标准适用范围
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则介绍标准的适用对象、有效版本、执行条件、关键步骤和结果用途。
无损检测
JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》在粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD中的执行重点为：JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
JY/T 0588-2020用于金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
样品、现象、标准版本、已有数据和结果用途
JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
标准技术要求 + 检测条件记录
JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》执行信息与粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD实测结果
项目技术要点
标准说明
JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布。JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。在本站对应粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD，相关项目记录样品、仪器条件、原始数据和结果。
标准专属应用
- JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。 - JY/T 0588-2020用于金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。 - JY/T 0588-2020用于薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。 - JY/T 0588-2020用于电池、催化与能源材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
相关仪器项目
JY/T 0588-2020在本站关联以下仪器项目： - [粉末、矿物与无机材料单晶XRD](/services/instrument-testing/phase-crystal/single-crystal-xrd/single-crystal-xrd-powders-minerals-and-inorganic-materials) - [金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD](/services/instrument-testing/phase-crystal/single-crystal-xrd/single-crystal-xrd-metals-ceramics-and-crystalline-materials) - [薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD](/services/instrument-testing/phase-crystal/single-crystal-xrd/single-crystal-xrd-films-coatings-and-semiconductor-materials) - [电池、催化与能源材料单晶XRD](/services/instrument-testing/phase-crystal/single-crystal-xrd/single-crystal-xrd-battery-catalyst-and-energy-materials)
方法实施与记录
JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》在粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD中的应用重点为：JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。JY/T 0588-2020项目实施记录包含样品与制样信息、实际仪器条件、测量程序、校准核查、原始数据和计算结果。
样品与项目信息
标明JY/T 0588-2020标准编号、样品名称、材质或组成、批次、数量和报告用途；围绕粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD提交待测参数、样品状态、取样位置和已有技术资料；样品包装、标识、保存和运输与单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则对应的项目对象保持一致。样品编号与粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD的测量位置、前处理过程和原始记录保持对应。
数据与质量控制
粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD形成的光谱、色谱、图像、曲线或数值结果按JY/T 0588-2020项目分别保存；单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则相关的仪器状态、校准核查、空白、标准样、平行样和重复结果随原始数据归档。
适用对象与应用场景
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则适用于以下对象、测试目的和应用条件。
适用产品与技术问题
- JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
- JY/T 0588-2020用于金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
- JY/T 0588-2020用于薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
- JY/T 0588-2020用于电池、催化与能源材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
- 粉末、矿物与无机材料单晶XRD项目中的标准应用与数据记录
- 金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD项目中的标准应用与数据记录
- 薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD项目中的标准应用与数据记录
- 电池、催化与能源材料单晶XRD项目中的标准应用与数据记录
委托资料与样品要求
提交标准编号和版本、产品或材料信息、样品状态、判定依据及报告用途。
- 01
JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
- 02
粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD对应的代表性样品、平行样、对照样及项目资料
JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。适用版本、产品要求、现象记录和已有数据用于匹配标准与验证方案。
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则项目列明技术问题、标准版本、样品量、执行条件与结果交付日期。
主要提供JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》执行信息与粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD实测结果、JY/T 0588-2020项目的样品信息、仪器条件和数据记录，其他数据和附件在委托单中列明。
技术问题、适用标准和现有资料对应至检测项目，并完成结果复核。
主要技术要求
无损检测
JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》在粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD中的执行重点为：JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
测试条件
按单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则对应的仪器项目登记样品、制样过程、测量程序和实际采集条件
质量控制
将粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD的仪器型号、校准核查、空白或标准样数据与原始结果关联
形貌与缺陷观察
保存JY/T 0588-2020项目形成的光谱、色谱、图像、曲线、计算过程和重复结果
标准实施要点
应用场景
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则覆盖研发、质量控制、验收、认证支持和争议核查。
标准版本
列明标准编号、年份、修订件、引用文件以及合同或产品规范要求。
对象与样品
JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。
确定执行条件
把无损检测、测试条件落实为设备、环境、步骤、参数、质量控制和记录要求。
完成检测与复核
按规定条件实施测试，复核原始数据、计算过程、异常记录和判定依据。
交付结果和说明
提供JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》执行信息与粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD实测结果、JY/T 0588-2020项目的样品信息、仪器条件和数据记录、标准版本、测试条件和相关记录。
版本与关联标准
JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》由全国标准信息公共服务平台发布。
标准编号：JY/T 0588-2020；标准名称：单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则；发布机构：全国标准信息公共服务平台。
全国标准信息公共服务平台报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。标准应用常见问题
01JY/T 0588-2020主要用于哪些仪器项目？
JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。 JY/T 0588-2020《单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则》在本站关联粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD，各项目保留标准编号、样品、仪器条件、原始数据和结果记录。
02单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则对应哪些样品与记录？
样品与记录围绕粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD及标准专属应用说明组织。 JY/T 0588-2020用于粉末、矿物与无机材料单晶XRD中可获得小分子单晶的样品结构测定。项目资料关联样品名称、批次、取样位置、制样过程、仪器条件、质量控制和原始结果。
03JY/T 0588-2020项目如何记录方法实施？
方法记录以JY/T 0588-2020、单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则和实际关联仪器项目为主线。 粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD分别记录仪器型号、测量程序、采集参数、校准核查、原始图谱或曲线及计算结果。
04JY/T 0588-2020报告包含哪些内容？
报告列出单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则执行信息、关联项目实测结果和质量控制记录。 JY/T 0588-2020报告将粉末、矿物与无机材料单晶XRD、金属、陶瓷与晶体材料单晶XRD、薄膜、涂层与半导体材料单晶XRD、电池、催化与能源材料单晶XRD的样品信息、实际方法、仪器条件、原始数据、重复结果和结论逐项对应。