标准适用范围
IEC 62951-6:2019 Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
主要检测内容
磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率的适用试样与测量对象
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。
标准技术要求 + 检测条件记录
保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
项目技术要点
标准用途
国际电工委员会发布了IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》。
适用项目与测量内容
- [磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/four-point-probe-and-resistivity/four-point-probe-and-resistivity-magnetic-ferroelectric-and-functional-devic)：磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
柔性薄膜方块电阻参考
- 在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
试样与设备
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。
数据处理与结果
保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
报告内容
报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻。
适用对象与应用场景
IEC 62951-6:2019 Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- 磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
- 磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率的适用试样与测量对象
- 该文件规定的实施过程为：在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
- 在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
- 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。
- 02
磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率项目的批次试样、测量位置和对照样
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态等。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
IEC 62951-6:2019 Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻、报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻。其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
主要检测内容
磁性、铁电与功能器件四探针方阻与体积电阻率中的柔性导电薄膜子项按该标准采用四探针法测量方块电阻。
在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻
在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。
尺寸与表面测量
保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
适用材料、器件和测量子项
适用材料、器件和测量子项
术语、符号和参数名称
术语、符号和参数名称
标准实施要点
应用场景
IEC 62951-6:2019 Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。
确定执行条件
把主要检测内容、在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻、报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
IEC 62951-6:2019《Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films》由国际电工委员会发布。
标准编号：IEC 62951-6:2019；标准名称：Semiconductor devices — Flexible and stretchable semiconductor devices — Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films；发布机构：国际电工委员会。
国际电工委员会报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01IEC 62951-6:2019适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。 柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。
02IEC 62951-6:2019如何准备试样和设备？
柔性导电薄膜记录基底、导电层、厚度、弯曲状态、有效区域和测点。 方块电阻测试记录探针或电极结构、接触方式、电流源、电压测量和弯曲夹具。
03IEC 62951-6:2019怎样实施测量和处理数据？
在规定平整或形变状态下测量薄膜电流电压响应并计算方块电阻。 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。
04IEC 62951-6:2019报告包含哪些内容？
报告列出柔性薄膜结构、形变状态、接触配置、测点及方块电阻。 保存形变条件、测点、电流、电压、几何修正和方块电阻。