本页说明
GB/T 15174-2017规定产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，内容包括适用样品、设备配置、实施步骤、原始记录、数据处理和报告字段，并链接国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会标准详情页。
适用对象与条件
- 样机阶段可靠性增长、设计迭代故障率对比和整改效果验证项目
- 各设计阶段样机、试验故障记录、纠正措施和迭代版本数据
- 依据GB/T 15174-2017制定增长目标与阶段，开展试验、失效分析和纠正措施，按迭代数据评价增长趋势
- 累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率
主要要求与方法
依据GB/T 15174-2017制定增长目标与阶段
依据GB/T 15174-2017制定增长目标与阶段，开展试验、失效分析和纠正措施，按迭代数据评价增长趋势
测试方法与条件
累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率
增长目标、试验阶段、故障清单、纠正措施、模型曲线和阶段结果
增长目标、试验阶段、故障清单、纠正措施、模型曲线和阶段结果
方法、条件与注意事项
标准用途
GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》用于产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计。标准在分析服务中对应样机阶段可靠性增长、设计迭代故障率对比和整改效果验证项目，方法记录直接关联样品编号、设备参数、原始数据和报告结果。
关联分析项目
- [样机阶段可靠性增长试验](/services/analysis/reliability-life/reliability-growth-and-weak-link-identification/prototype-reliability-growth-testing)：样机阶段可靠性增长试验采用GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》开展产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，作为主要技术方法记录累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。 - [设计迭代前后故障率对比](/services/analysis/reliability-life/reliability-growth-and-weak-link-identification/pre-post-design-iteration-failure-rate-comparison)：设计迭代前后故障率对比采用GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》开展产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，作为主要技术方法记录累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。 - [薄弱部件、关键界面与敏感参数识别](/services/analysis/reliability-life/reliability-growth-and-weak-link-identification/weak-component-critical-interface-and-sensitive-parameter-identification)：薄弱部件、关键界面与敏感参数识别采用GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》开展产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，作为关联技术方法记录累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。 - [整改闭环与可靠性提升验证](/services/analysis/reliability-life/reliability-growth-and-weak-link-identification/corrective-action-closure-and-reliability-improvement-verification)：整改闭环与可靠性提升验证采用GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》开展产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，作为主要技术方法记录累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。 - [设计FMEA与过程FMEA支持](/services/analysis/reliability-life/fmea-fault-tree-and-risk-priority-analysis/design-and-process-fmea-support)：设计FMEA与过程FMEA支持采用GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》开展产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，作为关联技术方法记录累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。
适用样品
各设计阶段样机、试验故障记录、纠正措施和迭代版本数据。样品登记包含名称、材料或基质、型号、批次、取样位置、数量、状态和保存条件；对比分析将正常样、异常样、来源样和留样分别编号。
设备与配置
可靠性试验设备、故障报告系统、增长模型工具和配置管理系统。设备记录包含主机、关键附件、校准材料、方法程序和数据系统版本，测量条件与原始文件使用同一项目编号。
实施步骤
依据GB/T 15174-2017制定增长目标与阶段，开展试验、失效分析和纠正措施，按迭代数据评价增长趋势。实施顺序写入项目记录，样品前处理、测量位置、重复次数和质量控制样与对应数据逐项关联。
原始记录
原始记录包括累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。数据文件保留采集时间、设备状态、方法参数、样品顺序和处理过程；图谱、曲线、图像和计算表通过样品编号相互对应。
数据处理
累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率用于形成结果表、曲线或图谱。处理记录列出基线、峰识别、校准、拟合、校正、统计或判定步骤，处理前数据与最终结果同时归档。
质量控制
GB/T 15174-2017项目按方法配置空白、校准样、参考样、平行样、加标样或对照样。质量控制记录列出接受结果、异常处理和复测数据，保证样品、原始记录和报告字段一致。
报告内容
增长目标、试验阶段、故障清单、纠正措施、模型曲线和阶段结果。报告同时列出执行标准、样品信息、前处理、仪器和方法条件、质量控制、结果单位以及关联的图谱、曲线或照片。
官方来源
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会发布了GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》，[查看官方标准详情](https://openstd.samr.gov.cn/bzgk/std/newGbInfo?hcno=7D9B2572821D881FE1272DB5C3385B9C)。
需要结合哪些资料
- 各设计阶段样机、试验故障记录、纠正措施和迭代版本数据；与样机阶段可靠性增长试验、设计迭代前后故障率对比、薄弱部件、关键界面与敏感参数识别、整改闭环与可靠性提升验证、设计FMEA与过程FMEA支持对应的代表性样品、对照样和质量控制样
参考依据与来源
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会发布GB/T 15174-2017《可靠性增长大纲》。
标准编号：GB/T 15174-2017；标准名称：可靠性增长大纲；发布机构：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会；状态：现行。
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会标准详情页GB/T 15174-2017规定的技术项目和记录内容。
技术项目：产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计；适用对象：样机阶段可靠性增长、设计迭代故障率对比和整改效果验证项目；数据记录：累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率。
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会标准详情页结果怎样使用
- 累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率
- 增长目标、试验阶段、故障清单、纠正措施、模型曲线和阶段结果
- GB/T 15174-2017官方标准详情页与关联分析项目
使用结果时需要结合的事项
- 样机阶段可靠性增长试验、设计迭代前后故障率对比、薄弱部件、关键界面与敏感参数识别、整改闭环与可靠性提升验证、设计FMEA与过程FMEA支持的方法实施；研发和材料比较；质量数据和技术报告
哪些判断还不能确定
- GB/T 15174-2017标准正文列明适用对象、试样规格和技术步骤
- 结果表同步记录产品限值、判定值和对应产品规范
标准使用常见问题
01GB/T 15174-2017规定什么内容？
GB/T 15174-2017用于产品可靠性增长计划、试验和改进闭环设计，技术内容包括样品、设备、实施步骤、数据处理和报告记录。 依据GB/T 15174-2017制定增长目标与阶段，开展试验、失效分析和纠正措施，按迭代数据评价增长趋势
02GB/T 15174-2017适用哪些样品？
各设计阶段样机、试验故障记录、纠正措施和迭代版本数据，样品编号与前处理、测量位置和原始数据逐项对应。 试样和设备配置为可靠性试验设备、故障报告系统、增长模型工具和配置管理系统。
03GB/T 15174-2017记录哪些数据？
项目记录累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率，并保留采集参数、质量控制结果和数据处理过程。 实施过程为依据GB/T 15174-2017制定增长目标与阶段，开展试验、失效分析和纠正措施，按迭代数据评价增长趋势。
04GB/T 15174-2017报告包含哪些内容？
报告包含增长目标、试验阶段、故障清单、纠正措施、模型曲线和阶段结果，结果表与样品编号、方法条件及原始记录相互对应。 报告将累计试验时间、故障时间、故障模式、纠正措施、模型参数、阶段可靠度和增长率与样品编号、方法条件和质量控制记录对应。