GB/T 1480-2025 金属粉末 干筛分法测定粒度
GB/T 1480-2025 金属粉末 干筛分法测定粒度适用于GB/T 1480-2025用于干法与湿法筛分粒度的筛分。仪器测试按该标准执行GB/T 1480-2025在干法与湿法筛分粒度，形成GB/T 1480-2025方法实施信息与干法与湿法筛分粒度。
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按行业解决方案、检验、测试、仪器测试、分析和认证六类浏览国内外标准详情。GB/T 16304-2008 压电陶瓷材料性能测试方法 电场应变特性的测试
GB/T 16304-2008 压电陶瓷材料性能测试方法 电场应变特性的测试适用于磁性、铁电与功能器件压电、铁电与功能响应按GB/T 16304-2008测量。仪器测试按该标准执行磁性、铁电与功能器件压电、铁电与功能响应按GB/T 16304-2008测量压电陶瓷，形成保留电场波形、位移零点、应变曲线、最大应变和迟滞特征。
查看完整内容GB/T 19466.4-2025 塑料 差示扫描量热（DSC）法 第4部分：比热容的测定
依据GB/T 19466.4-2025 塑料 差示扫描量热（DSC）法 第4部分：比热容的测定开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 19466.4-2025用于调制DSC与比热容的DSC温度、热焓，实施内容包括GB/T 19466.4-2025在调制DSC与比热容中落实标准规定的测量步骤与技术，交付GB/T 19466.4-2025方法实施信息与调制DSC与比热容实。
查看完整内容GB/T 19502-2023 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则
GB/T 19502-2023 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则适用于GB/T 19502-2023用于镀层与涂层深度剖析的辉光放电光谱采集。仪器测试按该标准执行GB/T 19502-2023在镀层与涂层深度剖析、扩散层、渗层与氧化层分析，形成GB/T 19502-2023方法实施信息与镀层与涂层深度剖析。
查看完整内容GB/T 20175-2025 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 20175-2025 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法适用于GB/T 20175-2025用于金属表面与防护涂层深度剖析与界面分布的溅射。仪器测试按该标准执行GB/T 20175-2025在金属表面与防护涂层深度剖析与界面分布、半导体，形成GB/T 20175-2025方法实施信息与金属表面与防护涂层深度剖。
查看完整内容GB/T 21227-2021 交流损耗测量 多丝复合超导材料磁滞损耗的磁强计测量法
GB/T 21227-2021 交流损耗测量 多丝复合超导材料磁滞损耗的磁强计测量法规定低场、弱磁与超导磁性按GB/T 21227-2021用磁强计法测量多丝复合超相关的实施要求，内容包括低场、弱磁与超导磁性按GB/T 21227-2021用磁强计法测量多丝复合超导材料的；项目交付保留温度、磁场幅值与频率、磁矩回线、回线面积和单位长度或体积损耗。
查看完整内容GB/T 21354-2008 粉末产品振实密度测定通用方法
GB/T 21354-2008 粉末产品振实密度测定通用方法用于GB/T 21354-2008用于粉体与颗粒材料真密度的仪器测试，项目按标准完成GB/T 21354-2008在粉体与颗粒材料真密度、堆积密度与振实密度、多孔并形成GB/T 21354-2008方法实施信息与粉体与颗粒材料真密度。
查看完整内容GB/T 21524-2008 无机化工产品中粒度的测定 筛分法
依据GB/T 21524-2008 无机化工产品中粒度的测定 筛分法开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 21524-2008用于干法与湿法筛分粒度的筛分，实施内容包括GB/T 21524-2008在干法与湿法筛分粒度，交付GB/T 21524-2008方法实施信息与干法与湿法筛分粒度。
查看完整内容GB/T 21650.2-2008 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分：气体吸附法分析介孔和大孔
GB/T 21650.2-2008 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第2部分：气体吸附法分析介孔和大孔用于GB/T 21650.2-2008用于介孔孔径与BJH分析的气体或蒸气吸附等的仪器测试，项目按标准完成GB/T 21650.2-2008在介孔孔径与BJH分析、粉体与颗粒材料孔径并形成GB/T 21650.2-2008方法实施信息与介孔孔径与BJH分析。
查看完整内容GB/T 21650.3-2011 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第3部分：气体吸附法分析微孔
依据GB/T 21650.3-2011 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第3部分：气体吸附法分析微孔开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 21650.3-2011用于微孔与CO2吸附分析的气体或蒸气吸附等，实施内容包括GB/T 21650.3-2011在微孔与CO2吸附分析、粉体与颗粒材料孔径。
查看完整内容GB/T 21782.1-2025 粉末涂料 第1部分：用筛分法测定粒度分布
GB/T 21782.1-2025 粉末涂料 第1部分：用筛分法测定粒度分布用于GB/T 21782.1-2025用于干法与湿法筛分粒度的筛分的仪器测试，项目按标准完成GB/T 21782.1-2025在干法与湿法筛分粒度中落实标准规定的测量步骤与技术并形成GB/T 21782.1-2025方法实施信息与干法与湿法筛分粒度实。
查看完整内容GB/T 224-2019 钢的脱碳层深度测定法
依据GB/T 224-2019 钢的脱碳层深度测定法开展仪器测试时，适用对象包括GB/T 224-2019用于非金属夹杂物与脱碳层的钢的脱碳层深度测定法项目，实施内容包括GB/T 224-2019《钢的脱碳层深度测定法》在非金属夹杂物与脱碳层中按具体对象，交付GB/T 224-2019《钢的脱碳层深度测定法》实施信息与非金属夹。
查看完整内容GB/T 24219-2009 机织过滤布泡点孔径的测定
GB/T 24219-2009 机织过滤布泡点孔径的测定用于GB/T 24219-2009用于泡点与最大孔径的泡点、平均流量孔径的仪器测试，项目按标准完成GB/T 24219-2009在泡点与最大孔径中落实标准规定的测量步骤与技术参数并形成GB/T 24219-2009方法实施信息与泡点与最大孔径实测结果。
查看完整内容GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法适用于GB/T 24580-2009用于半导体。仪器测试按该标准执行GB/T 24580-2009《重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法》在半导，形成GB/T 24580-2009《重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱。
查看完整内容GB/T 25278-2010 塑料 用毛细管和狭缝口模流变仪测定塑料的流动性
GB/T 25278-2010 塑料 用毛细管和狭缝口模流变仪测定塑料的流动性规定塑料、橡胶与复合材料毛细管流变与熔体流动按GB/T 25278-2010用毛相关的实施要求，内容包括塑料、橡胶与复合材料毛细管流变与熔体流动按GB/T 25278-2010用毛细管或狭；项目交付计算表列出温度、口模、压力、流量、剪切速率、剪切应力及黏度曲线。
查看完整内容GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则规定GB/T 26533-2011用于金属表面与防护涂层俄歇电子能谱 AES的俄相关的实施要求，内容包括GB/T 26533-2011《俄歇电子能谱分析方法通则》在金属表面与防护涂层俄歇电；项目交付GB/T 26533-2011《俄歇电子能谱分析方法通则》实施信息与。
查看完整内容GB/T 27411-2012 检测实验室中常用不确定度评定方法与表示
GB/T 27411-2012 检测实验室中常用不确定度评定方法与表示适用于实验室测量不确定度评定。仪器测试按该标准执行识别输入量、评定标准不确定度、合成并给出扩展不确定度，形成保留测量模型、分量来源、分布、灵敏系数和自由度。
查看完整内容GB/T 29070-2012 无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测 通用要求
GB/T 29070-2012 无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测 通用要求规定GB/T 29070-2012用于工业CT无损缺陷检测的无损检测 工业计算机相关的实施要求，内容包括GB/T 29070-2012《无损检测 工业计算机层析成像（CT）检测 通用要求》；项目交付GB/T 29070-2012《无损检测 工业计算机层析成像（CT）。
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