ISO 20263:2024《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials》由国际标准化组织发布,适用于纳米颗粒、薄膜与界面表征,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 20502:2005《Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of adhesion of ceramic coatings by scratch testing》由国际标准化组织发布,本站将其用于金属表面与防护涂层薄膜应力、附着与纳米划痕、半导体、薄膜与电子材料薄膜应力、附着与纳米划痕的方法实施、数据记录和结果表达。
ISO 20903:2019《Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results》由国际标准化组织发布,适用于XPS全谱与元素定性、高分辨谱与化学价态、氩离子刻蚀深度剖析、角分辨、原位与界面XPS等8项仪器测试,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 21363:2020《Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy》由国际标准化组织发布,适用于纳米颗粒、薄膜与界面表征,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 23420:2021《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis》由国际标准化组织发布,适用于STEM-EDS与EELS微区分析,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 24639:2022《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Calibration procedure of energy scale for elemental analysis by electron energy loss spectroscopy》由国际标准化组织发布,适用于STEM-EDS与EELS微区分析,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 25178-606:2026《Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 606: Design and characteristics of non-contact (focus variation) instruments》由国际标准化组织发布,适用于三维景深合成与表面观察,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 25387:2026《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope》由国际标准化组织发布,适用于高分辨晶格像 HRTEM,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。
ISO 25498:2025《Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope》由国际标准化组织发布,适用于明场、暗场与选区电子衍射,标准关系覆盖样品信息、仪器条件、数据处理和结果记录。