本页说明
YB/T 6166-2024的正式名称为《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》。
适用对象与条件
- 薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
- 薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率的适用试样与测量对象
- 该文件规定的实施过程为：探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
- 探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
- 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
主要要求与方法
主要检测内容
薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
尺寸与表面测量
探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
试样状态、形状、尺寸和数量
试样状态、形状、尺寸和数量
测点方向、位置和重复次数
测点方向、位置和重复次数
方法、条件与注意事项
标准用途
YB/T 6166-2024的正式名称为《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》。 该文件规定的实施过程为：探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
适用项目与测量内容
- [薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率](/services/instrument-testing/optical-electrical-magnetic/four-point-probe-and-resistivity/four-point-probe-and-resistivity-films-coatings-and-transparent-materials)：薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率按YB/T 6166-2024用四探针法测定石墨烯薄膜方块电阻，记录探针布置、测点、电流、电压和均匀性。
试样、设备与测量步骤
- 探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。
试样与设备
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。 四探针系统记录探针间距、针压、电流源、电压表、样品台和位置校准。
数据处理与结果
保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
报告内容
报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果。
官方来源
全国标准信息公共服务平台发布了YB/T 6166-2024《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》，[查看官方发布记录](https://std.samr.gov.cn/hb/search/stdHBDetailedCNF?id=1852139131FEDA70E06397BE0A0A533A)。
需要结合哪些资料
- 石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布；薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率项目的批次试样、测量位置和对照样
参考依据与来源
YB/T 6166-2024《石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法》由全国标准信息公共服务平台发布。
标准编号：YB/T 6166-2024；标准名称：石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法；发布机构：全国标准信息公共服务平台。
全国标准信息公共服务平台结果怎样使用
- 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
- 报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果。
- 薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率的原始记录、计算表、曲线、图谱和结果表
使用结果时需要结合的事项
- 薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率研发与设计；薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率批次、材料或工艺比较；薄膜、涂层与透明材料四探针方阻与体积电阻率质量控制和技术报告
标准使用常见问题
01YB/T 6166-2024适用于哪些测量对象？
该文件规定的实施过程为：探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。 石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。
02YB/T 6166-2024如何准备试样和设备？
石墨烯薄膜记录基底、制备方式、膜层区域、尺寸和四探针测点分布。 四探针系统记录探针间距、针压、电流源、电压表、样品台和位置校准。
03YB/T 6166-2024怎样实施测量和处理数据？
探针在薄膜有效区接触后施加电流并测量电压，按几何修正计算方块电阻。 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。
04YB/T 6166-2024报告包含哪些内容？
报告列出薄膜与基底、探针配置、测点图、各点方块电阻及统计结果。 保存测点坐标、电流、电压、修正因子、方块电阻和面内均匀性。