本页说明
《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》（IEC TS 62607-3-3:2020）由国际电工委员会发布。
适用对象与条件
- 半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
- 载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
- 时间分辨荧光与寿命中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
- 超快过程、相变与界面动力学中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
- 半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL的适用试样与测量对象
- 载流子动力学与光泵浦探测的适用试样与测量对象
- 时间分辨荧光与寿命的适用试样与测量对象
- 超快过程、相变与界面动力学的适用试样与测量对象
主要要求与方法
环境与可靠性
半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
测试条件
载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图
在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图，并结合仪器响应拟合荧光衰减。
保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差
保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。
适用材料、器件和测量子项
适用材料、器件和测量子项
术语、符号和参数名称
术语、符号和参数名称
方法、条件与注意事项
标准用途
《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》（IEC TS 62607-3-3:2020）由国际电工委员会发布。 该文件规定的实施过程为：在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图，并结合仪器响应拟合荧光衰减。
适用项目与测量内容
- [半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/steady-state-and-time-resolved-pl/steady-state-and-time-resolved-pl-semiconductor-and-optoelectronic-materials)：半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 - [载流子动力学与光泵浦探测](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/terahertz-and-time-resolved-spectroscopy/carrier-dynamics-and-optical-pump-probe)：载流子动力学与光泵浦探测中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 - [时间分辨荧光与寿命](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/terahertz-and-time-resolved-spectroscopy/time-resolved-fluorescence-and-lifetime)：时间分辨荧光与寿命中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。 - [超快过程、相变与界面动力学](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/terahertz-and-time-resolved-spectroscopy/ultrafast-process-phase-transition-and-interface-dynamics)：超快过程、相变与界面动力学中的稳定液体半导体量子点分散液子项按该技术规范实施TCSPC荧光寿命测量。
量子点荧光寿命参考
- 在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图，并结合仪器响应拟合荧光衰减。
试样与设备
液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。 TCSPC系统记录脉冲激光、重复频率、探测波段、时间校准、仪器响应函数和样品池。
数据处理与结果
保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。
报告内容
报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。
官方来源
国际电工委员会发布了IEC TS 62607-3-3:2020《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》，[查看官方发布记录](https://webstore.iec.ch/en/publication/60226)。
需要结合哪些资料
- 液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性；半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学项目的批次试样、测量位置和对照样
参考依据与来源
IEC TS 62607-3-3:2020《Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)》由国际电工委员会发布。
标准编号：IEC TS 62607-3-3:2020；标准名称：Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)；发布机构：国际电工委员会。
国际电工委员会结果怎样使用
- 保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。
- 报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。
- 半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学的原始记录、计算表、曲线、图谱和结果表
使用结果时需要结合的事项
- 半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学研发与设计；半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学批次、材料或工艺比较；半导体与光电材料稳态与瞬态荧光 PL/TRPL、载流子动力学与光泵浦探测、时间分辨荧光与寿命、超快过程、相变与界面动力学质量控制和技术报告
标准使用常见问题
01IEC TS 62607-3-3:2020适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图，并结合仪器响应拟合荧光衰减。 液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。
02IEC TS 62607-3-3:2020如何准备试样和设备？
液态半导体量子点记录组成、粒径、分散介质、浓度、批次和光稳定性。 TCSPC系统记录脉冲激光、重复频率、探测波段、时间校准、仪器响应函数和样品池。
03IEC TS 62607-3-3:2020怎样实施测量和处理数据？
在稳定分散状态下采集单光子到达时间直方图，并结合仪器响应拟合荧光衰减。 保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。
04IEC TS 62607-3-3:2020报告包含哪些内容？
报告给出量子点和介质、TCSPC设置、衰减曲线、拟合质量及荧光寿命。 保存激发与探测条件、衰减曲线、响应函数、拟合模型、寿命分量和残差。