01
适用范围
用于判断这项服务是否适合您的对象和技术问题；最终方案还需结合样品状态、目标参数和报告用途。
- 粉末、陶瓷、矿物、金属、药物和电池材料的物相鉴定
- 晶型转变、结晶度和工艺前后结构变化
- Rietveld 定量、晶格参数和微结构研究
02
样品要求
送样前尽量提供材质、形态、数量、尺寸、批次、保存条件，以及是否允许切割、消解、喷镀或其他破坏性制样。
- 01
粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应
- 02
块体、薄膜或微量样品需提前确认几何和制样方式
- 03
空气、水分或温度敏感样品需约定密封或原位条件
03
检测项目
01
物相定性
将衍射峰与参考数据库和已知相匹配
02
物相定量
在结构模型和数据质量满足时进行 Rietveld 分析
03
结晶度与晶型对比
按约定模型比较晶态程度或晶型变化
04
晶粒尺寸与微应变
基于峰形模型进行条件性估算
04
方法标准
以下用于前期技术匹配。正式委托时应按样品基体、目标参数、报告用途和最新有效版本逐项确认，不把仪器名称直接等同于标准方法。
ICDD PDF 数据库晶态物相检索与参考卡片
ASTM E915X射线衍射仪校准与对准相关实践
材料专用方法水泥、矿物、药物、金属等现行 XRD 标准
05
交付结果
样品信息、制样或前处理方式及关键测试条件
XRD 图谱、主要衍射峰、候选物相及约定的定量或结构参数
约定的数据表、图谱、曲线、图像或可导出的原始数据
对主要结果、异常信号及可比性条件的必要说明
方法适用范围、检出能力和不能据此直接推断的内容
常见报告用途
研发与材料筛选批次或工艺对比质量控制与异常排查项目验收或技术资料
06
限制条件
检测结果只在实际样品、测试位置、制样方式和约定条件下成立。以下边界应在委托前明确：
- 非晶物、低含量相、峰重叠、择优取向和参考数据库覆盖会限制物相判断。
- 具体测试参数、检出限、定量范围和不确定度受样品基体、制样方式、仪器配置及方法验证状态影响。
- 标准目录用于前期技术匹配；正式委托时须确认标准版本、适用范围、报告用途及实验室当前能力。
07
常见问题
01XRD 没有检出某物相就代表完全没有吗？
不能简单判断。低含量、低结晶、峰重叠或高度取向都可能导致未检出，需要结合检出能力和其他方法。
02粉末X射线衍射 XRD需要多少样品？
样品量取决于形态、均匀性、制样损耗和测试模块。常见要求包括：粉末应具有代表性并尽量减小择优取向和粒度效应；块体、薄膜或微量样品需提前确认几何和制样方式；空气、水分或温度敏感样品需约定密封或原位条件。正式送样前仍需按目标参数确认。
03是否可以直接用一次测试代表整批样品？
不一定。仪器结果只代表实际取样和测试位置；非均匀材料应先约定取样规则、平行样、测试位置和统计方式。
04是否可以出具带 CMA/CNAS 标识的报告？
需结合具体项目、方法标准、报告用途及实验室最新有效能力附表在委托前逐项确认，不能只根据仪器名称判断。