检测范围
原位拉伸、压缩与断裂：在透射电镜中施加温度、位移、电场或气氛并实时成像，观察相变、缺陷、断裂和界面反应。原位拉伸压缩、原位加热和原位电化学的联合结果用于变形机制分析、断裂路径解释和结构改进，测区、程序和数据处理参数随结果一并记录。
原位拉伸压缩
原位拉伸、压缩与断裂中，原位拉伸压缩按以下内容记录：同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把原位拉伸压缩结果与原位加热按样品、测点和程序节点排列。
对象与条件
原位拉伸、压缩与断裂采用的技术原理为：在透射电镜中施加温度、位移、电场或气氛并实时成像，观察相变、缺陷、断裂和界面反应。同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变，观察析出、相变、晶粒长大和界面迁移。 原位拉伸、压缩与断裂适用样品包括FIB薄片、纳米线、颗粒、薄膜、催化剂、电池材料和可安装于原位芯片的微小试样。按加载方向、应变节点、裂纹起点和卸载状态布置测点；将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区，测区和方向与原位拉伸压缩数据对应。 原位拉伸、压缩与断裂的主要测量内容包括原位拉伸压缩、原位加热和原位电化学；原位气体反应、衍射与晶格与时序配准补充过程、空间或质量信息。 原位拉伸、压缩与断裂围绕载荷与失效过程，按照统一的样品状态、测量程序和数据处理参数建立对照。追踪沉积、溶解、界面膜和颗粒体积变化，结果可呈现位置、批次和工况变化。 原位拉伸、压缩与断裂交付视频与关键帧、晶格或衍射、位移载荷、缺陷运动、相变温度、裂纹路径和条件时间线。原始文件、测量条件、处理参数和结果图表使用同一试样编号。
需要注意的限制
原位拉伸、压缩与断裂结果原位结果记录样品池、观测窗口、时间分辨率和信噪比，通过独立对照验证同步变化与因果关系 原位拉伸、压缩与断裂结果原位结果同步记录传质、温度、电场、机械条件、时间和空间分辨率，并通过静态对照与互补方法验证因果机制。 原位拉伸、压缩与断裂结果对应实际收到的样品、采用的原位TEM、原位加热与原位力学条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 原位拉伸、压缩与断裂方案设计：依据材料、制样位置、厚度、晶向、程序温度、加载速率、电位、气氛、剂量和时间分辨率设计原位加热与原位拉伸压缩的测量组合；2. 原位拉伸、压缩与断裂样品制备：将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区，并为原位电化学标记试样方向、测区和对照位置；3. 原位拉伸、压缩与断裂系统检查：检查倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性，建立原位加热的设备状态与质量控制记录；4. 原位拉伸、压缩与断裂程序执行：执行观察析出、相变、晶粒长大和界面迁移；随后完成同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变和追踪沉积、溶解、界面膜和颗粒体积变化；5. 原位拉伸、压缩与断裂数据复核：复核原始数据、处理参数和重复测量，整理视频与关键帧、晶格或衍射、位移载荷、缺陷运动、相变温度、裂纹路径和条件时间线
原位拉伸、压缩与断裂：样品状态
原位拉伸、压缩与断裂的样品状态控制包括FIB薄片、纳米线、颗粒、薄膜、催化剂、电池材料和可安装于原位芯片的微小试样按批次、方向、位置和处理历史编号；将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区。同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变；该项记录与原位拉伸压缩原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
原位拉伸、压缩与断裂：设备条件
原位拉伸、压缩与断裂的设备条件控制包括倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性写入设备条件表，并与原始文件使用相同样品编号。观察析出、相变、晶粒长大和界面迁移；该项记录与原位加热原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
原位拉伸、压缩与断裂：数据处理
原位拉伸、压缩与断裂的数据处理控制包括在受控气氛与温度下观察催化或氧化还原过程，处理前后文件、参数和结果分别保存。追踪沉积、溶解、界面膜和颗粒体积变化；该项记录与原位电化学原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
原位拉伸、压缩与断裂：结果复核
原位拉伸、压缩与断裂的结果复核控制包括用选区衍射或高分辨像识别结构转变；校正漂移并将关键帧与外场程序逐点对应，用于检查测点与组间差异。在受控气氛与温度下观察催化或氧化还原过程；该项记录与原位气体反应原始数据、处理参数和结果图表使用相同样品编号。
适用产品与样品
原位拉伸、压缩与断裂适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 原位拉伸、压缩与断裂采用的技术原理为：在透射电镜中施加温度、位移、电场或气氛并实时成像，观察相变、缺陷、断裂和界面反应。同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变，观察析出、相变、晶粒长大和界面迁移。
- 原位拉伸、压缩与断裂适用样品包括FIB薄片、纳米线、颗粒、薄膜、催化剂、电池材料和可安装于原位芯片的微小试样。按加载方向、应变节点、裂纹起点和卸载状态布置测点；将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区，测区和方向与原位拉伸压缩数据对应。
- 原位拉伸、压缩与断裂的主要测量内容包括原位拉伸压缩、原位加热和原位电化学；原位气体反应、衍射与晶格与时序配准补充过程、空间或质量信息。
- 原位拉伸、压缩与断裂围绕载荷与失效过程，按照统一的样品状态、测量程序和数据处理参数建立对照。追踪沉积、溶解、界面膜和颗粒体积变化，结果可呈现位置、批次和工况变化。
- 原位拉伸、压缩与断裂交付视频与关键帧、晶格或衍射、位移载荷、缺陷运动、相变温度、裂纹路径和条件时间线。原始文件、测量条件、处理参数和结果图表使用同一试样编号。
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
原位拉伸、压缩与断裂样品范围：FIB薄片、纳米线、颗粒、薄膜、催化剂、电池材料和可安装于原位芯片的微小试样。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。
- 02
原位拉伸、压缩与断裂制样执行以下内容：将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区。原位拉伸压缩与原位加热测区使用清晰的位置或方向标记。
- 03
原位拉伸、压缩与断裂把材料、制样位置、厚度、晶向、程序温度、加载速率、电位、气氛、剂量和时间分辨率写入样品与程序清单；按加载方向、应变节点、裂纹起点和卸载状态布置测点。
- 04
原位拉伸、压缩与断裂对照样围绕载荷与失效过程的批次、位置或处理状态设置，平行样采用相同制备和测量条件。
- 05
原位拉伸、压缩与断裂样品处理中，用选区衍射或高分辨像识别结构转变。相关环境、转移、保存或前处理时间写入记录，便于解释衍射与晶格差异。
原位拉伸、压缩与断裂样品范围：FIB薄片、纳米线、颗粒、薄膜、催化剂、电池材料和可安装于原位芯片的微小试样。样品名称、批次、数量、状态和目标位置分别登记。 原位拉伸、压缩与断裂制样执行以下内容：将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区。原位拉伸压缩与原位加热测区使用清晰的位置或方向标记。 原位拉伸、压缩与断裂把材料、制样位置、厚度、晶向、程序温度、加载速率、电位、气氛、剂量和时间分辨率写入样品与程序清单；按加载方向、应变节点、裂纹起点和卸载状态布置测点。 原位拉伸、压缩与断裂对照样围绕载荷与失效过程的批次、位置或处理状态设置，平行样采用相同制备和测量条件。 原位拉伸、压缩与断裂样品处理中，用选区衍射或高分辨像识别结构转变。相关环境、转移、保存或前处理时间写入记录，便于解释衍射与晶格差异。
原位拉伸、压缩与断裂技术报告列出视频与关键帧、晶格或衍射、位移载荷、缺陷运动、相变温度、裂纹路径和条件时间线，并说明原位拉伸压缩和原位加热的测量条件与结果。 原位拉伸、压缩与断裂的原位拉伸压缩交付原始信号、处理后数据、计算表和结果图；同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变。 原位拉伸、压缩与断裂的原位加热按样品与测点提供单次值、统计值或图谱，观察析出、相变、晶粒长大和界面迁移。 原位拉伸、压缩与断裂条件表记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性，并附设备状态、质量控制及异常数据复核信息。 原位拉伸、压缩与断裂数据包收录原始文件、通用格式、图片、处理参数和文件目录，可用于后续复算及跨方法对照。
检测项目
原位拉伸压缩
原位拉伸、压缩与断裂中，原位拉伸压缩按以下内容记录：同步记录位移载荷与位错、孪晶和裂纹演变。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把原位拉伸压缩结果与原位加热按样品、测点和程序节点排列。
原位加热
原位拉伸、压缩与断裂中，原位加热按以下内容记录：观察析出、相变、晶粒长大和界面迁移。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把原位加热结果与原位电化学按样品、测点和程序节点排列。
原位电化学
原位拉伸、压缩与断裂中，原位电化学按以下内容记录：追踪沉积、溶解、界面膜和颗粒体积变化。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把原位电化学结果与原位气体反应按样品、测点和程序节点排列。
原位气体反应
原位拉伸、压缩与断裂中，原位气体反应按以下内容记录：在受控气氛与温度下观察催化或氧化还原过程。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把原位气体反应结果与衍射与晶格按样品、测点和程序节点排列。
衍射与晶格
原位拉伸、压缩与断裂中，衍射与晶格按以下内容记录：用选区衍射或高分辨像识别结构转变。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把衍射与晶格结果与时序配准按样品、测点和程序节点排列。
时序配准
原位拉伸、压缩与断裂中，时序配准按以下内容记录：校正漂移并将关键帧与外场程序逐点对应。数据表同步记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性中的相关参数，并把时序配准结果与原位拉伸压缩按样品、测点和程序节点排列。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 1 项
报告和检测数据
原位拉伸、压缩与断裂结果原位结果记录样品池、观测窗口、时间分辨率和信噪比，通过独立对照验证同步变化与因果关系
原位拉伸、压缩与断裂结果原位结果同步记录传质、温度、电场、机械条件、时间和空间分辨率，并通过静态对照与互补方法验证因果机制。
原位拉伸、压缩与断裂结果对应实际收到的样品、采用的原位TEM、原位加热与原位力学条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01原位拉伸、压缩与断裂测哪些数据？
原位拉伸、压缩与断裂测量原位拉伸压缩、原位加热、原位电化学，并分析原位气体反应、衍射与晶格、时序配准。报告同时提供视频与关键帧、晶格或衍射、位移载荷、缺陷运动、相变温度、裂纹路径和条件时间线。
02原位拉伸、压缩与断裂适用什么样品？
原位拉伸、压缩与断裂适用于FIB薄片、纳米线、颗粒、薄膜、催化剂、电池材料和可安装于原位芯片的微小试样。按加载方向、应变节点、裂纹起点和卸载状态布置测点；将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区，样品批次、状态、方向和目标位置分别编号。
03原位拉伸、压缩与断裂怎样准备样品？
原位拉伸、压缩与断裂样品按以下步骤制备：将目标区制成电子透明试样并固定于加热、力学、电化学或气体芯片，记录方向和测区。按加载方向、应变节点、裂纹起点和卸载状态布置测点，并保留制样或装样记录。
04原位拉伸、压缩与断裂记录哪些条件？
原位拉伸、压缩与断裂记录倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性。这些字段与原位拉伸压缩原始文件、原位加热处理结果和报告图表逐一对应。
05原位拉伸、压缩与断裂怎样设置对照？
原位拉伸、压缩与断裂围绕载荷与失效过程的批次、位置、处理或程序节点设置对照。各组使用相同制样、设备和处理参数，直接比较原位电化学与原位气体反应。
06原位拉伸、压缩与断裂怎样检查重复性？
原位拉伸、压缩与断裂对原位拉伸压缩安排同条件平行测量，并核对原位加热响应。报告列出单次值、平均结果和离散统计，同时保留设备与样品状态。
07原位拉伸、压缩与断裂报告包含什么？
原位拉伸、压缩与断裂报告包含视频与关键帧、晶格或衍射、位移载荷、缺陷运动、相变温度、裂纹路径和条件时间线，附倍率标定、温度或载荷校准、漂移、束流剂量、芯片背景、同步帧率和原位台稳定性及质量控制记录；原始数据、处理文件和高清图表归入同一数据包。
08原位拉伸、压缩与断裂结果怎样使用？
原位拉伸、压缩与断裂结果说明：原位拉伸压缩、原位加热和原位电化学的联合结果能够支持变形机制分析、断裂路径解释和结构改进。数据包保留原始文件、处理参数和结果图，使原位电化学的差异能够回到对应样品与测量位置。