穿插在样品之间?

穿插测量用于跟踪随时间发生的灵敏度、分馏和质量偏倚漂移,使样品得到相邻标准校正。

07内部误差和外部重复性有什么区别?

内部误差来自单次计数统计,外部重复性还包含制样、漂移和校准等批间因素,由监控标准评价。

08同位素测试后还能做其他分析吗?

除微小剥蚀坑外样品大部分保留,可将剩余区域用于电子探针、拉曼或其他微区技术。

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