检测范围
测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构，其中采集多视场高分辨图像并按清晰轮廓测量一次颗粒尺寸、团聚形态和分布。图像分割统一一次颗粒口径，载体团聚与真实粉末团聚使用低倍分布图区分。
纳米颗粒尺寸
采集多视场高分辨图像并按清晰轮廓测量一次颗粒尺寸、团聚形态和分布，采集区域：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁。
对象与条件
纳米颗粒尺寸：采集多视场高分辨图像并按清晰轮廓测量一次颗粒尺寸、团聚形态和分布，结果用于测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构 孔壁与多孔结构：观察孔口、孔壁粗糙度、颗粒颈联结和堵孔现象，保留不同倍率连续图，测量位置按以下方式布置：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁 检测对象：干燥纳米粉末、催化颗粒、烧结颗粒截面和具有代表性的多孔材料碎片 测量位置：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁 数据判读：测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构
需要注意的限制
粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行 粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM结果观察结果与实际取样位置和视场对应；三维结构采用三维方法评价，图像统计同步记录阈值及束流、真空、切割和抛光条件。 粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM结果对应实际收到的样品、采用的场发射扫描电镜 FE-SEM条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 从混匀粉末中多点取样并制备稀疏分散载台；2. 选择低充电成像条件并评估导电镀层对颗粒边缘的影响；3. 采集低倍分布、颗粒高倍和多孔断面连续图像；4. 分割清晰颗粒并统计尺寸、圆度、团聚与孔壁特征；5. 按批次或烧结条件汇总视场数量和形貌统计
分辨率条件
像素尺寸、束斑、工作距离和样品稳定性共同决定有效分辨率，报告保留主要成像参数，样品资料：记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料。
束流损伤
有机物、粘结剂和敏感电极采用低剂量快速成像，并比较首次与重复扫描是否变化，测量位置：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁。
颗粒统计
图像分割前设定一次颗粒与团聚体口径，多视场统计时维持同一阈值，对照数据：按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌。
截面真实性
脆断、切割或抛光可能拉脱颗粒和涂层，异常结构结合相邻区域与制样痕迹判别，结果解释：图像分割统一一次颗粒口径，载体团聚与真实粉末团聚使用低倍分布图区分。
适用产品与样品
粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 纳米颗粒尺寸：采集多视场高分辨图像并按清晰轮廓测量一次颗粒尺寸、团聚形态和分布，结果用于测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构
- 孔壁与多孔结构：观察孔口、孔壁粗糙度、颗粒颈联结和堵孔现象，保留不同倍率连续图，测量位置按以下方式布置：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁
- 检测对象：干燥纳米粉末、催化颗粒、烧结颗粒截面和具有代表性的多孔材料碎片
- 测量位置：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁
- 数据判读：测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
样品形式：干燥纳米粉末、催化颗粒、烧结颗粒截面和具有代表性的多孔材料碎片
- 02
制样与装夹：粉末均匀分散在洁净导电载体上，多孔块体固定后露出孔口与断面
- 03
随样资料：记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料
- 04
对照样品：按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌
- 05
位置记录：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁
样品形式：干燥纳米粉末、催化颗粒、烧结颗粒截面和具有代表性的多孔材料碎片 制样与装夹：粉末均匀分散在洁净导电载体上，多孔块体固定后露出孔口与断面 随样资料：记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料 对照样品：按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌 位置记录：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁
粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM技术报告及主要结论 交付粉末分布图、颗粒高分辨图、尺寸统计、团聚特征和孔壁形貌 原始资料：纳米颗粒尺寸数据；记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料 位置资料：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁 对照资料：按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌
检测项目
纳米颗粒尺寸
采集多视场高分辨图像并按清晰轮廓测量一次颗粒尺寸、团聚形态和分布，采集区域：颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁。
孔壁与多孔结构
观察孔口、孔壁粗糙度、颗粒颈联结和堵孔现象，保留不同倍率连续图，对照组合：按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌。
低电压表面像
使用低着陆能量减小充电与作用深度，显示薄膜表面、聚合物和精细颗粒的真实起伏，样品资料：记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料。
批次形貌对照
用同一倍率、像素和探测器比较工艺前后或不同供应批次的表面特征，数据判读：图像分割统一一次颗粒口径，载体团聚与真实粉末团聚使用低倍分布图区分。
分辨率条件
像素尺寸、束斑、工作距离和样品稳定性共同决定有效分辨率，报告保留主要成像参数，并结合图像分割统一一次颗粒口径，载体团聚与真实粉末团聚使用低倍分布图区分。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
报告和检测数据
粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行
粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM结果观察结果与实际取样位置和视场对应；三维结构采用三维方法评价，图像统计同步记录阈值及束流、真空、切割和抛光条件。
粉末、颗粒与多孔材料场发射扫描电镜 FE-SEM结果对应实际收到的样品、采用的场发射扫描电镜 FE-SEM条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸测量内容包括什么？
采集多视场高分辨图像并按清晰轮廓测量一次颗粒尺寸、团聚形态和分布，测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构。
02粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸适用样品有哪些？
干燥纳米粉末、催化颗粒、烧结颗粒截面和具有代表性的多孔材料碎片，粉末均匀分散在洁净导电载体上，多孔块体固定后露出孔口与断面。
03粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸需要提供哪些资料？
粉末均匀分散在洁净导电载体上，多孔块体固定后露出孔口与断面，记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料。
04粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸状态样如何比较？
按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌，着陆能量、工作距离、像素和探测器保持一致。
05粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸重复测点怎样安排？
颗粒统计覆盖多个不重叠视场，多孔材料同时记录外表面、断面和孔壁，粉末均匀分散在洁净导电载体上，多孔块体固定后露出孔口与断面。
06粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸参数如何留档？
图像分割统一一次颗粒口径，载体团聚与真实粉末团聚使用低倍分布图区分，着陆能量、工作距离、像素和探测器保持一致。
07粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸报告包含哪些结果？
交付粉末分布图、颗粒高分辨图、尺寸统计、团聚特征和孔壁形貌，记录粉末批次、分散介质、干燥方法、烧结条件、取样质量和镀层材料。
08粉末、颗粒与多孔材料的纳米颗粒尺寸怎样用于质量评价？
测量一次颗粒尺寸、团聚形态、颗粒颈联结、孔口与孔壁微结构，按批次、粒级、烧结温度或分散条件比较一次颗粒、团聚和孔壁形貌。