IEC TS 62607-6-23:2025 石墨烯薄膜片电阻、载流子密度与迁移率霍尔法

国际电工委员会发布了IEC TS 62607-6-23:2025《石墨烯薄膜片电阻、载流子密度与迁移率霍尔法》。

• 磁输运、磁阻与霍尔联测按IEC TS 62607-6-23:2025用霍尔法测量石墨烯薄膜方块电阻、载流子密度和迁移率，记录磁场、电流、电压与膜厚。
• 磁输运、磁阻与霍尔联测的适用试样与测量对象
• 该文件规定的实施过程为：在规定电流和磁场下实施换向测量，求方块电阻、载流子密度和迁移率。正反磁场与正反电流组合分别采集，用对称换向消除热电势和接触偏置，并检查重复测量离散性。
• 在规定电流和磁场下实施换向测量，求方块电阻、载流子密度和迁移率。正反磁场与正反电流组合分别采集，用对称换向消除热电势和接触偏置，并检查重复测量离散性。
• 保存电流、磁场、纵向与横向电压、换向读数、方块电阻和霍尔参数。

• 石墨烯薄膜记录基底、膜层、霍尔结构尺寸、电极位置、有效区域和测点；磁输运、磁阻与霍尔联测项目的批次试样、测量位置和对照样

• 保存电流、磁场、纵向与横向电压、换向读数、方块电阻和霍尔参数。
• 报告列出石墨烯与基底、霍尔结构、温度电流磁场及方块电阻、浓度和迁移率。
• 磁输运、磁阻与霍尔联测的原始记录、计算表、曲线、图谱和结果表

使用结果时需要结合的事项

• 磁输运、磁阻与霍尔联测研发与设计；磁输运、磁阻与霍尔联测批次、材料或工艺比较；磁输运、磁阻与霍尔联测质量控制和技术报告