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标准解读

IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)

IEC TS 62607-3-3:2020 Instrument Testing Standard

IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time。

检测内容
环境与可靠性 · 测试条件
适用对象
半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 · 载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
方法标准
检测方法与执行标准
报告交付
保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。 · 报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。
项目受理登记对象、检测目标和报告用途
样品登记登记数量、状态和制样要求
过程质控记录检测条件并审核原始数据
报告交付交付结果、附件和技术说明
01

标准适用范围

检测范围检测内容与适用对象

IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。

01主要技术要求

环境与可靠性

半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。

02适用对象与场景

半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。

载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。

03委托资料与样品

样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途

液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。

04报告与交付内容

标准技术要求 + 检测条件记录

保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。

技术说明

项目技术要点

标准用途

《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》(IEC TS 62607-3-3:2020)由国际电工委员会发布。

适用项目与测量内容

- [半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/steady-state-and-time-resolved-pl/steady-state-and-time-resolved-pl-semiconductor-and-optoelectronic-materials):半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 - [载流子动力学与光泵浦探测](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/terahertz-and-time-resolved-spectroscopy/carrier-dynamics-and-optical-pump-probe):载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 - [时间分辨荧光与寿命](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/terahertz-and-time-resolved-spectroscopy/time-resolved-fluorescence-and-lifetime):时间分辨荧光与寿命中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 - [超快过程、相变与界面动力学](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/terahertz-and-time-resolved-spectroscopy/ultrafast-process-phase-transition-and-interface-dynamics):超快过程、相变与界面动力学中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。

量子点荧光寿命参考

- 在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图,并结合仪器响应拟合荧光衰减。

试样与设备

液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。

数据处理与结果

保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。

报告内容

报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。

02

适用对象与应用场景

IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)适用于以下对象、测试目的和应用条件。

适用产品与技术问题

  • 半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
  • 载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
  • 时间分辨荧光与寿命中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
  • 超快过程、相变与界面动力学中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
  • 半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL的适用试样与测量对象
  • 载流子动力学与光泵浦探测的适用试样与测量对象
  • 时间分辨荧光与寿命的适用试样与测量对象
  • 超快过程、相变与界面动力学的适用试样与测量对象
03

委托资料与样品要求

提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。

  1. 01

    液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。

  2. 02

    半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学项目的批次试样、测量位置和对照样

所需资料与样品资料与样品要求

液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度等。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。

实施安排技术问题与检测方案

IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。

可形成的结果标准技术要求 · 检测条件记录 · 检测报告与原始记录

主要提供保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差、报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。其他数据和附件在委托单中列明。

实施方式标准解读与检测执行支持

技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目,并完成结果复核。

04

主要技术要求

01

环境与可靠性

半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。

02

测试条件

载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。

03

在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图

在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图,并结合仪器响应拟合荧光衰减。

04

保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差

保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。

05

适用材料、器件和测量子项

适用材料、器件和测量子项

06

术语、符号和参数名称

术语、符号和参数名称

05

标准实施要点

现有设备和检测能力IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)列明标准版本、样品条件和检测方法,并提供环境与可靠性、测试条件等实测数据。
01

应用场景

IEC TS 62607-3-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。

02

标准版本

列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。

03

对象与样品

液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。

04

确定执行条件

把环境与可靠性、测试条件落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。

05

完成检测与复核

按规定条件实施测试,复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。

06

交付结果和说明

提供保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差、报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命、标准版本、测试条件和相关记录。

06

版本与关联标准

资料来源标准发布与方法来源
来源资料

IEC TS 62607-3-3:2020《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》由国际电工委员会发布。

标准编号:IEC TS 62607-3-3:2020;标准名称:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC);发布机构:国际电工委员会。

国际电工委员会
07

报告与交付内容

标准技术要求检测条件记录检测报告与原始记录版本与引用文件清单
保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。
报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。
半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学的原始记录、计算表、曲线、图谱和结果表
常见报告用途
半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学研发与设计半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学批次、材料或工艺比较半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学质量控制和技术报告
报告与结果说明

报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。

报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。

样品、批次、工况或标准发生变化时,按新条件开展补充检测。

报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本,相关要求可在需求表中注明。
08

标准应用常见问题

01IEC TS 62607-3-3:2020适用于哪些测量对象?

该文件规定的实施过程为:在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图,并结合仪器响应拟合荧光衰减。 液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。

02IEC TS 62607-3-3:2020如何准备试样和设备?

液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。 TCSPC系统记录脉冲激光、重复频率、探测波段、时间校准、仪器响应函数和样品池。

03IEC TS 62607-3-3:2020怎样实施测量和处理数据?

在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图,并结合仪器响应拟合荧光衰减。 保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。

04IEC TS 62607-3-3:2020报告包含哪些内容?

报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。 保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。