本页说明
ISO 17867:2020规定小角X射线散射法测定颗粒平均尺寸及分布，涵盖适用样品、设备配置、实施步骤、原始记录、数据处理和报告字段，并链接International Organization for Standardization标准详情页。
适用对象与条件
- 纳米颗粒、分散体系和多相材料的小角散射粒径与结构尺度分析
- 浓度、厚度和本底明确且适合透射测量的粉末、液体分散体或薄层试样
- 依据ISO 17867:2020完成仪器几何校准、样品与本底采集、强度校正，并用规定模型计算颗粒尺寸分布
- 散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布
主要要求与方法
依据ISO 17867
依据ISO 17867:2020完成仪器几何校准、样品与本底采集、强度校正，并用规定模型计算颗粒尺寸分布
尺寸与表面测量
散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布
取样与样品处理
样品与分散、仪器几何、采集与校正、散射曲线、模型假设、粒径和分布结果
方法、条件与注意事项
标准用途
ISO 17867:2020《Particle size analysis - Small angle X-ray scattering (SAXS)》用于小角X射线散射法测定颗粒平均尺寸及分布。标准在分析服务中对应纳米颗粒、分散体系和多相材料的小角散射粒径与结构尺度分析，方法记录直接关联样品编号、设备参数、原始数据和报告结果。
关联分析项目
- [SAXS和DLS粒径分析对比说明](/knowledge/saxs-vs-dls-particle-size)：SAXS和DLS粒径分析对比说明采用ISO 17867:2020《Particle size analysis - Small angle X-ray scattering (SAXS)》开展小角X射线散射法测定颗粒平均尺寸及分布，作为关联技术方法记录散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布。
适用样品
浓度、厚度和本底明确且适合透射测量的粉末、液体分散体或薄层试样。样品登记包含名称、材料或基质、型号、批次、取样位置、数量、状态和保存条件；对比分析将正常样、异常样、来源样和留样分别编号。
设备与配置
小角X射线散射仪、准直系统、样品池、探测器、几何校准样和数据处理软件。设备记录包含主机、关键附件、校准材料、方法程序和数据系统版本，测量条件与原始文件使用同一项目编号。
实施步骤
依据ISO 17867:2020完成仪器几何校准、样品与本底采集、强度校正，并用规定模型计算颗粒尺寸分布。实施顺序写入项目记录，样品前处理、测量位置、重复次数和质量控制样与对应数据逐项关联。
原始记录
原始记录包括散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布。数据文件保留采集时间、设备状态、方法参数、样品顺序和处理过程；图谱、曲线、图像和计算表通过样品编号相互对应。
数据处理
散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布用于形成结果表、曲线或图谱。处理记录列出基线、峰识别、校准、拟合、校正、统计或判定步骤，处理前数据与最终结果同时归档。
质量控制
ISO 17867:2020项目按方法配置空白、校准样、参考样、平行样、加标样或对照样。质量控制记录列出接受结果、异常处理和复测数据，保证样品、原始记录和报告字段一致。
报告内容
样品与分散、仪器几何、采集与校正、散射曲线、模型假设、粒径和分布结果。报告同时列出执行标准、样品信息、前处理、仪器和方法条件、质量控制、结果单位以及关联的图谱、曲线或照片。
官方来源
International Organization for Standardization发布了ISO 17867:2020《Particle size analysis - Small angle X-ray scattering (SAXS)》，[查看官方标准详情](https://www.iso.org/standard/69213.html)。
需要结合哪些资料
- 浓度、厚度和本底明确且适合透射测量的粉末、液体分散体或薄层试样；SAXS和DLS粒径分析对比说明所涉及的代表性样品、对照样和质量控制样
参考依据与来源
International Organization for Standardization发布ISO 17867:2020《Particle size analysis - Small angle X-ray scattering (SAXS)》。
标准编号：ISO 17867:2020；标准名称：Particle size analysis - Small angle X-ray scattering (SAXS)；发布机构：International Organization for Standardization；状态：现行。
International Organization for Standardization标准详情页ISO 17867:2020规定的技术项目和记录内容。
技术项目：小角X射线散射法测定颗粒平均尺寸及分布；适用对象：纳米颗粒、分散体系和多相材料的小角散射粒径与结构尺度分析；数据记录：散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布。
International Organization for Standardization标准详情页结果怎样使用
- 散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布
- 样品与分散、仪器几何、采集与校正、散射曲线、模型假设、粒径和分布结果
- ISO 17867:2020官方标准详情页与关联分析项目
使用结果时需要结合的事项
- SAXS和DLS粒径分析对比说明的方法实施；研发和材料比较；质量数据和技术报告
哪些判断还不能确定
- 纳米颗粒、分散体系和多相材料的小角散射粒径与结构尺度分析
- 浓度、厚度和本底明确且适合透射测量的粉末、液体分散体或薄层试样
标准使用常见问题
01ISO 17867:2020规定什么内容？
ISO 17867:2020用于小角X射线散射法测定颗粒平均尺寸及分布，技术内容包括样品、设备、实施步骤、数据处理和报告记录。 依据ISO 17867:2020完成仪器几何校准、样品与本底采集、强度校正，并用规定模型计算颗粒尺寸分布
02ISO 17867:2020适用哪些样品？
浓度、厚度和本底明确且适合透射测量的粉末、液体分散体或薄层试样，样品编号与前处理、测量位置和原始数据逐项对应。 试样和设备配置为小角X射线散射仪、准直系统、样品池、探测器、几何校准样和数据处理软件。
03ISO 17867:2020记录哪些数据？
项目记录散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布，并保留采集参数、质量控制结果和数据处理过程。 实施过程为依据ISO 17867:2020完成仪器几何校准、样品与本底采集、强度校正，并用规定模型计算颗粒尺寸分布。
04ISO 17867:2020报告包含哪些内容？
报告包含样品与分散、仪器几何、采集与校正、散射曲线、模型假设、粒径和分布结果，结果表与样品编号、方法条件及原始记录相互对应。 报告将散射矢量、绝对或相对强度、本底、透过率、拟合区间、模型参数、平均尺寸和分布与样品编号、方法条件和质量控制记录对应。