配方分析还原完整配方适用性
配方分析能识别主要树脂、溶剂、无机填料及部分添加剂并估算含量范围，但不应承诺仅凭一件成品完整还原原料牌号、微量添加顺序和全部工艺参数。
查看完整内容失效分析样品应该怎么保存
失效样品应尽量保持原状、分别包装、标记方向和位置，并同步保存正常对照、使用记录和现场照片；擅自清洗、拼接、打磨或触摸关键表面可能破坏最有价值的证据。
查看完整内容同一样品重复检测结果不一样影响因素
重复检测存在差异可能来自样品不均匀、取样和制样、环境与仪器、校准状态、操作步骤以及数据处理；应将差异与方法重复性和样品变异放在同一尺度比较。
查看完整内容EBSD和XRD晶粒分析对比说明
EBSD在抛光截面上给出晶粒取向、晶界和局部组织图，XRD用体积平均衍射信息评价物相、织构和相干衍射域；两者所说的“晶粒尺寸”并非同一量。
查看完整内容SAXS和DLS粒径分析对比说明
SAXS从散射曲线获得纳米结构尺寸、形状和界面统计，DLS从布朗运动估算液体中水动力粒径；它们观察的物理量和样品状态不同。
查看完整内容TOF-SIMS和XPS表面分析方法选择
XPS定量表面元素和化学态，TOF-SIMS以更高表面灵敏度检测离子碎片和痕量污染并可成像；两者定量能力和样品损伤不同。
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