本页说明
ASTM E1078-14(2020)《Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis》由ASTM International发布，本站将其用于最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比的方法实施、数据记录和结果表达。
适用对象与条件
- 最外原子层元素组成 LEIS采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。
- 表面覆盖度与吸附层分析采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。
- REELS表面带隙测量采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。
- 表面污染、清洗与处理前后对比采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。
- 最外原子层元素组成 LEIS的标准方法实施
- 表面覆盖度与吸附层分析的标准方法实施
- REELS表面带隙测量的标准方法实施
- 表面污染、清洗与处理前后对比的标准方法实施
主要要求与方法
主要检测内容
ASTM E1078-14(2020)在最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比中落实标准规定的测量步骤与技术参数
取样与样品处理
记录样品状态、仪器型号、测量程序和实际采集参数
质量控制
归档校准核查、原始数据、计算过程和结果表
结果与交付要求
按ASTM E1078-14(2020)整理重复测量、数据处理与报告内容
方法、条件与注意事项
标准概况
ASTM E1078-14(2020)《Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis》由ASTM International发布，本站将其用于最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比的方法实施、数据记录和结果表达。
技术应用
- 最外原子层元素组成 LEIS采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。 - 表面覆盖度与吸附层分析采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。 - REELS表面带隙测量采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。 - 表面污染、清洗与处理前后对比采用该指南安排表面分析试样的制备、安装与导电固定，并保存装样记录。
相关仪器项目
ASTM E1078-14(2020)关联以下仪器测试项目： - [最外原子层元素组成 LEIS](/services/instrument-testing/surface-interface/leis-iss-and-reels-surface-analysis/outermost-layer-elemental-composition-by-leis) - [表面覆盖度与吸附层分析](/services/instrument-testing/surface-interface/leis-iss-and-reels-surface-analysis/surface-coverage-and-adsorbate-layer-analysis) - [REELS表面带隙测量](/services/instrument-testing/surface-interface/leis-iss-and-reels-surface-analysis/reels-surface-band-gap-measurement) - [表面污染、清洗与处理前后对比](/services/instrument-testing/surface-interface/leis-iss-and-reels-surface-analysis/surface-contamination-and-treatment-comparison)
方法实施与记录
最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比按ASTM E1078-14(2020)记录样品状态、仪器型号、测量程序、采集参数、校准核查、原始数据和计算结果。
项目执行内容
在最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比相关项目中，ASTM E1078-14(2020)用于落实其适用的术语、样品要求、仪器条件、测量步骤、数据处理或质量控制条款。项目记录覆盖样品名称、批次、取样位置、前处理状态、仪器型号、附件配置、环境条件、程序参数和重复次数；原始曲线、图谱、图像或数值结果依照样品编号保存，计算表标明数据处理方法、统计口径和单位，技术报告列出实测条件、核心结果、图表和质量控制记录。
样品与项目信息
提供样品名称、材质、型号、批次、数量和取样位置；标明ASTM E1078-14(2020)对应的待测参数和样品状态；样品编号与前处理记录、测量位置和报告用途逐项对应。
数据与质量控制
ASTM E1078-14(2020)的原始曲线、图谱、图像或数值结果按样品编号归档；最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比的校准核查、对照样、重复测量和数据处理记录同步进入项目档案。
报告与交付
ASTM E1078-14(2020)方法实施信息与最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比实测结果；样品信息、仪器条件、采集参数和质量控制记录；原始曲线、图谱、图像或数值结果及计算表。
官方来源
ASTM International发布了ASTM E1078-14(2020)《Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis》，[查看官方发布记录](https://store.astm.org/e1078-14r20.html)。
需要结合哪些资料
- ASTM E1078-14(2020)对应的代表性样品和指定测量位置；最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比对应的批次样品和对照样
参考依据与来源
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
ASTM E1078-14(2020)《Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis》由ASTM International发布。
标准编号：ASTM E1078-14(2020)；标准名称：Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis；发布机构：ASTM International。
ASTM International结果怎样使用
- ASTM E1078-14(2020)方法实施信息与最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比实测结果
- 样品信息、仪器条件、采集参数和质量控制记录
- 原始曲线、图谱、图像或数值结果及计算表
使用结果时需要结合的事项
- 最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比的方法实施记录；Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis对应的研发与质量控制；ASTM E1078-14(2020)项目的批次比较
标准使用常见问题
01ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis包括哪些检测内容？
ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis的主要内容包括ASTM E1078-14(2020)在最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比中落实标准规定的测量步骤与技术参数。 ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis项目表按样品形态、目标参数和报告用途列出测量项目、测试条件、重复次数、质量控制及数据处理要求。
02ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis需要提供哪些样品和资料？
送样包括ASTM E1078-14(2020)对应的代表性样品和指定测量位置，并按批次、状态和取样位置分别编号。 ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis样品清单标明名称、型号、批次、取样位置、数量、状态、保存条件和处理历史，对比项目同时提交正常样、异常样或不同批次样。
03ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis采用什么标准和方法？
主要依据为ASTM E1078-14(2020)，检测方法包括ASTM E1078-14(2020)在最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比中落实标准规定的测量步骤与技术参数。 ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis委托确认单记录标准编号、版本、产品规范、样品条件和判定要求，多种方法联合使用时分别记录原始数据和质量控制。
04ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis报告包含哪些内容？
主要交付ASTM E1078-14(2020)方法实施信息与最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比实测结果，内容包含样品、方法、数据和判定依据。 ASTM E1078-14(2020) Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis报告列明样品、方法、条件、实测数据、计算结果和判定依据，可用于最外原子层元素组成 LEIS、表面覆盖度与吸附层分析、REELS表面带隙测量、表面污染、清洗与处理前后对比的方法实施记录，图谱、照片、原始数据或英文信息按委托要求附入。