标准适用范围
YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
主要检测内容
薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率的适用试样与测量对象
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。
标准技术要求 + 检测条件记录
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
项目技术要点
标准用途
YB/T 6166-2024的正式名称为《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》。
适用项目与测量内容
- [薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/four-point-probe-and-resistivity/four-point-probe-and-resistivity-films-coatings-and-transparent-materials)：薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
试样、设备与测量步骤
- 探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
试样与设备
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。
数据处理与结果
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
报告内容
报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果。
适用对象与应用场景
YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- 薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
- 薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率的适用试样与测量对象
- 该文件规定的实施过程为：探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
- 探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
- 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。
- 02
薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率项目的批次试样、测量位置和对照样
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性、报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果。其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
主要检测内容
薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
尺寸与表面测量
探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
试样状态、形状、尺寸和数量
试样状态、形状、尺寸和数量
测点方向、位置和重复次数
测点方向、位置和重复次数
标准实施要点
应用场景
YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。
确定执行条件
把主要检测内容、尺寸与表面测量落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性、报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
YB/T 6166-2024《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》由全国标准信息公共服务平台发布。
标准编号：YB/T 6166-2024；标准名称：石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法；发布机构：全国标准信息公共服务平台。
全国标准信息公共服务平台报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01YB/T 6166-2024适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。 石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。
02YB/T 6166-2024如何准备试样和设备？
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。 四探针系统记录探针间距、针压、电流源、电压表、样品台和位置校准。
03YB/T 6166-2024怎样实施测量和处理数据？
探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
04YB/T 6166-2024报告包含哪些内容？
报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果。 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。