TGA失重台阶怎么解释
TGA失重台阶表示样品在给定温度、时间和气氛下发生质量变化，可能来自水分/溶剂挥发、组分热解、氧化或残留变化；按照完整条件温区把台阶直接等同某一种配方成分。
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TOF-SIMS和XPS表面分析方法选择
XPS定量表面元素和化学态，TOF-SIMS以更高表面灵敏度检测离子碎片和痕量污染并可成像；两者定量能力和样品损伤不同。
查看完整内容VOC和TVOC对比说明
VOC指符合某一方法或法规范围的单个挥发性有机化合物，TVOC是按规定色谱范围和计算规则得到的总量指标；TVOC不能说明每一种化合物，单项限值结合也实施。
查看完整内容XPS能分析多深以及刻蚀结果说明
常规XPS主要反映材料最表面的数纳米范围，离子刻蚀可获得随深度变化的成分趋势，但刻蚀速率与材料有关，还可能造成还原、损伤和优先溅射。
查看完整内容XRD怎么看非晶和晶体材料
晶体材料出现位置明确的衍射峰，非晶材料常表现为较宽的弥散峰包；实际样品可能两者共存，需要统一制样和背景条件后再比较。
查看完整内容XRF和ICP元素分析方法选择
XRF适合固体或粉末的快速、多元素、少前处理筛查，ICP-OES/ICP-MS需要把样品消解成溶液，但对痕量定量、轻元素以外的多元素和复杂限值更有优势。
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