检测范围
矿物、陶瓷和高纯无机粉体GDMS采用高纯导电宿主与样品制成复合电极，适用于石英、氧化物、氮化物和电子陶瓷的宽元素范围痕量杂质分析。宿主空白、复合比例、压片均匀性和基体校准共同进入定量，质量分辨用于处理多原子离子干扰。
高纯氧化物全谱杂质
测定Na、K、Fe、Cu、Ni、Cr、Ti、Zr及稀土元素等杂质，报告宿主扣除后的质量分数。
对象与条件
覆盖高纯石英、氧化铝、氧化锆、氧化镁、氮化硅、碳化硅和陶瓷粉体中的金属、稀土及难熔元素杂质。 非导电粉末与高纯石墨、银或其他匹配导电宿主按固定比例混匀压制，形成可稳定辉光放电的复合阴极。 定量采用同宿主空白、经同流程制备的加标系列或同类基体参考材料，扣除载体自身元素贡献。 多原子离子、宿主离子和目标同位素重叠通过同位素选择及质量分辨率处理，峰位和干扰表随批审核。 结果用于电子级无机原料纯度分级、石英杂质控制和陶瓷粉体供应批比较。
需要注意的限制
矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行 矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS结果报告对应本次取样、制样和分析份；整体成分、表面成分、局部微区、筛查和定量结果分别按相应方法评价。 矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS结果对应实际收到的样品、采用的辉光放电质谱 GDMS条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 原料粉末干燥、缩分并精确称量，与经过本底筛选的导电宿主按固定比例混合；2. 混合粉装入洁净模具压制复合电极，记录压力、尺寸、密度和宿主批次，同时制作宿主空白与平行片；3. 装入GDMS离子源后预溅射至信号稳定，按元素同位素和干扰情况设置质量扫描及分辨率；4. 应用宿主扣除、复合比例和基体校准计算样品杂质含量，审核回收、平行和质量峰分离状态
复合电极定量
非导电样品的结果由样品质量、宿主质量、宿主空白和同流程校准共同决定；复合比、压实密度和电极几何保持固定，避免直接套用块状金属RSF。
宿主材料选择
石墨适合多数氧化物，银等金属宿主可用于特定元素组合；宿主选择同时考虑放电稳定性、目标元素本底和潜在分子离子。
分子离子干扰
氧、氮、硅及宿主容易形成多原子离子，测量前根据准确质量建立候选干扰表，通过高分辨峰形和同位素比检查目标峰。
适用产品与样品
矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 覆盖高纯石英、氧化铝、氧化锆、氧化镁、氮化硅、碳化硅和陶瓷粉体中的金属、稀土及难熔元素杂质。
- 非导电粉末与高纯石墨、银或其他匹配导电宿主按固定比例混匀压制，形成可稳定辉光放电的复合阴极。
- 定量采用同宿主空白、经同流程制备的加标系列或同类基体参考材料，扣除载体自身元素贡献。
- 多原子离子、宿主离子和目标同位素重叠通过同位素选择及质量分辨率处理，峰位和干扰表随批审核。
- 结果用于电子级无机原料纯度分级、石英杂质控制和陶瓷粉体供应批比较。
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
粉体充分混匀并在洁净条件下缩分，记录粒度、水分、灼烧状态和称样量，块状陶瓷取内部代表部位细磨。
- 02
样品与导电宿主按固定质量比混合，使用洁净研钵或混料设备达到均匀后压成尺寸一致的复合电极。
- 03
宿主材料按批次单独测量空白，压模、混料工具及清洗过程设置接触本底，目标元素较高的样品后安排清洁检查。
- 04
平行电极由原粉独立称样与混合，有证无机参考物料或全过程加标电极随分析批制备和测量。
粉体充分混匀并在洁净条件下缩分，记录粒度、水分、灼烧状态和称样量，块状陶瓷取内部代表部位细磨。 样品与导电宿主按固定质量比混合，使用洁净研钵或混料设备达到均匀后压成尺寸一致的复合电极。 宿主材料按批次单独测量空白，压模、混料工具及清洗过程设置接触本底，目标元素较高的样品后安排清洁检查。 平行电极由原粉独立称样与混合，有证无机参考物料或全过程加标电极随分析批制备和测量。
元素清单提供宿主扣除后的质量分数、检出限、定量限和所用同位素。 复合电极记录列出样品宿主比、压片参数、放电条件及稳定时间。 质量控制页包含宿主空白、独立复合平行、有证参考物料或全过程加标回收。 附件提供质量扫描谱、干扰峰分离图和不同放电点的离子束一致性。
检测项目
高纯氧化物全谱杂质
测定Na、K、Fe、Cu、Ni、Cr、Ti、Zr及稀土元素等杂质，报告宿主扣除后的质量分数。
石英痕量金属与稀土
针对高纯SiO2选择低本底宿主和高分辨质量条件，记录Al、B、Fe、Ti及稀土同位素信号。
导电宿主元素本底
同批宿主空白经过混匀和压片，列出宿主自带杂质及批内波动，参与样品低端结果计算。
复合电极放电稳定性
监视基体与宿主离子束、放电电流和气压随预溅射时间的变化，稳定区间用于定量。
压片混合均匀性
独立压片或同片不同放电点的结果用于观察粉体与宿主混合、压实及颗粒分布的一致性。
多原子离子高分辨
建立氧化物、氮化物及宿主相关分子离子清单，采用足够质量分辨率分开目标同位素。
检测方法和流程
步骤1
原料粉末干燥、缩分并精确称量，与经过本底筛选的导电宿主按固定比例混合。
步骤2
混合粉装入洁净模具压制复合电极，记录压力、尺寸、密度和宿主批次，同时制作宿主空白与平行片。
步骤3
装入GDMS离子源后预溅射至信号稳定，按元素同位素和干扰情况设置质量扫描及分辨率。
步骤4
应用宿主扣除、复合比例和基体校准计算样品杂质含量，审核回收、平行和质量峰分离状态。
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 3 项
报告和检测数据
矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行
矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS结果报告对应本次取样、制样和分析份；整体成分、表面成分、局部微区、筛查和定量结果分别按相应方法评价。
矿物、陶瓷与无机材料辉光放电质谱 GDMS结果对应实际收到的样品、采用的辉光放电质谱 GDMS条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
0176.1 非导电陶瓷为什么要加入导电宿主？
辉光放电要求阴极导电，粉体与高纯宿主均匀混合压片后可建立稳定放电，同时保持已知稀释比例。
0276.2 宿主空白怎样进入结果计算？
同批宿主经历混合和压片流程，其元素本底按复合比例从样品电极响应中扣除，并用于低端检出能力评估。
0376.3 石墨和银宿主怎样选择？
依据目标元素、宿主纯度、放电稳定性和可能形成的分子离子选择，选定后标准、空白和样品全部使用同一批宿主。
0476.4 粉体混合不均会出现什么数据特征？
同片不同放电点或独立压片的杂质结果会出现较大离散，基体与宿主离子束也可能随时间波动。
0576.5 氧化物样品为什么更重视高分辨测量？
氧、硅和宿主容易与其他元素形成多原子离子，高质量分辨可把目标同位素与相邻分子峰分开。
0676.6 参考材料和加标电极怎样制备？
参考物料或目标元素在称样阶段加入，与未知样采用相同宿主比例、混合时间和压片参数，形成全过程核查。
0776.7 结果如何还原到原粉质量分数？
仪器得到复合电极中的元素响应后，按样品与宿主质量、宿主空白和校准系数换算回原始粉体含量。
0876.8 复合电极数据能比较不同批陶瓷粉吗？
固定粒度、复合比、宿主批次和压片条件后，可将不同供应批的全谱杂质和关键元素并列比较。