本页说明
国际电工委员会发布了IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》。
适用对象与条件
- 磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
- 磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率的适用试样与测量对象
- 该文件规定的实施过程为：在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
- 在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
- 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
主要要求与方法
主要检测内容
磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻
在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
尺寸与表面测量
保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
适用材料、器件和测量子项
适用材料、器件和测量子项
术语、符号和参数名称
术语、符号和参数名称
方法、条件与注意事项
标准用途
国际电工委员会发布了IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》。 该文件规定的实施过程为：在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
适用项目与测量内容
- [磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/four-point-probe-and-resistivity/four-point-probe-and-resistivity-magnetic-ferroelectric-and-functional-devic)：磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
柔性薄膜方块电阻参考
- 在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
试样与设备
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。 方块电阻测试记录探针或电极结构、接触方式、电流源、电压测量和弯曲夹具。
数据处理与结果
保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
报告内容
报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻。
官方来源
国际电工委员会发布了IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》，[查看官方发布记录](https://webstore.iec.ch/en/publication/30289)。
需要结合哪些资料
- 柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点；磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率项目的批次试样、测量位置和对照样
参考依据与来源
IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》由国际电工委员会发布。
标准编号：IEC 62951-6:2019；标准名称：Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films；发布机构：国际电工委员会。
国际电工委员会结果怎样使用
- 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
- 报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻。
- 磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率的原始记录、计算表、曲线、图谱和结果表
使用结果时需要结合的事项
- 磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率研发与设计；磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率批次、材料或工艺比较；磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率质量控制和技术报告
标准使用常见问题
01IEC 62951-6:2019适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。 柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。
02IEC 62951-6:2019如何准备试样和设备？
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。 方块电阻测试记录探针或电极结构、接触方式、电流源、电压测量和弯曲夹具。
03IEC 62951-6:2019怎样实施测量和处理数据？
在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
04IEC 62951-6:2019报告包含哪些内容？
报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻。 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。