本页说明
GB/T 13221-2004规定纳米粉末小角X射线散射平均粒径测定，涵盖适用样品、设备配置、实施步骤、原始记录、数据处理和报告字段，并链接国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会标准详情页。
适用对象与条件
- 具有纳米尺度结构的粉末材料粒径与散射强度分布表征
- 经代表性取样、分散或装样并适合透射几何测量的纳米粉末试样
- 依据GB/T 13221-2004完成本底和样品散射采集，校正散射矢量与强度并按规定模型计算平均粒径
- 散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径
主要要求与方法
取样与样品处理
依据GB/T 13221-2004完成本底和样品散射采集，校正散射矢量与强度并按规定模型计算平均粒径
质量控制
散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径
样品与装样、仪器几何、采集参数、校正步骤、散射曲线、模型和粒径结果
样品与装样、仪器几何、采集参数、校正步骤、散射曲线、模型和粒径结果
方法、条件与注意事项
标准用途
GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法》用于纳米粉末小角X射线散射平均粒径测定。标准在分析服务中对应具有纳米尺度结构的粉末材料粒径与散射强度分布表征，方法记录直接关联样品编号、设备参数、原始数据和报告结果。
关联分析项目
- [SAXS和DLS粒径分析对比说明](/knowledge/saxs-vs-dls-particle-size)：SAXS和DLS粒径分析对比说明采用GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法》开展纳米粉末小角X射线散射平均粒径测定，作为主要技术方法记录散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径。
适用样品
经代表性取样、分散或装样并适合透射几何测量的纳米粉末试样。样品登记包含名称、材料或基质、型号、批次、取样位置、数量、状态和保存条件；对比分析将正常样、异常样、来源样和留样分别编号。
设备与配置
小角X射线散射仪、样品池、束流准直系统、探测器和数据处理软件。设备记录包含主机、关键附件、校准材料、方法程序和数据系统版本，测量条件与原始文件使用同一项目编号。
实施步骤
依据GB/T 13221-2004完成本底和样品散射采集，校正散射矢量与强度并按规定模型计算平均粒径。实施顺序写入项目记录，样品前处理、测量位置、重复次数和质量控制样与对应数据逐项关联。
原始记录
原始记录包括散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径。数据文件保留采集时间、设备状态、方法参数、样品顺序和处理过程；图谱、曲线、图像和计算表通过样品编号相互对应。
数据处理
散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径用于形成结果表、曲线或图谱。处理记录列出基线、峰识别、校准、拟合、校正、统计或判定步骤，处理前数据与最终结果同时归档。
质量控制
GB/T 13221-2004项目按方法配置空白、校准样、参考样、平行样、加标样或对照样。质量控制记录列出接受结果、异常处理和复测数据，保证样品、原始记录和报告字段一致。
报告内容
样品与装样、仪器几何、采集参数、校正步骤、散射曲线、模型和粒径结果。报告同时列出执行标准、样品信息、前处理、仪器和方法条件、质量控制、结果单位以及关联的图谱、曲线或照片。
官方来源
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会发布了GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法》，[查看官方标准详情](https://std.samr.gov.cn/gb/search/gbDetailed?id=WKnvUCz5Eto%3D&mode=p)。
需要结合哪些资料
- 经代表性取样、分散或装样并适合透射几何测量的纳米粉末试样；SAXS和DLS粒径分析对比说明所涉及的代表性样品、对照样和质量控制样
参考依据与来源
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会发布GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法》。
标准编号：GB/T 13221-2004；标准名称：纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法；发布机构：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会；状态：现行。
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会标准详情页GB/T 13221-2004规定的技术项目和记录内容。
技术项目：纳米粉末小角X射线散射平均粒径测定；适用对象：具有纳米尺度结构的粉末材料粒径与散射强度分布表征；数据记录：散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径。
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会标准详情页结果怎样使用
- 散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径
- 样品与装样、仪器几何、采集参数、校正步骤、散射曲线、模型和粒径结果
- GB/T 13221-2004官方标准详情页与关联分析项目
使用结果时需要结合的事项
- SAXS和DLS粒径分析对比说明的方法实施；研发和材料比较；质量数据和技术报告
哪些判断还不能确定
- 具有纳米尺度结构的粉末材料粒径与散射强度分布表征
- 经代表性取样、分散或装样并适合透射几何测量的纳米粉末试样
标准使用常见问题
01GB/T 13221-2004规定什么内容？
GB/T 13221-2004用于纳米粉末小角X射线散射平均粒径测定，技术内容包括样品、设备、实施步骤、数据处理和报告记录。 依据GB/T 13221-2004完成本底和样品散射采集，校正散射矢量与强度并按规定模型计算平均粒径
02GB/T 13221-2004适用哪些样品？
经代表性取样、分散或装样并适合透射几何测量的纳米粉末试样，样品编号与前处理、测量位置和原始数据逐项对应。 试样和设备配置为小角X射线散射仪、样品池、束流准直系统、探测器和数据处理软件。
03GB/T 13221-2004记录哪些数据？
项目记录散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径，并保留采集参数、质量控制结果和数据处理过程。 实施过程为依据GB/T 13221-2004完成本底和样品散射采集，校正散射矢量与强度并按规定模型计算平均粒径。
04GB/T 13221-2004报告包含哪些内容？
报告包含样品与装样、仪器几何、采集参数、校正步骤、散射曲线、模型和粒径结果，结果表与样品编号、方法条件及原始记录相互对应。 报告将散射矢量、散射强度、本底、几何校准、拟合区间、模型参数和平均粒径与样品编号、方法条件和质量控制记录对应。